| 意味 | 例文 |
for Testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
METHOD AND DEVICE FOR TESTING PERFORMANCE OF CONTAMINANT TREATING MATERIAL例文帳に追加
汚染物質処理材の性能試験方法及び装置 - 特許庁
BOARD CONVERSION CABLE FOR MULTIPLE-PIN TESTER AND IC TESTING METHOD例文帳に追加
多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびICテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING TUNNEL MAGNETORESISTANCE ELEMENT AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
トンネル磁気抵抗効果素子の検査方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁
PROBE CARD, PROBE UNIT, METHOD FOR TESTING PROBE AND PROBE NEEDLE例文帳に追加
プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及びプローブ針 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁
RADIATION IRRADIATION TESTING MACHINE FOR USE IN NUCLEAR REACTOR例文帳に追加
原子炉内に用いられる放射線照射試験装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR REMOTELY TESTING MOBILE UNIT例文帳に追加
移動機リモート試験システム及び移動機リモート試験方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM OF DEVICE FOR DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY例文帳に追加
半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁
To reduce the time required for testing a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の検査に要する時間を短縮する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 - 特許庁
DURABILITY TESTING APPARATUS FOR VEHICLE SEAT AND SEAT ATTACHMENT例文帳に追加
車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
IC試験装置、IC試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加
オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置 - 特許庁
LOADING TEST METHOD FOR GROUND ANCHOR AND TESTING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置 - 特許庁
CORROSION TESTING METHOD OF METALLIC MATERIAL FOR SHIP BALLAST TANK例文帳に追加
船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法 - 特許庁
To provide a self-cleaning socket for testing package components.例文帳に追加
セルフクリーニング式パッケージ部品試験用ソケットの提供。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING NONVOLATILE MEMORY, AND PROGRAM例文帳に追加
不揮発性メモリの試験方法及び装置及びプログラム - 特許庁
TEMPERATURE CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING DEVICE例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置における温度制御方式 - 特許庁
To provide a method for testing azoospermia characterized by comprising detecting a genetic polymorphism.例文帳に追加
無精子症の新規の検査方法を提供する. - 特許庁
COMPLEMENTARITY TESTING METHOD AND GOLD PARTICLE FOR USE IN THE METHOD例文帳に追加
相補性試験方法及びそれに用いる金粒子 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTION OF TIMING OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体試験装置のタイミング補正方法及び装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方式及びその方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INSULATION PERFORMANCE OF GAS INSULATED APPARATUS例文帳に追加
ガス絶縁機器の絶縁性能試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT OF OSTEOPOROSIS例文帳に追加
骨粗鬆症の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁
TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体集積回路装置テストシステムおよびプローブカード - 特許庁
METHOD FOR TESTING LEAK CURRENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
リーク電流試験方法及び半導体集積回路 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND TEST METHOD FOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
CMOS集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁
NUCLEIC ACID AND METHOD FOR TESTING CANCERATION USING THE SAME NUCLEIC ACID例文帳に追加
核酸及び該核酸を用いた癌化検定方法 - 特許庁
Claim for Examination pertaining to Disposition to the Designated Testing Agency 例文帳に追加
指定試験機関の処分についての審査請求 - 日本法令外国語訳データベースシステム
PROBER FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE ON LARGE-AREA SUBSTRATE例文帳に追加
大面積基板上での電子デバイス検査のためのプローバ - 特許庁
TEST PIECE FOR HIGH PRESSURE AIR-TIGHT TESTING DEVICE AND REFRIGERATING CYCLE例文帳に追加
高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクル - 特許庁
PERSONAL COMPUTER SYSTEM FOR TESTING POWER SYSTEM SERVICE AID DEVICE例文帳に追加
電力系統保守支援装置の試験用パソコンシステム - 特許庁
TESTING DEVICE AND ITS CONTROL METHOD FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加
動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁
INSTRUMENTS, APPARATUS AND DEVICES FOR CHECKING, SECURITY OR TESTING 例文帳に追加
検査用,保安用又は試験用の器械,機器及び装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING TRANSIENT CHARACTERISTIC OF INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加
内燃機関の過渡特性試験装置および方法 - 特許庁
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| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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