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for Testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING PICTURE QUALITY OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY例文帳に追加
液晶表示装置の画質検査装置及び方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR RELAY CONTACT WELDING IN BATTERY POWER SUPPLY例文帳に追加
電池電源装置のリレー接点溶着検査方法 - 特許庁
TEMPERATURE TEST CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING APPARATUS例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置の温度試験制御方式 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SOLDERABILITY例文帳に追加
はんだ付け性試験装置及びはんだ付け性試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ERROR CHARACTERISTICS例文帳に追加
誤り特性試験方法および誤り特性試験装置 - 特許庁
TESTER AND TESTING DEVICE FOR JUDGING UNIFORMITY OF INSULATION FILM例文帳に追加
絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置 - 特許庁
TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING例文帳に追加
メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁
METHOD FOR PREVENTING COLLAPSE OF POROUS WALL, CASING, AND TESTING METHOD例文帳に追加
孔壁崩落抑制方法、ケーシング、及び試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁
MEASURING SYSTEM WITH TESTING FUNCTION FOR CONFIRMING NORMALITY OF MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
計測器正常性確認試験機能付計測システム - 特許庁
METHOD FOR TESTING WATER HAMMER STRENGTH OF GLASS BOTTLE AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
ガラスびんのウォータハンマ強度試験方法及び装置 - 特許庁
PULSATION WATER PRESSURE-GENERATING DEVICE FOR TESTING WATER PRESSURE IN PIPE例文帳に追加
管内の水圧試験用脈動水圧発生装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING VIBRATION CHARACTERISTICS TESTING例文帳に追加
振動特性試験装置および振動特性試験方法 - 特許庁
HIGH ALTITUDE PERFORMANCE TESTING DEVICE AND PRESSURE CONTROL METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
高空性能試験装置とその圧力制御方法 - 特許庁
CORROSION RESISTANCE TESTING METHOD AND EVALUATING METHOD FOR STEEL MATERIAL例文帳に追加
鋼材の耐食性試験方法及び評価方法 - 特許庁
ELECTRIC TEST SYSTEM FOR TESTING CHANNEL OF COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
通信システムのチャネルをテストするための電気テストシステム - 特許庁
COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD例文帳に追加
電子部品の試験装置用部品及び試験方法 - 特許庁
To reduce a burden required for testing substrate treatment equipment.例文帳に追加
基板処理装置の試験に要する負担を軽減する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING TRAIN OPERATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加
列車運行管理システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING DURABILITY OF EXHAUST PURIFICATION DEVICE FOR VEHICLES例文帳に追加
車両用排気浄化装置の耐久試験方法 - 特許庁
TECHNIQUE FOR TESTING BIT LINE OF MEMORY ARRAY AND RELATED CIRCUIT例文帳に追加
メモリアレイのビット線及び関連回路をテストする技術 - 特許庁
SOCKET FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加
電子回路装置のテスト用ソケット及びその製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FRICTION CHARACTERISTICS OF ELASTIC MATERIAL例文帳に追加
弾性材料の摩擦特性試験方法および装置 - 特許庁
METHOD AND KIT FOR TESTING DRUG SENSIBILITY OF TUBERCLE BACILLUS STRAIN例文帳に追加
結核菌群の薬剤感受性検査法及びキット - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING MARKER DETECTION FUNCTION OF IMAGE SENSOR例文帳に追加
画像センサのマーカ検出機能試験方法及び装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING BIOLOGICAL SAMPLE例文帳に追加
生物学的サンプルを試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING OPTICAL TRANSMISSION LINE AND NETWORK例文帳に追加
光伝送線路試験装置、試験方法及びネットワーク - 特許庁
TESTING METHOD PRIOR TO PLATING AND INSTRUMENT FOR TEST PRIOR TO PLATING例文帳に追加
めっき前検査方法およびめっき前検査装置 - 特許庁
WATER TANK FOR COVERED WATERWAY AND TESTING WATERWAY LAID WITH THE SAME例文帳に追加
冠水路用水槽及びそれを敷設した試験路 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SOLIDER WETTABILITY例文帳に追加
はんだぬれ性試験装置及びはんだぬれ性試験方法 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING BIO-RELATED SUBSTANCE, AND ITS REACTION STAGE例文帳に追加
生体関連物質の検査装置とその反応ステージ - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁
TECHNIQUE FOR TESTING WORD LINE OF MEMORY ARRAY AND RELATED CIRCUIT例文帳に追加
メモリアレイのワード線及び関連回路をテストする技術 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR IMPROVED TESTING OF TRANSISTOR ARRAY例文帳に追加
トランジスタアレイの改善されたテスト方法及びテストシステム - 特許庁
REMOTE SENSING ALTERNATING CURRENT MEASURING INSTRUMENT FOR TESTING VOLTAGE/CURRENT例文帳に追加
試験電圧電流遠隔検出交流測定器 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CONFIRMATION OF CABLE CONNECTION例文帳に追加
ケーブル接続確認試験方法及びその試験装置 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RESISTANCE TO ADHESION TO DUST AND SLAG例文帳に追加
ダスト,スラグに対する難付着性評価試験方法 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING ARITHMETIC PROCESSOR IN MULTIPROCESSOR SYSTEM例文帳に追加
マルチプロセッサシステムにおける演算処理装置の試験方式 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験システム及び試験方法 - 特許庁
METHOD AND KIT FOR TESTING VIRAL LATENT INFECTION例文帳に追加
ウイルス潜伏感染の検査方法および検査用キット - 特許庁
TESTING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験方法及びその装置 - 特許庁
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