| 意味 | 例文 |
analysis methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8804件
ANALYSIS METER, ITS REMOTE CONTROL OPERATION SYSTEM, AND REMOTE MAINTENANCE METHOD例文帳に追加
分析計ならびに分析計の遠隔監視操作システムおよび遠隔保守方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE PREPARATION FOR MICROBIOLOGICAL ANALYSIS OF LIQUID例文帳に追加
液体の微生物分析用の試料を調製するための装置及び方法 - 特許庁
DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR DOCUMENT INFORMATION ANALYSIS例文帳に追加
文書情報分析装置、文書情報分析方法、文書情報分析プログラム - 特許庁
GLOW-DISCHARGE EMISSION SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND GLOW-DISCHARGE EMISSION SPECTROPHOTOMETER例文帳に追加
グロー放電発光分光分析方法及びグロー放電発光分光分析装置 - 特許庁
USAGE PATTERN ANALYSIS METHOD FOR DATA TRANSFER RESOURCE AND USAGE PATTERN ANALYZER例文帳に追加
データ転送資源の使用状況解析方法及び使用状況解析装置 - 特許庁
BIOLOGICAL FUNCTION ANALYSIS SYSTEM, DEVICE AND METHOD例文帳に追加
生体機能解析システム、生体機能解析装置、および生体機能解析方法 - 特許庁
METHOD AND CIRCUIT FOR LINEAR PREDICTIVE ANALYSIS HAVING PITCH COMPONENT SUPPRESSED例文帳に追加
ピッチ成分を抑圧した線形予測分析方法及び線形予測分析回路 - 特許庁
GAS ANALYSIS SYSTEM EQUIPPED WITH METHOD FOR EVALUATING SCRUBBER, AND EVALUATION FUNCTION OF SCRUBBER例文帳に追加
スクラバの評価方法およびスクラバの評価機能を備えたガス分析システム - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR ORGANIZATION ANALYSIS EVALUATION, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
組織分析評価装置、および組織分析評価方法、並びにコンピュータ・プログラム - 特許庁
ANALYSIS METHOD AND PROGRAM OF PHYSICAL AND CHEMICAL PROPERTY OF FUEL CELL例文帳に追加
燃料電池の物理的及び化学的特性の解析方法並びにプログラム - 特許庁
SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR ARTERIOSCLEROSIS ANALYSIS例文帳に追加
動脈硬化解析システム、動脈硬化解析方法及び動脈硬化解析プログラム - 特許庁
METHOD OF MEASURING NONCONDENSING GAS IN GEOTHERMAL STEAM, AND GAS COMPONENT ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
地熱蒸気中の不凝縮ガス測定方法およびガス成分分析装置 - 特許庁
SCIENCE AND ENGINEERING SIMULATOR USING NUMERICAL VALUE ANALYSIS METHOD FOR SIMULTANEOUS LINEAR EQUATIONS例文帳に追加
線形連立一次方程式の数値解析方法を用いた理工学シミュレータ - 特許庁
ANTI-TRIVALENT CHROMIUM MONOCLONAL ANTIBODY AND ANALYSIS METHOD OF HEXAVALENT CHROMIUM UTILIZING THE ANTIBODY例文帳に追加
抗三価クロムモノクローナル抗体と該抗体を利用した六価クロムの分析方法 - 特許庁
AUTOMATIC INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR UNEVENNESS ON POLARIZING PLATE USING COLOR DIFFERENCE ANALYSIS例文帳に追加
色差分析を用いた偏光板のムラ自動検査装置及び検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING ADDRESS AND RECORDING MEDIUM WITH ADDRESS ANALYSIS PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加
住所解析方法、装置、住所解析プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
PROVIDING SYSTEM AND METHOD FOR SYSTEM ANALYSIS SERVICE, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM例文帳に追加
系統解析サービス提供システム、方法、およびプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ANALYSIS ELEMENT VALUE OF SLUDGE例文帳に追加
汚泥の分析要素量測定方法及び汚泥の分析要素量測定装置 - 特許庁
FINITE ELEMENT ANALYSIS MODEL GENERATION METHOD, GENERATION DEVICE, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
有限要素解析モデルの作成方法、作成装置、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
To provide a program obfuscation method having improved safety for dynamic analysis.例文帳に追加
動的解析に対する安全性を高めたプログラム難読化手法を提案する。 - 特許庁
To provide a method and a system for performing a quantitative bifurcation analysis.例文帳に追加
分岐の定量解析を実行するための方法およびシステムを提供する。 - 特許庁
LANGUAGE MODEL LEARNING DEVICE, LANGUAGE MODEL LEARNING METHOD, LANGUAGE ANALYSIS DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
言語モデル学習装置、言語モデル学習方法、言語解析装置、及びプログラム - 特許庁
FINITE ELEMENT ANALYSIS METHOD, PROGRAM AND DEVICE例文帳に追加
有限要素解析方法、有限要素解析プログラムおよび有限要素解析装置 - 特許庁
IMAGING APPARATUS, IMAGE PROCESSING APPARATUS, AND IMAGE ANALYSIS METHOD IN THESE, AND PROGRAM例文帳に追加
