「ELECTRON BEAM PROBE」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an imaging device (a device according to an aberration correction device) for a charge particle beam device as an electron microscope or the like used for the inspection and measurement of a semiconductor, in which a small deviation beam with a high probe current is formed to improve the resolution and throughput in EDX analysis, WDX analysis, or defect inspection.例文帳に追加

半導体の検査および計測に使用される電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置用の「撮像装置」（収差補正装置に準ずる装置）であって、ＥＤＸ分析、ＷＤＸ分析、欠陥検査等の分解能およびスループットを向上させるために高プローブ電流で分散の小さいビームを形成できるようにする。 - 特許庁

The current measuring apparatus which has a means for measuring the current flowing in the measurement sample 4 when the measurement sample 4 is irradiated with a probe such as the electron beam 12 or the like, is equipped with a switched capacitor current amplifier circuit 8 as an amplifier circuit for amplifying the current flowing in the measurement sample 4.例文帳に追加

電子ビーム１２等のプローブを測定サンプル４に照射したときに、その測定サンプル４に生じる電流を測定する手段を有する電流測定装置であって、測定サンプル４に流れる電流について増幅する増幅回路として、スイッチトキャパシタ電流増幅回路８を有することを特徴とする。 - 特許庁

This resin composition comprises a resin and aluminum hydroxide having ≤100 nm average primary particle diameter, and is characterized by ≤0.1 index Y/X calculated from an average value X of the X-ray intensity and a standard deviation Y when the X-ray intensity of aluminum is measured by an electron probe X-ray microanalyser by scanning the beam on a straight line.例文帳に追加

樹脂と平均一次粒子径１００ｎｍ以下の水酸化アルミニウムとを含有し、かつ電子プローブＸ線マイクロアナライザーによりビームを直線上に走査してアルミニウムのＸ線強度を測定したときのＸ線強度の平均値Ｘおよび標準偏差Ｙから算出される指数Ｙ／Ｘが０．１以下であることを特徴とする樹脂組成物。 - 特許庁