例文 (6件) |
"ホットキャリア効果"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 6件
低ホットキャリア効果を具えた半導体構造例文帳に追加
SEMICONDUCTOR STRUCTURE HAVING LOW HOT-CARRIER EFFECT CHARACTERISTIC - 特許庁
集積回路におけるホットキャリア効果のシミュレーション方法および装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR SIMULATING HOT CARRIER EFFECT IN INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
ICにおけるホットキャリア効果を回路レベルでシミュレートする方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method that simulates a hot carrier effect in an IC at a circuit level. - 特許庁
半導体のトランジスタ構造の操作時に「ホットキャリア効果」の程度を低減し、該トランジスタを具えたOLED駆動ICの使用寿命を延長可能な低ホットキャリア効果を具えた半導体構造の提供。例文帳に追加
To provide a semiconductor structure having a "low hot carrier effect characteristic" that can prolong the life time of an OLED driving IC having a transistor, by decreasing the extent of the "hot carrier effect" when the transistor structure of a semiconductor is in operation. - 特許庁
ホットキャリア効果に対する信頼性を向上させると共にソースドレイン拡散層の接合耐圧を低下させることがない半導体装置を実現できるようにする。例文帳に追加
To achieve a semiconductor device that prevents a drop in bonding breakdown voltage of a source-drain diffusion layer while improving reliability to hot carrier effects. - 特許庁
半導体装置1の半導体集積回路内に配設されたトランジスタがホットキャリア効果等で発生する微弱光を基に前記半導体集積回路の特性を評価する評価装置を、発光検出手段としての光電子表示装置3に微弱光伝達媒体11をコネクタ12で接続した構成とする。例文帳に追加
In an evaluation device for evaluating the characteristics of a semiconductor integrated circuit based on the weak light generated due to a hot carrier effect, etc., by a transistor arranged in the semiconductor integrated circuit of a semiconductor device 1, a weak light transmitting medium 11 is connected to an optical electron display device 3 as a light emission detecting means by a connector 12. - 特許庁
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