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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > X-Ray Spectrometerの意味・解説 > X-Ray Spectrometerに関連した英語例文

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X-Ray Spectrometerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 61



例文

To provide a fluorescent X-ray spectrometer quickly accurately analyzing the thickness or the composition of a thin film in each layer of a multi-layer thin film sample.例文帳に追加

多層薄膜試料について各層の薄膜の厚さまたは組成を分析する蛍光X線分析装置において、十分に迅速で正確な分析ができる装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a fluorescence X-ray spectrometer provided with a collimator capable of further enhancing an S/N ratio as compared with a conventional one, without lowering detection sensitivity and superior in processability.例文帳に追加

検出感度を低下させることなく、従来よりもさらにS/N比を向上させることができ、かつ加工性に優れたコリメータを設けた蛍光X線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray fluorescence spectrometer capable of carrying out a sufficiently accurate analysis of coating weights and compositions of a plated coating on an alloyed hot-dip galvanized steel plate having the compositions nonuniform in the depth direction.例文帳に追加

合金化溶融亜鉛めっき鋼板における組成が深さ方向に不均一なめっき被膜の付着量および組成を十分正確に分析できる蛍光X線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection X-ray photoelectron spectrometer capable of distinctively measuring the photoelectron signal caused by the surface of a sample and the photoelectron signal caused by the deep position of the sample in one sample measurement.例文帳に追加

一回の試料測定で試料表面に起因する光電子信号と試料の深い位置に起因する光電子信号とを区別して測定することの可能な全反射X線光電子分光装置を提供する。 - 特許庁

例文

To cope with not only an EPMA but also other X-ray analyzer such as a scanning microscope, by arranging a spectrometer using a curved analyzing crystal of high wavelength resolution distantly from a sample.例文帳に追加

波長分解能の高い湾曲分光結晶を用いた分光器を試料から離して配置できるようにすることで、EPMAだけでなく走査顕微鏡等の他のX線分析装置にも対応可能とする。 - 特許庁


例文

To provide a device facilitating verification whether an analysis condition of a registered background measurement angle position and the like are suitable for a sample to be analyzed or not in a wavelength-dispersive scanning type fluorescent X-ray spectrometer.例文帳に追加

波長分散型で走査型の蛍光X線分析装置において、登録したバックグラウンドの測定角度位置等の分析条件が、分析対象の試料に適切か否かの検証を容易にできる装置を提供する。 - 特許庁

In this fluorescence X-ray spectrometer, the plurality of bearing mechanisms is provided with a prescribed interval in an outer circumference of the rotary stage, and each of the bearing mechanisms is compactified to compactify constitution for a bearing for rotation-supporting the rotary stage.例文帳に追加

蛍光X線分析装置において、回転ステージの外周に所定間隔を開けて複数の軸受け機構を設けた構成とし、これにより各軸受け機構を小型なものとし、回転ステージを回転支持するす軸受けのための構成を小型化する。 - 特許庁

The each scrap silicon is analyzed nondestructively by an energy-dispersive fluorescence X-ray spectrometer (EDX), the presence of the specified addition element is determined based on an obtained spectral data, and the silicon scraps containing the specified addition element are selected based on a determination result therein.例文帳に追加

各スクラップシリコンをエネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX)による非破壊分析にかけ、得られたスペクトルデータから前記特定の添加元素を含んでいるか否かを判定し、この判定結果に基づいて特定の添加元素を含むスクラップシリコンを選別する。 - 特許庁

To easily and quickly display a graph easy for an operator to understand a distribution condition, in a fluorescence X-ray spectrometer for finding a distribution for a deposit amount of a component and the like contained in a band-like sample comprising plural layers and conveyed along a longitudinal direction.例文帳に追加

複数の層からなり長手方向に搬送される帯状の試料に含まれる成分の付着量等の分布を求める蛍光X線分析装置において、操作者にとって分布状況が理解しやすいグラフ表示を簡単かつ迅速に行える装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method for identifying a rubber product for correcting a detection error of a fluorescence X-ray spectrometer caused by a shape in an O ring or the like by using a harmless element for identification not included in the rubber product, to provide a rubber product, and to provide a rubber product identifying device.例文帳に追加

本発明は、ゴム製品に含まれることが無く、無害な識別用元素を利用してOリング等の形状に起因する蛍光X線分析装置の検出誤差を補うことが出来るゴム製品の識別方法、ゴム製品、並びにゴム製品識別装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

例文

This surface analyzer is provided with a cantilever having a conductive probe opposed to a sample, an electron beam source for emitting an electron beam to a probe portion of the cantilever, and a spectrometer for collecting a charged particle generated from the sample by the X-ray generated from the probe, and for dispersing it spectrally, and the electron beam is emitted toward a probe opposite face of the cantilever.例文帳に追加

試料に対向する導電性探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーの前記探針部分に電子線を照射する電子線源と、前記探針から発生したX線により前記試料から発生した荷電粒子を捕集して分光する分光器を備えた表面分析装置であって、前記電子線が前記カンチレバーの探針反対面に照射する表面分析装置。 - 特許庁




  
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