Testerを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 3106件
LEAK TESTER AND LEAK TESTING METHOD FOR ALUMINUM WHEEL例文帳に追加
アルミホイールリークテスト方法および装置 - 特許庁
AUTOMATIC TESTER OF SHEET METAL SURFACE例文帳に追加
板状金属表面自動検査装置 - 特許庁
WIRING BOARD FOR ELECTRONIC COMPONENT TESTER例文帳に追加
電子部品検査装置用配線基板 - 特許庁
TESTER FOR MULTI-WAVELENGTH LASER DIODE PACKAGE例文帳に追加
マルチ波長ＬＤパッケージの試験装置 - 特許庁
The device tester acquires the calibration parameters through implementation of measurement with the device tester.例文帳に追加
デバイステスターは、デバイステスターによる測定を実行して校正パラメータを取得する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER例文帳に追加
半導体集積回路装置の検査装置 - 特許庁
SELF-DIAGNOSITIC CIRCUIT AND SYSTEM LSI TESTER例文帳に追加
自己診断回路及びシステムＬＳＩテスタ - 特許庁
This tester unit 1 has a tester main body 10 built-in with the tester, the repeating substrate storage unit 20 fixed to the tester main body 10, and the light source 30.例文帳に追加
テスタを内蔵するテスタ本体１０と、そのテスタ本体１０に固定された中継基板収容ユニット２０と、光源３０とを有するテスタ装置１である。 - 特許庁
TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のためのテスト装置 - 特許庁
PROBE CARD, TESTER HAVING PROBE CARD AND A TESTING METHOD USING TESTER例文帳に追加
プローブカード、そのプローブカードを有するテスト装置及び、そのテスト装置を用いたテスト方法 - 特許庁
CIRCUIT TESTER AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
回路試験装置および回路試験方法 - 特許庁
CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTER例文帳に追加
半導体試験装置のキャリブレーション方法 - 特許庁
REFRACTORY TESTING METHOD AND REFRACTORY TESTER例文帳に追加
耐火物の試験方法およびその装置 - 特許庁
DROP TESTING METHOD AND DROP TESTER例文帳に追加
落下試験方法及び落下試験装置 - 特許庁
To provide a system for selecting a cosmetic tester by which, when a cosmetic tester is tried, another cosmetic tester that matches the cosmetic tester is conveniently shown to a customer to satisfy the customer.例文帳に追加
化粧品テスターの試用時に、この化粧品テスターと調和する他の化粧品テスターを手軽に顧客に示し、顧客の満足度を得るための化粧品テスター選択システム。 - 特許庁
APPARATUS FOR FORMING INDENTATION AND HARDNESS TESTER例文帳に追加
圧痕形成用装置および硬さ試験機 - 特許庁
INTERPOSER, PROBE CARD AND CIRCUIT TESTER例文帳に追加
インターポーザ、プローブカード及び回路試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTER INSPECTION, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR INSPECTION OF TESTER例文帳に追加
テスタ検査用デバイス，半導体集積回路装置およびテスタを検査する方法 - 特許庁
ARCHITECTURE FOR RF SIGNAL AUTOMATIC TESTER例文帳に追加
ＲＦ信号自動試験装置のアーキテクチャ - 特許庁
NONCONTACT EXTENSIOMETER WITH MATERIAL TESTER FUNCTION例文帳に追加
材料試験機能付き非接触伸び計 - 特許庁
IMAGE SENSOR TESTER AND SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
イメージセンサテスタおよび半導体検査装置 - 特許庁
OPTICAL TRANSMISSION DEVICE AND OPTICAL PULSE TESTER例文帳に追加
光伝送装置及び光パルス試験機 - 特許庁
TEMPERATURE TESTER AND TEMPERATURE TEST METHOD例文帳に追加
温度試験装置及び温度試験方法 - 特許庁
OPTICAL PULSE GENERATOR AND OPTICAL PULSE TESTER例文帳に追加
光パルス発生器及び光パルス試験器 - 特許庁
DETERIORATION TESTER AND DETERIORATION TESTING METHOD例文帳に追加
劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁
Each tester module has plural tester boards composed as event base testers.例文帳に追加
各テスタモジュールはイベントベースのテスタとして構成される複数のテスタボードを有している。 - 特許庁
IC TEST METHOD AND IC TESTER例文帳に追加
ＩＣ試験方法及びＩＣ試験装置 - 特許庁
ANTENNA TESTER AND METHOD FOR TESTING ANTENNA例文帳に追加
アンテナ試験装置及びアンテナ試験方法 - 特許庁
STIRLING REFRIGERATING MACHINE AND HEAT SHOCK TESTER例文帳に追加
スターリング冷凍機及びヒートショック試験機 - 特許庁
INDENTATION TESTER AND INDENTATION TESTING METHOD例文帳に追加
押込み試験機及び押込み試験方法 - 特許庁
LEAD COMPONENT TESTER FOR SURFACE MOUNTING APPARATUS例文帳に追加
表面実装機のリード部品検査装置 - 特許庁
SWITCHING CIRCUIT AND IC TESTER USING THE SAME例文帳に追加
スイッチ回路及びこれを用いたＩＣテスタ - 特許庁
RELAY CONTROLLER AND SEMICONDUCTOR TESTER例文帳に追加
リレー制御装置及び半導体試験装置 - 特許庁
HARDNESS TESTER AND AUTOMATIC HARDNESS TESTING METHOD例文帳に追加
硬さ試験機及び自動硬さ試験方法 - 特許庁
TOOL TESTER AND TOOL TESTING METHOD例文帳に追加
治具試験装置及び治具試験方法 - 特許庁
PROTOCOL TESTER AND PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加
プロトコル試験装置及びプロトコル試験方法 - 特許庁
DYNAMIC BALANCE TESTER AND DAMAGE DETECTION METHOD FOR VIBRATION TRANSMISSION MEMBER OF DYNAMIC BALANCE TESTER例文帳に追加
動釣合い試験機および動釣合い試験機の振動伝達部材の破損検知方法 - 特許庁
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