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electrical performance testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2件
To provide a measurement device capable of using the same probe card and a performance board, in an electrical characteristics test of an individual chip and a semiconductor chip in a wafer state, which relates to a semiconductor inspection apparatus of a wafer-level CSP.例文帳に追加
ウエハーレベルCSPの半導体検査装置に関して、個片チップとウエハー状態の半導体チップの電気的特性試験において、同一のプローブカードとパフォーマンスボードが使用できる測定装置を提供する。 - 特許庁
The medium for predictably cleaning the contact elements and support hardware of a tester interface, such as a probe card or a test socket, while it is still in manual, semi-automated, and automated handling device and the electrical test equipment are disclosed so that the function and performance of the individual die or IC package may be electrically evaluated.例文帳に追加
個々のダイ又はICパッケージの機能及び性能を電気的に評価することができるように、手動、半自動、及び自動取扱装置にまだある間にプローブカード及び試験ソケットのような試験器インタフェースの接触要素及び支持ハードウエアを予測可能に清浄化するための媒体及び電気試験器具を開示する。 - 特許庁
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