「Unlit Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

This effect for the unlit defect can be obtained regardless of the number thereof, and therefore, a high yield can be expected, and there is no need for inspection/repair of the unlit defect, and a manufacturing cost can be reduced.例文帳に追加

滅点数の多少に関わらずその効果が得られるので高歩留まりが期待でき、滅点の検査・リペアが不要であり、製造コストを低減できる。 - 特許庁

As a whole of a pixel array section 102, the unlit defect position is not fixed and can fluctuate, and is, therefore, averaged in time and space and the visibility of the unlit defect can be more reduced.例文帳に追加

画素アレイ部１０２全体では、滅点位置が固定されず変動し得るので、時間的かつ空間的に平均化され、滅点の視認性を一層低下させることができる。 - 特許庁

Even if there is the organic EL element 127 becoming the unlit defect during ON of the SW transistor 128_k, the divided pixels used for light emission are used by time sharing and therefore, the fact that the one pixel becomes the unlit defect completely does not substantially occur.例文帳に追加

ＳＷトランジスタ１２８_kのオン時に滅点となる有機ＥＬ素子１２７があっても、発光に使用される分割画素が時分割で使用されるため、実体的には１画素が完全に滅点となることはない。 - 特許庁

The SW transistor 128_k is driven by time sharing in a light emission period without performing inspection or repair of the unlit defect.例文帳に追加

滅点の検査やリペアをせずに、発光期間において、ＳＷトランジスタ１２８_kを時分割で駆動する。 - 特許庁

In the case the defective pixel is found out with dynamic operating inspection or the like, the laser irradiation is performed through the gouged out parts 11, 21 related to the defective pixel from the display surface side so as to short-circuit a source electrode 41 and a gate electrode 42 and the defective pixel turns into an unlit defect.例文帳に追加

点灯検査等により欠陥画素が発見された場合、該欠陥画素に係る抜き部１１，２１を通じて、表示面側からレーザー照射を行うことにより、ソース電極４１とゲート電極４２とを短絡させて、滅点化を行う。 - 特許庁