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STM tipの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6件
Single molecules were manipulated with an STM tip. 例文帳に追加
単分子がSTMチップで(巧みに)操作された。 - 科学技術論文動詞集
In an STM, a tungsten tip approaches a conductive surface under vacuum. 例文帳に追加
STM(走査トンネル顕微鏡)では、タングステンチップが真空下で導電性の(試料)表面に近づく。 - 科学技術論文動詞集
A needle-like exclusive probe is formed in the tip of the extraction electrode for the SAP by a CVD microworking technique using a converged ion beam or the like, in order to enhance precision as the probe for the STM.例文帳に追加
SAPの引出電極の先端はSTMの探針としての精度を向上させるために集束イオンビームを用いたCVD微細加工技術等により針状の専用プローブを形成する。 - 特許庁
Two STM (scanning tunneling microscope) probes 8 are used, brought close to each other, and adjusted to locations at the same height for the tip parts of the probes and at the shortest distance 15 from each other through which a tunneling current does not pass.例文帳に追加
2本のSTM探針8を使い、探針同士を近づけ、探針の先端部分は同じ高さでなおかつトンネル電流が流れないぎりぎりの距離15に位置を調整をする。 - 特許庁
To obtain a means for manufacturing, with an improved yield, a metal probe that is optimum for a probe for STM or the like that has a tip radius of curvature of approximately 10 nm or is smaller and has a smooth surface.例文帳に追加
電解研磨により先端曲率半径10nm程度またはより小さく表面がなめらかなSTM用探針等に最適な金属探針を歩留まりよく製造する手段の開発。 - 特許庁
When the analyzing area for the scanning atom probe(SAP) is selected, the tip of the extraction electrode for the SAP is used as a probe for a scanning tunneling microscope(STM), and the shape of the sample is plotted thereby, to select the analyzing area.例文帳に追加
走査型アトムプローブ(SAP)の分析領域を選定する際、該SAPの引出電極の先端を走査型トンネル顕微鏡(STM)の探針として用い、試料の表面形状を描き出させて分析領域を選定する。 - 特許庁
| 例文 |
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