撮像装置、画像処理装置、これらにおける画像解析方法およびプログラム - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR SUPPORTING DATA ANALYSIS, COMPUTER PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
データ解析支援装置、データ解析支援方法、コンピュータプログラムおよび記録媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE FAILURE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
半導体装置の不良解析システムおよび半導体装置の不良解析方法 - 特許庁
INTEGRATED REAL-TIME MANAGEMENT METHOD FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS AND YIELD ANALYSIS例文帳に追加
半導体製作工程及び歩留まり分析の統合的実時間管理方法 - 特許庁
METHOD OF COMBINING A PLURALITY OF PIECES OF SOFTWARE FOR MORE COMPLICATED ANALYSIS例文帳に追加
複数のソフトウェアを組み合わせて、より複雑な解析を行うための方法 - 特許庁
ARTIFICIAL VISION SYSTEM AND METHOD FOR KNOWLEDGE-BASED SELECTIVE VISUAL ANALYSIS例文帳に追加
知識ベースの選択的な視覚分析のための人工視覚システムおよび方法 - 特許庁
INFORMATION ANALYSIS SUPPORT DEVICE AND METHOD, AND ITS COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
情報分析支援装置、情報分析支援方法、並びにそのコンピュータ・プログラム - 特許庁
SENSOR DEVICE AND METHOD FOR QUALITATIVE AND QUANTITATIVE ANALYSIS OF GAS PHASE SUBSTANCES例文帳に追加
気相物質の定性および定量分析のためのセンサ装置および方法 - 特許庁
ERYTHROCYTE SURFACE POTENTIAL MEASURING METHOD BY ELECTROPHORETIC ANALYSIS, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
電気泳動解析による赤血球表面電位測定方法及びその装置 - 特許庁
SYNCHRONIZING METHOD AND DEVICE USING BUS ARBITRATION CONTROL FOR SYSTEM ANALYSIS例文帳に追加
システム分析のためにバス・ア—ビトレ—ション制御を使用する同期方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR REACTION OF PLURAL ANALYSIS OBJECTS ON PLATE例文帳に追加
プレート上の複数個の分析対象に対する反応方法及び反応装置 - 特許庁
ABSOLUTE MOLECULAR WEIGHT AND MOLECULAR WEIGHT DISTRIBUTION ANALYSIS METHOD OF LOW-SUBSTITUTED HYDROXYPROPYLCELLULOSE例文帳に追加
低置換度ヒドロキシプロピルセルロースの絶対分子量及び分子量分布分析法 - 特許庁
IMAGE PROCESSING PROGRAM, IMAGE PROCESSING DEVICE, MEASUREMENT ANALYSIS DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加
画像処理プログラム、画像処理装置、計測解析装置及び画像処理方法 - 特許庁
REACTION VESSEL AND ANALYSIS METHOD FOR BIOLOGICALLY ACTIVE SUBSTANCE USING THE SAME例文帳に追加
反応容器及びこれを用いる生物学的に活性な物質の分析方法 - 特許庁
SCIENCE AND ENGINEERING SIMULATOR USING NUMERICAL ANALYSIS METHOD OF LINEAR SIMULTANEOUS LINEAR EQUATION例文帳に追加
線形連立1次方程式の数値解析方法を用いた理工学シミュレータ - 特許庁
METHOD OF DISPLAYING FACE ANALYSIS DATA IN SURFACE ANALYZER USING ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線を用いた表面分析装置における面分析データ表示方法 - 特許庁
METHOD OF ANALYSIS AND OUTPUT OF HIERARCHICAL STRUCTURE, INFORMATION PROCESSOR THEREFOR, AND PROGRAM例文帳に追加
階層構造の解析・出力方法、および、その情報処理装置、プログラム。 - 特許庁
To provide a solidification analysis method for an alloy molten metal in consideration of an overcooling state.例文帳に追加
過冷状態を考慮した合金溶湯の凝固解析方法を提供する。 - 特許庁
To provide a system and a method for performance analysis and failure restoration.例文帳に追加
性能分析および障害修復のためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electrical load life-cycle management and analysis system and method.例文帳に追加
電気負荷のライフサイクル管理及び解析を行うシステムと方法を提供する。 - 特許庁
To provide a measuring method which enables an accurate surface analysis in a depth direction.例文帳に追加
深さ方向の表面分析が正確にできる測定方法を提供する。 - 特許庁
TIME-SERIES EVENT RECORD ANALYSIS METHOD AND APPARATUS, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
時系列イベント記録解析方法及び装置並びにプログラム及び記録媒体 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR SURVEYING SALES EFFECT OF ADVERTISEMENT BY USING CORRELATION ANALYSIS例文帳に追加
相関分析を用いて広告の販売効果を調査する方法およびシステム - 特許庁
To provide a method and a system for automatic inspection, in particular, for analysis of manufacturing defects.例文帳に追加
自動検査、特に、製造欠陥の解析の方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|