fluidicsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 9件
DIAGNOSTIC DEVICE INCORPORATING FLUIDICS AND METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加
流体工学を組み込んだ診断装置および製造方法 - 特許庁
The intermediate cooling unit 13 has fluidics elements 14, 14, and a liquid level of the refrigerant from the condenser 10 is controlled by the fluidics elements 14, 14.例文帳に追加
中間冷却器13は、フルイディクス素子14、14を有し、フルイディクス素子14、14により凝縮器10からの冷媒の液位を制御する。 - 特許庁
A mechanically stable support layer is formed over a layer of a etchable material, in a method of fabricating a microstructure for micro- fluidics applications.例文帳に追加
マイクロフルイディックス用途用のマイクロ構造体の形成方法において、機械的に安定な支持体層をエッチング可能な材料の層上に形成する。 - 特許庁
A nozzle tip 14 of the washer nozzle is made to a constitution of "fluidics type nozzle" and a diffusion angle β of a diffusion flow is set to a larger angle than a predetermined angle W of a pair of injection side wall.例文帳に追加
ウォッシャノズルのノズルチップ14は、「フルイディクス式ノズル」の構成とされており、拡散流の拡散角度βは、一対の噴射側壁の所定の角度Wよりも大きな角度に設定されている。 - 特許庁
The nozzle tip 14 is a fluidics type nozzle, and left/right flows of the cleaning liquid (control flows) fed back/passed through a pair of left/right feedback flow paths 26, 28 are set to be different from each other.例文帳に追加
ノズルチップ14は、「フルイディクス式ノズル」の構成とされており、しかも、左右一対のフィードバック流路26、28をフィードバックして流通する洗浄液(制御流)の流量が互いに(左右で)異なる設定とされている。 - 特許庁
To cheaply manufacture a flow meter capable of measuring in a wide range from a very small flow rate to a large flow rate in a reasonable manufacturing process by using a fluid feed back oscillator utilizing the fluidics for detecting its frequency.例文帳に追加
フルイディクスを利用した流体帰還発振器を利用し、これの周波数を検出することにより微小流量から大流量の測定まで広く測定できる流量計を合理的な製造工程で安価に製作する。 - 特許庁
A recess, such as a hole and a microchannel, is formed on the surface of the crystal substrate 20 in the SOI substrate thus obtained, machining required as a DNA chip and a micro fluidics chip is performed, and a silicon semiconductor element for analyzing and evaluating the sample adhered to and held by the recess is formed on the SOI layer 12.例文帳に追加
このようにして得られたSOI基板の石英基板20の表面にホールやマイクロ流路などの凹部を形成してDNAチップやマイクロフルイディスクチップとして必要な加工を施し、SOI層12にはこの凹部に付着・保持された試料を分析・評価するためのシリコン半導体素子を形成する。 - 特許庁
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