「テスト‐パターン」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN - 特許庁

印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ例文帳に追加

PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA - 特許庁

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, AND TEST PATTERN GENERATION DEVICE - 特許庁

テストパターン編集装置、テストパターン編集プログラム及びテストパターン編集方法例文帳に追加

TEST PATTERN EDITING SYSTEM, TEST PATTERN EDITING PROGRAM, AND TEST PATTERN EDITING METHOD - 特許庁

テストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びテストパターン作成プログラム例文帳に追加

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR GENERATING TEST PATTERN - 特許庁

テストパターン選択装置、テストパターン選択方法、及びテストパターン選択プログラム例文帳に追加

TEST PATTERN SELECTION APPARATUS, TEST PATTERN SELECTION MEANS, AND TEST PATTERN SELECTING PROGRAM - 特許庁

テストパターン出力が行なわれる。例文帳に追加

A test pattern is output. - 特許庁

テストパターン印刷方法例文帳に追加

METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN - 特許庁

テストパターン撮影装置例文帳に追加

TEST PATTERN PHOTOGRAPHING APPARATUS - 特許庁

テストパターン生成装置例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATION APPARATUS - 特許庁

テストチャートおよびテストパターン例文帳に追加

TEST CHART AND TEST PATTERN - 特許庁

テストパターン生成装置例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATION DEVICE - 特許庁

テストパターン発生装置例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATING DEVICE - 特許庁

テストパターン編集装置例文帳に追加

TEST PATTERN EDITING DEVICE - 特許庁

テストパターンの品質評価方法例文帳に追加

QUALITY ASSESSMENT METHOD FOR TEST PATTERN - 特許庁

テストパターン作成装置例文帳に追加

TEST PATTERN PREPARATION DEVICE - 特許庁

テストパターン作成装置例文帳に追加

TEST PATTERN FORMING APPARATUS - 特許庁

印刷装置、及びそのテストパターン例文帳に追加

PRINTING DEVICE AND TEST PATTERN THEREOF - 特許庁

テストパターン生成方法例文帳に追加

TEST PATTERN FORMING METHOD - 特許庁

テストパターン発生手段例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATING MEANS - 特許庁

テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム例文帳に追加

TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD AND PROGRAM - 特許庁

テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法例文帳に追加

TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD - 特許庁

テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置例文帳に追加

PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN - 特許庁

テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD - 特許庁

テストパターン生成方法およびテストパターン生成プログラム例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND TEST PATTERN GENERATING PROGRAM - 特許庁

テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム例文帳に追加

TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM - 特許庁

テストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATION MANAGING SYSTEM AND TEST PATTERN GENERATION MANAGEMENT METHOD - 特許庁

テストパターン、テストパターン作成方法、記録装置及びプログラム例文帳に追加

TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, RECORDER AND PROGRAM - 特許庁

印刷装置、テストパターン及びテストパターン製造方法例文帳に追加

PRINTER, TEST PATTERN, AND METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN - 特許庁

画像記録装置、テストパターン及び画像記録装置用テストパターン例文帳に追加

IMAGE RECORDER, TEST PATTERN AND TEST PATTERN FOR IMAGE RECORDER - 特許庁

テストパターン印刷方法、印刷装置、及びテストパターン例文帳に追加

TEST PATTERN PRINTING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND TEST PATTERN - 特許庁

このテストパターンをテストパターン撮像部６により読み取る。例文帳に追加

The test pattern is read by a test pattern imaging section 6. - 特許庁

テストパターン形成方法、プリンタ、及びテストパターン形成プログラム例文帳に追加

TEST-PATTERN FORMING METHOD, PRINTER AND TEST-PATTERN FORMING PROGRAM - 特許庁

テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL - 特許庁

テストパターン評価装置２３は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１に出力されるテストパターンを編集する。例文帳に追加

The test pattern editing section 23 edits the test patter output to the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions. - 特許庁

第１のテストパターン101と、第２のテストパターン102と、で構成された複数のテストパターン群（A〜E）を形成する。例文帳に追加

A plurality of test pattern groups (A-E) composed of a first test pattern 101 and a second test pattern 102 are formed. - 特許庁

テストパターン（Ａ）を形成するための画像データに基づいて、テストパターンを印刷する（第１のテストパターン出力）。例文帳に追加

Based on image data for forming a test pattern (A), the test pattern is printed (first test pattern output). - 特許庁

テストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラム例文帳に追加

TEST PATTERN PRODUCING APPARATUS, CIRCUIT DESIGN APPARATUS, TEST PATTERN PRODUCING METHOD, CIRCUIT DESIGN METHOD, TEST PATTERN PRODUCING PROGRAM, AND CIRCUIT DESIGN PROGRAM - 特許庁

ＡＴＰＧに係るテストパターン生成方法・装置を用いずに、自動的にテストパターンを生成するテストパターン生成・装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test pattern generation device for automatically generating a test pattern without using a test pattern generation method and device related to an ATPG. - 特許庁

テストパターン生成支援装置、テストパターン生成支援方法、テストパターン生成支援プログラム、および記録媒体例文帳に追加

DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR SUPPORTING GENERATION OF TEST PATTERN - 特許庁

補正テーブルを用いて上記テストパターンの画像データを補正してテストパターンを印刷する（第２のテストパターン出力）。例文帳に追加

By correcting the image data of the test pattern by using the correction table, the test pattern is printed (second test pattern output). - 特許庁

テストパターン選別装置、テストパターン選別方法およびテストパターン選別プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING TEST PATTERN AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN SELECTION PROGRAM STORED THEREON - 特許庁

テストパターン情報作成部４は、全てのテストパターンで検出できる全故障数を少なくとも含んだテストパターン情報を作成する。例文帳に追加

A test pattern information preparation part 4 prepares test pattern information including at least the total number of failures detectable by all the test patterns. - 特許庁

テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATION DEVICE, TEST PATTERN CORRECTION DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