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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > for Testingの意味・解説 > for Testingに関連した英語例文

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for Testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6759



例文

APPARATUS FOR AUTOMATICALLY CREATING CONTROL PROGRAM AND TESTING METHOD PLAN例文帳に追加

制御プログラム及び試験方案自動作成装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL FIBER HAVING BRANCH例文帳に追加

分岐を有する光ファイバの試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SUBSCRIBER CIRCUIT, AND PROGRAM例文帳に追加

加入者回路試験方法と装置ならびにプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR CURRENT-LIMITING FUNCTION OF INVERTER OR SERVO DRIVER例文帳に追加

インバータ、サーボドライバの電流制限機能試験装置 - 特許庁

例文

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び検査方法 - 特許庁


例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CONTROL ROD DRIVING MECHANISM例文帳に追加

制御棒駆動機構の試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING METAL GASKET例文帳に追加

金属ガスケットの評価試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING TRAIN OPERATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加

列車運行管理システムの試験方法及び装置 - 特許庁

TEST-INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM FOR ASPHALT EXTRACTION TESTING MACHINE例文帳に追加

アスファルト抽出試験機の試験情報管理システム - 特許庁

例文

OUTPUT CIRCUIT AND DRIVE CAPABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

出力回路及びそのドライブ能力テスト方法。 - 特許庁

例文

To provide a method for testing semiconductors.例文帳に追加

半導体をテストするための方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING AAL1-SAR FUNCTION例文帳に追加

AAL1−SAR機能の試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ROTATING MACHINE例文帳に追加

回転する機械の試験を行う方法およびシステム - 特許庁

PRACTICAL METHOD FOR TESTING DURABILITY AND WATER REPELLENCY OF FIBER FABRIC例文帳に追加

繊維布帛の実用耐久撥水度試験方法 - 特許庁

TEST PIECE FIXING ADAPTER FOR TENSION TYPE MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

引張型材料試験機用試験片固定アダプター - 特許庁

VENTILATION TESTING METHOD FOR GAS FLUID WITH TEMPERATURE CHANGE例文帳に追加

温度変化を伴うガス流体の換気試験方法 - 特許庁

DRIVE UNIT FOR STRENGTH TEST, AND STRENGTH TESTING DEVICE例文帳に追加

強度試験用駆動装置および強度試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SYSTEM BETWEEN DATA COMMUNICATION EQUIPMENT例文帳に追加

データ通信装置間システム試験装置および方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING CATALYTIC ACTIVITY例文帳に追加

触媒活性試験装置、触媒活性試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DISINTEGRATION OF TABLET例文帳に追加

錠剤の崩壊試験装置及び崩壊試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEALED VESSEL例文帳に追加

密封容器検査方法及び密封容器検査装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING IMAGE PROCESSOR, AND IMAGE PROCESSOR例文帳に追加

画像処理装置のテスト方法及び画像処理装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING METAL SURFACE CORROSION IN FORCED CONVECTION例文帳に追加

強制対流下金属表面腐食試験装置 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING SYSTEM FOR COMMUNICATION RESOURCES IN MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

移動通信システムの通信リソース自動試験方式 - 特許庁

LOW-TEMPERATURE CONDITION TESTING DEVICE AND METHOD FOR HANDLER例文帳に追加

ハンドラの低温条件試験装置及びその方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEALING OF CAN例文帳に追加

缶の気密性試験装置及び気密性試験方法 - 特許庁

TOXICITY TESTING APPARATUS FOR CELLULAR MULTI-LAYER CULTURE例文帳に追加

細胞重層培養物における毒性試験装置 - 特許庁

WIND TUNNEL TESTING METHOD FOR PREDICTING SEA-SALT PARTICLE SCATTER AMOUNT例文帳に追加

海塩粒子飛散量予測風洞実験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF SIGNAL SECURITY SYSTEM例文帳に追加

信号保安システムの試験装置および試験方法 - 特許庁

IN SITU TESTING DEVICE FOR INVESTIGATING ANISOTROPY OF FOUNDATION例文帳に追加

地盤の異方性を調査する原位置試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR COMPUTER DEVICE例文帳に追加

コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム - 特許庁

ALIGHTING DEVICE TESTING INSTRUMENT AND ALIGHTING DEVICE FOR FLIGHT UNIT例文帳に追加

飛行体の降着装置試験機器と降着装置 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING PROCEDURE OF EXECUTION IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の実行手順制御方式 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板検査方法および回路基板検査装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACCELERATED CORROSION OF STEEL MATERIAL IN ATMOSPHERIC ENVIRONMENT例文帳に追加

鋼材の大気環境促進腐食試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING OPTICAL FIBER RIBBON例文帳に追加

光ファイバテープ心線の試験方法およびその装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND POWDER FOR CONFIRMING WATER-WETTING例文帳に追加

被水確認試験方法及び被水確認用粉末 - 特許庁

TESTING METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

情報処理装置の試験方法及び記録媒体 - 特許庁

EDDY CURRENT INSPECTION SYSTEM FOR TESTING COMPONENT例文帳に追加

構成部品を試験するための渦電流検査システム - 特許庁

JIG FOR RECOVERY OF CLEANING SOLVENT OF FILTRATION TESTING IMPLEMENT例文帳に追加

ろ過試験器具の洗浄溶剤の回収用治具 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加

半導体装置を試験するための装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING APPROXIMATE WAVEFORM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

近似波形生成方法及び半導体試験装置 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING PUMPING OUT OF HEAT TRANSFER GREASE例文帳に追加

伝熱グリースのポンピングアウト試験装置及び方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

METHODS AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRIC POWER DEVICES例文帳に追加

電力デバイスを試験するための方法および装置 - 特許庁

HEAD STACK LOCATOR ASSEMBLY FOR TESTING MAGNETIC HEAD例文帳に追加

磁気ヘッドを試験するためのヘッドスタックロケーター組立品 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS HAVING SELF-TESTING FUNCTION例文帳に追加

自己試験機能を有する電子装置の試験方式 - 特許庁

To obtain a testing device for a colorimeter which reduces an error.例文帳に追加

エラーを削減する比色計用試験器具を得る。 - 特許庁

例文

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験回路およびその試験方法 - 特許庁




  
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