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OVERRANGEを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
To provide a photon counting X-ray detector with overrange logic control.例文帳に追加
オーバーレンジ論理制御を伴う光子計数Ｘ線検出器を提供する。 - 特許庁
To perform waveform measurements at a high accuracy range in an IC tester, without the occurrence of overrange.例文帳に追加
ＩＣテスタにおいて、オーバーレンジすることなく高精度レンジで波形測定を行なえるようにする。 - 特許庁
This makes it possible to prevent an overrange due to an induction voltage or incapable measurement from occurring when performing continuity test or electrical resistance measurement on an apparatus by using this digital tester.例文帳に追加
これにより、ディジタルテスタによる機器の導通テストや電気抵抗測定の際に、誘導電圧のためにオーバーレンジになったり、測定不能になったりするのを防止できる。 - 特許庁
To provide an IC tester capable of impressing a proper off-set voltage without setting the off-set voltage by a test program, and capable of suppressing an overrange.例文帳に追加
オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁
To provide a detecting mechanism of an external environment, displacing a holding member with small force without causing overrange of a sensor even in the case of holding a comparatively heavy load.例文帳に追加
比較的重い荷物などを持った場合であってもセンサの振り切れを生じずに、しかも、小さな力で保持部材を変位させることのできる外部環境の検出機構を提供する。 - 特許庁
To provide a solid-state imaging device with built-in two-stage integrating A/D converter, which can reduce discontinuity of input/output characteristics in the vicinity of a boundary of two adjacent subranges in the overrange A/D conversion.例文帳に追加
２ステージ積分型ＡＤ変換器を搭載する固体撮像装置において、オーバーレンジのアナログデジタル変換において、隣接する２つのサブレンジの境界付近における入出力特性の不連続性を低減することができる固体撮像装置を提供する。 - 特許庁
To provide a data processor for mass spectrometric analysis capable of precluding an overrange in an A/D converter from being generated in all the TOF scans, even in such an ion signal as a signal level varies in accompaniment to the lapse of measuring time, capable of providing high reproducibility of the ion signal by executing measurement in a high dynamic range, and capable of obtaining efficiently a desired mass spectrum in a short time.例文帳に追加
測定時間の経過に伴って信号レベルが変化するようなイオン信号に対しても、全てのＴＯＦスキャンにおいて、Ａ／Ｄ変換器でのオーバーレンジを発生させず、かつ高いダイナミックレンジでの測定を行うことで、イオン信号の再現性が高く、かつ所望のマススペクトルを効率良く短時間で得るための質量分析用データ処理装置を提供する。 - 特許庁
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