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for Testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUITY OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の導通試験装置及び該試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC LEAKAGE TESTING APPARATUS OF HIGH PERFORMANCE FILTER FOR CLEAN ROOM例文帳に追加
クリーンルーム用高性能フィルタの自動リークテスト装置 - 特許庁
To provide an automatic test system for testing smart card chips.例文帳に追加
スマートカードチップを検査するための自動検査システム。 - 特許庁
HEAT CYCLE TESTING METHOD AND JIG FOR HEAT CYCLE TEST例文帳に追加
熱サイクル試験方法および熱サイクル試験用治具 - 特許庁
METHOD FOR TESTING RADIO PART IN RADIO DATA COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
無線データ通信システムにおける無線部テスト方法 - 特許庁
To obtain a corrosion resistance testing method for metallic material, capable of shortening the corrosion testing time of the metal material and capable of realizing simplification and compactification of corrosion resistance testing equipment, and to provide corrosion resistance testing equipment.例文帳に追加
金属の耐食試験時間を短縮でき、且つ、装置の簡易化及びコンパクト化を実現することができる金属材料の耐食性試験方法及び装置を得る。 - 特許庁
To provide a testing device for object detecting means capable of improving the testing accuracy, while restraining the testing cost of the object detecting means, and to provide a testing method.例文帳に追加
物体検出手段の試験コストを低く抑えつつ、試験精度を向上させることが可能な物体検出手段の試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING HARDWARE OF ON-VEHICLE DEVICE AND METHOD FOR WRITING SOFTWARE FOR PRODUCT例文帳に追加
車載装置のハードウエアテスト方法及び製品用ソフトウエア書き込み方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR TESTING ACCURACY OF LANDING LIQUID DROPLET MATERIAL FOR COLOR FILTER例文帳に追加
カラーフィルタ用液滴材料着弾精度試験基板の製造方法 - 特許庁
To control uneven heating in a semiconductor testing device, a contactor unit for the semiconductor testing device and a method for testing a semiconductor device.例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験装置用コンタクタユニット、及び半導体装置の試験方法において、半導体装置の加熱むらを抑制すること。 - 特許庁
To provide a testing method for liquid crystal display element and a testing, device which can easily detect defects.例文帳に追加
欠陥の検出が容易な、液晶表示素子の検査方法、及び検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for easily testing a differential distribution type heat sensor.例文帳に追加
差動式分布型の熱感知器を簡単に試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide testing method for accurately testing connection status of cell voltage sensing line.例文帳に追加
電池電圧検出線の接続状態を正確に検査可能な検査方法を提供する。 - 特許庁
TEMPLATE TESTING METHOD, TEMPLATE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING THE TEMPLATE AND TESTING SYSTEM FOR THE TEMPLATE例文帳に追加
検査方法、テンプレート製造方法、半導体集積回路製造方法および検査システム - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD例文帳に追加
試験装置、試験方法、電子デバイスの生産方法、試験シミュレータ、及び試験シミュレーション方法 - 特許庁
To reduce testing time for testing a semiconductor integrated circuit using an actual operation frequency.例文帳に追加
実動作周波数を用いて半導体集積回路をテストする際のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁
TEST BENCH AND TESTING METHOD FOR MEASURING SOUND INSULATION, THAT IS, INSERTION LOSS, IN OBJECT OF TESTING例文帳に追加
試験対象物における遮音すなわち挿入損失を測定するための試験台と方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING MOTOR OPERATED VALVE, COMPUTER PROGRAM, AND CONTROL DEVICE OF POWER SUPPLY CASE FOR TESTING MOTOR OPERATED VALVE例文帳に追加
電動弁の試験方法、コンピュータプログラムおよび電動弁試験用電源箱の制御装置 - 特許庁
The testing method includes an electric power unit 20, a load device 30, and a controller for testing 50.例文帳に追加
この試験システムは、電源装置２０と、負荷装置３０と、試験用コントローラ５０とを備える。 - 特許庁
A testing apparatus 2 is provided for testing an N-bit (N is a natural number) A/D converter 1.例文帳に追加
Ｎビット（Ｎは自然数）のＡ／Ｄコンバータ１を試験する試験装置２が提供される。 - 特許庁
To provide an impact testing method and an impact testing device capable of applying impact force onto a testing object over a wide range, irrespective of a shape of the testing object, as to the impact testing method and the impact testing device for applying the impact force onto the testing object to conduct an impact evaluation for the testing object.例文帳に追加
試験対象物に衝撃力を加えて、前記試験対象物の衝撃評価を行う衝撃試験方法および衝撃試験装置に関し、試験対象物の形状によらず、試験対象物に対して広範囲に衝撃力を加えることができる衝撃試験方法および衝撃試験装置を提供することを提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加
Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR SENSOR TESTING AND SENSOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加
センサ検査用磁場発生装置およびセンサ検査装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST例文帳に追加
ＧＵＩプログラムテスト装置およびＧＵＩプログラムテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS例文帳に追加
電子部品の試験方法および電子部品試験装置 - 特許庁
OPTICAL DISK RECORDING MEDIUM FOR TESTING AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加
テスト用光ディスク記録媒体及びその製造方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ACCELERATED WEATHERABILITY例文帳に追加
促進耐候性試験方法及び促進耐候性試験装置 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加
光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁
BARE CHIP CARRIER AND METHOD FOR TESTING BARE CHIP USING THE BARE CHIP CARRIER例文帳に追加
ベアチップキャリアとこれを用いたベアチップの検査方法 - 特許庁
To reduce testing time for one semiconductor device.例文帳に追加
半導体デバイス１個あたりのテスト時間を短縮する。 - 特許庁
TROUBLE GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
障害発生装置およびコンピュータシステムの試験方法 - 特許庁
SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR HOLLOW TORSIONAL SHEAR TESTING APPARATUS例文帳に追加
中空ねじりせん断試験装置の供試体支持構造 - 特許庁
DATA INVERSION REGISTER TECHNIQUE FOR INTEGRATED CIRCUIT MEMORY TESTING例文帳に追加
集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験装置、及び集積回路試験方法 - 特許庁
INSPECTION DEVICE AND BURN-IN TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CONSTITUTION OF DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
装置の構成をテストする方法および半導体装置 - 特許庁
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