「METHOD OF CHARACTERISTICS」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TESTING METHOD OF MECHANICAL CHARACTERISTICS OF SOLDER例文帳に追加

はんだの機械的特性試験方法 - 特許庁

METHOD OF ESTIMATING LIGHT LOSS CHARACTERISTICS例文帳に追加

光損失特性の推定方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CHARACTERISTICS OF COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加

通信機器の特性試験方法 - 特許庁

METHOD OF COMPUTING DIRECTIONAL CHARACTERISTICS OF ARRAY ANTENNA例文帳に追加

アレーアンテナの指向特性の計算方法 - 特許庁

FUEL CHARACTERISTICS DETERMINATION METHOD OF ENGINE例文帳に追加

エンジン燃料性状判別方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING ANTENNA RECEPTION CHARACTERISTICS例文帳に追加

アンテナ受信特性の測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF MEMBRANE CHARACTERISTICS OF METAL MEMBRANE例文帳に追加

金属薄膜の膜特性の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR EXTRACTING CHARACTERISTICS OF VIDEO SEQUENCE例文帳に追加

ビデオシ—ケンスの特徴抽出方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の特性検査方法 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING MOLECULAR ADSORPTION CHARACTERISTICS例文帳に追加

分子吸着特性の制御方法 - 特許庁

CHARACTERISTICS MEASURING METHOD AND CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の特性測定方法及び特性測定装置 - 特許庁

LINE CHARACTERISTICS EXHIBITING SYSTEM AND METHOD OF EXHIBITING LINE CHARACTERISTICS例文帳に追加

回線特性提示システムおよび回線特性提示方法 - 特許庁

CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE AND CHARACTERISTICS MEASURING METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の特性測定装置及び特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR CHARACTERISTICS INSPECTION OF PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの特性検査方法 - 特許庁

EVALUATING METHOD FOR CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の特性評価方法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの特性制御方法 - 特許庁

METHOD FOR CHANGING CHARACTERISTICS OF VEGETABLE FIBER例文帳に追加

植物繊維の特性を変える方法 - 特許庁

CHIP ANTENNA AND METHOD OF ADJUSTING CHARACTERISTICS THEREOF例文帳に追加

チップアンテナとその特性調整方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF MEMBRANE CHARACTERISTICS OF PERVAPORATION MEMBRANE例文帳に追加

浸透気化膜の膜特性の評価方法 - 特許庁

MODELING METHOD OF RESTORING FORCE CHARACTERISTICS OF STEEL例文帳に追加

鋼材の復元力特性のモデル化方法 - 特許庁

METHOD OF ADJUSTING CHARACTERISTICS OF LITHIUM ION SECONDARY BATTERY例文帳に追加

リチウムイオン二次電池の特性調整方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF COMPOUND PIEZOELECTRIC COMPONENTS例文帳に追加

複合圧電部品の特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING CHARACTERISTICS OF OFDM SIGNAL例文帳に追加

ＯＦＤＭ信号特性の推定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF SWITCHING CHARACTERISTICS例文帳に追加

開閉特性測定方法及び装置 - 特許庁

PRINT DIVIDING METHOD BASED ON CHARACTERISTICS OF INK例文帳に追加

インクの特性に基づいた分版方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR CHARACTERISTICS OF INFRARED MODULE例文帳に追加

赤外線モジュールの特性測定方法 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING CONTACT CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICED例文帳に追加

半導体装置のコンタクト特性評価方法 - 特許庁

METHOD OF MEASUREMENT, METHOD OF IMAGING CHARACTERISTICS ADJUSTMENT, METHOD OF EXPOSURE, AND METHOD OF MANUFACTURING EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

計測方法、結像特性調整方法、露光方法及び露光装置の製造方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF LENS CHARACTERISTICS AND INSPECTION APPARATUS OF LENS CHARACTERISTICS THEREFOR例文帳に追加

レンズ特性検査方法およびそれに用いるレンズ特性検査装置 - 特許庁

CALCULATION METHOD OF OPTICAL CHARACTERISTICS, CALCULATION APPARATUS OF OPTICAL CHARACTERISTICS, CONTROL METHOD OF OPTICAL CHARACTERISTICS, CONTROL APPARATUS OF OPTICAL CHARACTERISTICS, OPTICAL SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD FOR MANUFACTURING OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

光学特性の算出方法、光学特性の算出装置、光学特性の管理方法、光学特性の管理装置、光学系、露光装置及び電子デバイスの製造方法 - 特許庁

IMPROVING METHOD OF CHARACTERISTICS OF DISK AND IMPROVING DEVICE FOR IMPROVING CHARACTERISTICS OF DISK例文帳に追加

ディスクの特性改善方法とこれを実施したディスクの特性改善装置 - 特許庁

DYNAMIC CHARACTERISTICS SIMULATION METHOD OF COMPOSITE MATERIAL例文帳に追加

複合材の力学特性シミュレーション方法 - 特許庁

SHIELD CHARACTERISTICS MEASURING METHOD OF ANTENNA SHIELDED LINE例文帳に追加

アンテナシールド線のシールド特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING MAGNETIC CHARACTERISTICS OF PERMANENT MAGNET例文帳に追加

永久磁石の磁気特性評価方法 - 特許庁

EVALUATING METHOD FOR PRESS FORMING CHARACTERISTICS OF STEEL SHEET例文帳に追加

鋼板のプレス成形性の評価方法 - 特許庁

FREQUENCY CHARACTERISTICS DETERMINATION METHOD OF DIP FILTER例文帳に追加

ディップフィルタの周波数特性決定方法 - 特許庁

METHOD FOR SIMULATING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の特性シミュレーション方法 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING CHARACTERISTICS OF METAL ELECTRODE OF CERAMIC SENSOR ELEMENT例文帳に追加

セラミックセンサ素子の金属電極の特性決定法 - 特許庁

PATTERN FOR CHECKING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF FORMING CHARACTERISTICS CHECK PATTERN例文帳に追加

半導体装置の特性チェックパターン及び特性チェックパターンの形成方法 - 特許庁

DETECTION SENSOR OF CHARACTERISTICS OF LIQUID SPECIMEN, DETECTOR FOR CHARACTERISTICS OF LIQUID SPECIMEN AND METHOD FOR DETECTING CHARACTERISTICS OF LIQUID SPECIMEN例文帳に追加

被検体液特性検知センサ及び被検体液特性検出装置、被検体液特性の検出方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD AND DEVICE OF CORNERING CHARACTERISTICS OF TIRE例文帳に追加

タイヤのコーナリング特性の評価方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF ADJUSTING CHARACTERISTICS OF THE SAME例文帳に追加

半導体装置およびその特性調整方法 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING CARTILAGE CHARACTERISTICS OF REGENERATED CARTILAGE例文帳に追加

再生軟骨の軟骨特性を評価する方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING VI CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハのＶＩ特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING TEMPERATURE CHARACTERISTICS OF CRYSTAL OSCILLATOR例文帳に追加

水晶発振器の温度特性補正方法 - 特許庁