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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > flatnessの意味・解説 > flatnessに関連した英語例文

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flatnessを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 3514



例文

FLATNESS MEASURING SENSOR例文帳に追加

平坦度測定センサ - 特許庁

FLATNESS GAGE例文帳に追加

平坦度測定装置 - 特許庁

FLATNESS MEASUREMENT APPARATUS例文帳に追加

平面度測定装置 - 特許庁

FLATNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加

平坦度測定装置 - 特許庁

例文

WAFER FLATNESS MEASURING METHOD例文帳に追加

ウエハ平坦度測定法 - 特許庁


例文

FLATNESS MEASURING DEVICE AND FLATNESS MEASURING METHOD例文帳に追加

平坦度測定装置及び平坦度測定方法 - 特許庁

FLATNESS MEASUREMENT METHOD AND FLATNESS MEASUREMENT PROGRAM例文帳に追加

平面度測定方法及び平面度測定プログラム - 特許庁

FLATNESS MEASURING INSTRUMENT AND FLATNESS MEASURING METHOD例文帳に追加

平坦度測定装置および平坦度測定方法 - 特許庁

FLATNESS DETECTION APPARATUS AND FLATNESS DETECTION METHOD例文帳に追加

平坦度検出装置、および平坦度検出方法 - 特許庁

例文

HIGH FLATNESS PROCESSING METHOD AND HIGH FLATNESS PROCESSING DEVICE例文帳に追加

高平面度加工方法および高平面度加工装置 - 特許庁

例文

WAFER FLATNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加

ウェーハの平坦度測定装置 - 特許庁

ROAD SURFACE FLATNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加

路面平坦性測定装置 - 特許庁

FLATNESS MEASURING INTERFEROMETER例文帳に追加

平面度測定用干渉計 - 特許庁

PLANE FLATNESS MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

平面平坦度測定装置 - 特許庁

METHOD OF JUDGING TEXTURE FLATNESS例文帳に追加

テクスチャ平坦度判別方法 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING ROAD SURFACE FLATNESS例文帳に追加

路面平坦性測定装置 - 特許庁

MEASURING INSTRUMENT FOR FLATNESS, ETC. AND MEASURING METHOD FOR FLATNESS, ETC.例文帳に追加

平坦度等の測定装置および平坦度等の測定方法 - 特許庁

Mechanical flatness or optical flatness can be achieved.例文帳に追加

機械的平坦性、あるいは光学的平坦性が達成できる。 - 特許庁

FLATNESS MEASURING APPARATUS OF PLATE例文帳に追加

平板の平坦度測定装置 - 特許庁

REDUCTION CORRECTING MACHINE WITH FLATNESS METER例文帳に追加

平坦度計付き圧下矯正機 - 特許庁

LOT STEEL PLATE HAVING EXCELLENT FLATNESS例文帳に追加

平坦度良好なロット鋼板 - 特許庁

MANUFACTURING HIGH FLATNESS WAFER例文帳に追加

高平坦度ウェ—ハの製造方法 - 特許庁

WAFER FLATNESS MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING WAFER FLATNESS例文帳に追加

ウェーハ平坦度測定装置及びウェーハ平坦度を測定する方法 - 特許庁

FLATNESS MEASURING METHOD AND FLATNESS MEASURING APPARATUS OF PLATE MATERIAL例文帳に追加

板材の平坦度測定方法及び板材の平坦度測定装置 - 特許庁

a numerical expression of flatness 例文帳に追加

平らさを数値で表わしたもの - 研究社 英和コンピューター用語辞典

MANUFACTURE OF HIGH FLATNESS WAFER例文帳に追加

高平坦度ウェーハの製造方法 - 特許庁

MANUFACTURE OF HIGH-FLATNESS WAFER例文帳に追加

高平坦度ウェーハの製造方法 - 特許庁

PASS BAND FLATNESS CORRECTION CIRCUIT例文帳に追加

通過帯域平坦度補償回路 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF WAFER OF HIGH FLATNESS例文帳に追加

高平坦度ウェ—ハの加工方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS例文帳に追加

平坦度計測方法および装置 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS OF VALVE SEAT SURFACE例文帳に追加

弁座面の平坦度測定装置 - 特許庁

SHEARING INTERFEROMETER FOR MEASURING FLATNESS例文帳に追加

平面度測定用シヤリング干渉計 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING FLATNESS DEGREE, AND DEVICE例文帳に追加

平坦度制御方法および装置 - 特許庁

The master is restored to the original flatness, and the flatness of the mother should be 0.5 mm or less.例文帳に追加

マスターは元のフラットに復元、マザー平面度は0.5mm以下である。 - 特許庁

To provide a silicon wafer having high flatness.例文帳に追加

平坦度の高いシリコンウェーハを得る。 - 特許庁

FLATNESS SIMULATION SYSTEM FOR MASK SUBSTRATE例文帳に追加

マスク基板の平坦度シミュレーションシステム - 特許庁

FLATNESS-CORRECTING TOOL FOR FRICTION MATERIAL AND FLATNESS-CORRECTING METHOD FOR FRICTION MATERIAL例文帳に追加

摩擦材の平面度矯正治具及び摩擦材の平面度矯正方法 - 特許庁

REPROCESSING METHOD OF WAFER OF HIGH FLATNESS例文帳に追加

高平坦度ウェ—ハの再加工方法 - 特許庁

FLATNESS MEASURING DEVICE FOR SUBSTRATE SURFACE例文帳に追加

基板表面の平坦度測定装置 - 特許庁

FLATNESS MEASURING METHOD AND APPARATUS AND FLATNESS CONTROL METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

平坦度計測方法および装置、並びに平坦度制御方法および装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS例文帳に追加

平坦度測定方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF FLATNESS例文帳に追加

平坦度測定方法及びその装置 - 特許庁

Then, the amount of flatness in the straight pipe is calculated from the amount of flatness in the straight pipe 35a at the amount-of-flatness measurement section 41.例文帳に追加

次に、扁平量測定部41における直管35aの扁平量から直管の扁平量を算出する。 - 特許庁

TRUCK FOR ROAD SURFACE FLATNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加

路面平坦度測定装置用台車 - 特許庁

To improve terminal flatness of a signal post.例文帳に追加

信号ポストの端子平坦度を良くする。 - 特許庁

The flatness of the thermal head 12 is adjusted by a flatness adjustment mechanism 31.例文帳に追加

サーマルヘッド12の平坦度は、平坦度調整機構31によって調整される。 - 特許庁

OPTICAL MEASURING DEVICE FOR LAP FACE FLATNESS例文帳に追加

ラップ面平坦化用光学測定装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING FLATNESS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハーの平坦度測定方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING FLATNESS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハの平坦度評価方法 - 特許庁

例文

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND/OR CONTROLLING FLATNESS AND FLATNESS CONTROL SYSTEM例文帳に追加

平坦度を測定及び/又は制御する方法乃至装置、平坦度制御システム - 特許庁




  
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