Testを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 39567件
WITHSTAND VOLTAGE TEST DEVICE例文帳に追加
耐電圧試験装置 - 特許庁
ARITHMETIC TEST TEACHING MATERIAL例文帳に追加
算数テスト教材 - 特許庁
DOMINANT EYE TEST SYSTEM例文帳に追加
優位眼検査装置 - 特許庁
TEST DEVICE FOR GLASS BOTTLE例文帳に追加
ガラスボトルの検査機 - 特許庁
TEST METHOD, TEST DEVICE, AND TEST PROGRAM FOR CONTROL PROGRAM例文帳に追加
制御プログラムの検査方法及び検査装置及び検査プログラム - 特許庁
TEST METHOD, TEST APPARATUS AND METHOD FOR CONSTRUCTING TEST APPARATUS例文帳に追加
テスト方法およびテスト装置並びにテスト装置の構築方法 - 特許庁
PROGRAM TEST PROGRAM, PROGRAM TEST METHOD, AND PROGRAM TEST DEVICE例文帳に追加
番組考査プログラム、番組考査方法および番組考査装置 - 特許庁
PROTOCOL TEST DEVICE, PROTOCOL TEST METHOD, AND PROTOCOL TEST PROGRAM例文帳に追加
プロトコル試験装置、プロトコル試験方法およびプロトコル試験プログラム - 特許庁
TEST DEVICE, TEST TIMING INFORMATION GENERATING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加
試験装置、試験タイミング情報生成装置および試験方法 - 特許庁
SOCKET FOR PACKAGE TEST, RUBBER FOR TEST SOCKET, AND GUIDE FOR TEST SOCKET例文帳に追加
パッケージテスト用ソケット、テストソケット用ラバー及びテストソケット用ガイド - 特許庁
TEST DEVICE, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置、テストシステム、及びテスト方法 - 特許庁
Called when the test case test has been executed, regardless of the outcome.例文帳に追加
testの実行直後に、テスト結果に関わらず呼び出されます。 - Python
To improve the efficiency of test and the accuracy of test of each test item in a start/stop test, a governor test, an indicial response test and an automatic synchronous test.例文帳に追加
始動・停止試験、調速機試験、インディシャル応答試験及び自動同期試験の各試験項目の試験効率と計測精度の向上を図る。 - 特許庁
INDENTATION TEST METHOD AND INDENTATION TEST MACHINE例文帳に追加
押込み試験方法及び押込み試験機 - 特許庁
TEST CONTROLLER AND TEST CONTROL METHOD例文帳に追加
試験制御装置及び試験制御方法 - 特許庁
TEST SUPPORT DEVICE AND TEST SUPPORT METHOD例文帳に追加
試験支援装置および試験支援方法 - 特許庁
WATER PENETRATION TEST MACHINE AND WATER PENETRATION TEST METHOD例文帳に追加
透水試験機および透水試験方法 - 特許庁
TEST DATA GENERATION DEVICE例文帳に追加
テストデータ生成装置 - 特許庁
TRANSMISSION PATH TEST CIRCUIT例文帳に追加
伝送路試験回路 - 特許庁
TRANSMITTER FOR TEST PIECE例文帳に追加
テストピース用送信器 - 特許庁
USER TEST ESTIMATION CHART例文帳に追加
ユーザテスト評価チャート - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT例文帳に追加
半導体試験装置 - 特許庁
PROBE CARD FOR HIGH TEMPERATURE TEST AND TEST EQUIPMENT例文帳に追加
高温テスト用プローブカード及びテスト装置 - 特許庁
BOUNDARY SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加
バウンダリスキャンテスト回路 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加
半導体検査装置 - 特許庁
PERMEABILITY TEST APPARATUS AND PERMEABILITY TEST METHOD例文帳に追加
透水試験装置及び透水試験方法 - 特許庁
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