「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(103ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR PRODUCING BULK CRYSTAL AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE例文帳に追加

バルク結晶の製造方法及び試料の測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND INSTRUMENT, AND IMAGING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

測定方法及び装置、並びに、イメージ化方法及び装置 - 特許庁

CALORIFIC VALUE MEASURING METHOD, GASIFIER AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

発熱量計測方法、ガス化装置及びその運転方法 - 特許庁

LIQUID WEIGHT MEASURING METHOD AND LIQUID INJECTION METHOD例文帳に追加

液体重量測定方法および液体注入方法 - 特許庁

GRAPHIC MEASURING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDED THE METHOD例文帳に追加

図形測定方法および該方法を記録した記録媒体 - 特許庁

FILM THICKNESS MEASURING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

膜厚測定方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

ELECTROSTATIC BREAKDOWN VOLTAGE MEASURING METHOD, AND IMAGE PANEL DESIGN METHOD例文帳に追加

静電耐圧測定方法、および画像パネル設計方法 - 特許庁

GAS QUALITY CONTROL METHOD AND MEASURING METHOD OF GAS COMPONENTS例文帳に追加

ガスの品質管理方法並びにガス成分の測定方法 - 特許庁

DIMENSION MEASURING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

寸法測定方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

FLARE MEASURING METHOD, EXPOSURE METHOD, AND MASK FOR FLARE MEASUREMENT例文帳に追加

フレア計測方法、露光方法、及びフレア計測用のマスク - 特許庁

METHOD FOR MEASURING POSITION GAP, EXPOSURE METHOD AND TEST PATTERN例文帳に追加

位置ずれ測定方法および露光方法ならびにテストパターン - 特許庁

METHOD OF MEASURING OPTICAL SPOT AND METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL PICKUP例文帳に追加

光スポット測定方法及び光ピックアップ製造方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING TEMPERATURE AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

温度測定方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROJECTION ALIGNER, POSITION MEASURING METHOD, AND PROJECTION EXPOSURE METHOD例文帳に追加

投影露光装置、位置測定方法及び投影露光方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING PHYSICAL PROPERTY VALUE USING DICHROMIC LASER INDUCED FLUORESCENCE METHOD例文帳に追加

二色レーザ誘起蛍光法を用いた物性値計測法 - 特許庁

INTERFEROMETER, MEASURING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL ELEMENT例文帳に追加

干渉計、測定方法及び光学素子の製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR CARBON DIOXIDE GAS AND GAS DETECTING METHOD例文帳に追加

二酸化炭素ガスの測定方法、および、ガス検出方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF CREEP LIFE AND MEASURING METHOD OF HARDNESS例文帳に追加

クリープ寿命の評価方法及び硬さの測定方法 - 特許庁

RESISTIVITY MEASURING METHOD BY FOUR PROBE METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

４探針法による抵抗率測定方法及びその装置 - 特許庁

TEMPERATURE MEASURING METHOD AND METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

温度測定方法およびデバイスの製造方法、製造装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PHASE DIFFERENCE AND METHOD FOR MANUFACTURING PHASE SHIFT MASK例文帳に追加

位相差測定方法及び位相シフトマスク製造方法 - 特許庁

ABERRATION MEASURING METHOD, EXPOSURE SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

収差計測方法、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

MASK FOR FLARE MEASUREMENT, METHOD OF MEASURING FLARE, AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

フレア計測用マスク、フレア計測方法、及び露光方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD BY COINCIDENCE METHOD OF LOW COHERENCE INTERFERENCE例文帳に追加

低コヒーレンス干渉の合致法による長さ測定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR RECORDING/REPRODUCING AND METHOD FOR MEASURING FOCUSING BIAS例文帳に追加

記録／再生装置及び方法、フォーカスバイアス測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING TIMING JITTER AND REPRODUCING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

タイミングジッター測定方式及びそれを用いた再生方式 - 特許庁

COATING METHOD FOR REAGENT IN COMPARTMENT MEASURING METHOD BY ELECTROPHORESIS例文帳に追加

電気泳動画分測定方法における試薬の塗布方法 - 特許庁

POSITION MEASURING METHOD AND POSITION CONTROL METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップの位置測定方法及び位置制御方法 - 特許庁

MEASURING APPARATUS AND METHOD AND ANALYZING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

計測装置および方法、ならびに解析装置および方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD AND THREE-DIMENSIONAL POSITION MEASURING METHOD FOR ROBOT例文帳に追加

ロボットのキャリブレーション方法および三次元位置計測方法 - 特許庁

COULOMB COUNTER, OFFSET VALUE MEASURING METHOD, AND OFFSET CORRECTION METHOD例文帳に追加

クーロンカウンタ、オフセット値の測定方法及びオフセット補正方法 - 特許庁

ELECTRODEPOSITION CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, EVALUATION METHOD AND MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

電着特性測定装置と評価方法及び管理方法 - 特許庁

DISTORTION MEASURING METHOD AND LUMINANCE CORRECTION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の歪み測定方法及び輝度補正方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ENZYME ACTIVITY AND METHOD FOR EVALUATING ENZYME INHIBITOR例文帳に追加

酵素活性測定法及び酵素阻害剤の評価方法 - 特許庁

DEFORMATION QUANTITY MEASURING APPARATUS, ADJUSTING METHOD AND JUDGING METHOD例文帳に追加

変形量計測装置、調整方法及び判定方法 - 特許庁

COLOR MEASURING METHOD, COLOR ADJUSTMENT METHOD USING COLOR MEASURING METHOD, COLOR IMAGE FORMATION METHOD, AND COLOR IMAGE FORMATION SYSTEM例文帳に追加

色測定方法、その色測定方法を用いた色調整方法、カラー画像形成方法及びカラー画像形成システム - 特許庁

POWDER TRANSPORT METHOD AND POWDER FLOW RATE MEASURING METHOD例文帳に追加

粉体輸送方法および粉体流量計測方法 - 特許庁

CROSS TALK MEASURING METHOD AND DEVICE FOR EXECUTING METHOD例文帳に追加

クロストーク測定方法およびこの方法を実施する装置 - 特許庁

WALL THICKNESS MEASURING METHOD AND STEEL PIPE MANUFACTURING METHOD USING THIS METHOD例文帳に追加

肉厚測定方法及びこの方法を用いた鋼管の製造方法 - 特許庁

MASK, METHOD FOR MEASURING IMAGING PROPERTY, EXPOSURE METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

マスク、結像特性計測方法、露光方法、及びデバイス製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND EXPOSING METHOD, ALIGNER, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

計測方法及び露光方法、露光装置、並びにデバイス製造方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING METHOD, MEASURING MARK, AND MASK例文帳に追加

計測方法、露光方法、デバイス製造方法、計測用マーク、及びマスク - 特許庁

To provide a deformation measuring device, a deformation measuring method, and a deformation measuring program measuring deformation of a measuring object highly accurately in real time.例文帳に追加

リアルタイムで高精度に測定対象物の変形量を測定可能にする変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide tool extrusion amount measuring instrument and tool extrusion amount measuring method for measuring tool measuring amount in a short period of time with high measuring accuracy.例文帳に追加

工具押し出し量の測定が短時間で行なえ、かつ測定精度の高い工具押し出し量測定器及び工具押し出し量測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a diameter measuring method or a diameter measuring device capable of performing easily in a short time diameter measurement of a measuring object by simplifying a measuring procedure.例文帳に追加

計測手順を簡略化して被計測体の直径計測を短時間に且つ手軽に行うことを可能とする - 特許庁