「allowance test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test rate is corrected and shortened corresponding to this calculated degree of the allowance, and thereafter the function test for the semiconductor device is done using the test rate normally corrected.例文帳に追加

この算出された余裕度に応じてテストレートを修正、短縮化し、その後、通常通り前記修正されたテストレートを用いて半導体デバイスのファンクションテストを行なう。 - 特許庁

In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.例文帳に追加

本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.例文帳に追加

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁

To realize a tester simulation device and a test simulation method that obtain a degree of allowance of determination timing of an expected value in a short time.例文帳に追加

期待値判定タイミングの余裕度を短時間に得られるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

A test program storage part 24 stores a program realizing a plurality of test items, and a condition setting part 10 sets allowance information allowing omission of at least one test item to a plurality of tested circuits included in a lot.例文帳に追加

試験プログラム記憶部２４は複数の試験項目を実現するプログラムを記憶し、条件設定部１０はロット内に含まれる複数の被試験回路に対して試験項目の少なくとも１つの省略を許可する許可情報を設定する。 - 特許庁