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"array test"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 7件
TRANSFER SYSTEM AND ARRAY TEST DEVICE INCLUDING TEH SAME例文帳に追加
移送システム及びそれを備えたアレイテスト装置 - 特許庁
PROBER CHANGEABLE FOR TFT-LCD ARRAY TEST例文帳に追加
ＴＦＴ−ＬＣＤアレイテスト用の変更可能なプローバ - 特許庁
To solve the problem that it is difficult to precisely inspect pixels by an array test of an array substrate having a built-in driving circuit since the test is influenced by characteristics difference of analog switches.例文帳に追加
駆動回路を内蔵したアレイ基板のアレイテストでは、アナログスイッチの特性差の影響を受けるために画素の検査を精度良く行うことが難しい。 - 特許庁
To provide a means for evaluating the possibility of a cDNA array test in clinical cases, classifying various carcinomas to several carcinoma subtypes having uniform clinical outcome, and identifying a new latent prognostic factor and a therapeutic target.例文帳に追加
臨床例におけるｃＤＮＡアレイ試験の可能性を評価し、雑多な癌を臨床転帰がさらに一様ないくつかの腫瘍サブタイプに分類し、かつ新たな潜在的予後因子および治療標的を同定する手段を提供する。 - 特許庁
To provide a transfer system capable of reducing the oscillation generated in the transfer system by providing a reaction force transmission member that transmits reaction force generated by the movement of a movable member to a base, and an array test device including the transfer system.例文帳に追加
可動部材の移動によって発生する反力をベースに伝達する反力伝達部材を備えることで、移送システムに発生する振動を低減し得る、移送システム及びそれを備えたアレイテスト装置を提供しようとする。 - 特許庁
To provide an array substrate capable of optimizing test conditions of a self-test functional circuit, (BISAT)(built in self array test), for every substrate by disposing a dummy pixel area in the vicinity of a display area and arranging a defective dummy pixel therein in order to avoid the erroneous determination or the increase of a measurement time required for test in the substrate created according to an NMOS process.例文帳に追加
NMOSプロセスで作成された基板の場合、誤判定または検査に要する測定時間の増大を回避するために、表示領域近傍にダミー画素領域を設けその中に不良ダミー画素を配置することにより、基板毎に自己検査機能回路（BISAT）の検査条件の最適化をし得るアレイ基板の提供を目的とする。 - 特許庁
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