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for Testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, CONNECTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験回路の接続装置および半導体試験方法 - 特許庁
SEMI-PREPARED REAGENT FOR TESTING PURITY OF OXYGEN AND PURITY TESTING METHOD OF OXYGEN USING IT例文帳に追加
酸素純度試験用半調合試薬およびこれを用いた酸素純度試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING SYSTEM例文帳に追加
半導体集積回路装置の試験方法、半導体集積回路装置および試験装置 - 特許庁
To provide a network testing device capable of metadata capture for testing TCP connections.例文帳に追加
TCP接続を検査するためのメタデータキャプチャ可能なネットワーク検査装置を提供する。 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SAME, AND COMPUTER- READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験方法ならびにそのための試験装置およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
On the occasion of testing, besides, the delay control circuit 9 for testing increases the delay time for testing for one side and decreases it for the other, while the total delay time is left fixed.例文帳に追加
また、テストの際、テスト用遅延制御回路9は、合計遅延時間を一定にしたまま、テスト用遅延時間の一方を増加させ他方を減少させてゆく。 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING PERFORMANCE OF HYDRAULIC MOTOR例文帳に追加
油圧モータの性能試験方法およびその装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER COMMUNICATION LINE例文帳に追加
光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND METHOD FOR PRODUCTION OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM INCLUDING TESTING STEP例文帳に追加
磁気記録媒体の検査方法、およびその検査工程を有する磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY例文帳に追加
ダイナミックランダムアクセスメモリをテストする方法及び装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DURABILITY OF INNER FACE BEAD ROLLING TOOL例文帳に追加
内面ビード圧延工具の耐久性試験装置 - 特許庁
METHOD FOR ASSEMBLING AND TESTING MODULAR FUEL INJECTOR例文帳に追加
モジューラ燃料インジェクタの組立て及び試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE例文帳に追加
ランダムアクセスメモリ装置をテストする方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR SIMULATION TESTING ON VAPOR- LIQUID TWO-PHASE LOW例文帳に追加
気液二相流模擬試験方法および装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加
半導体装置、及び半導体装置の試験装置 - 特許庁
To shorten a testing time for a semiconductor device by means of a tester and to lower a testing cost for the semiconductor device.例文帳に追加
テスタによる半導体デバイスのテスト時間を短縮し、半導体デバイスのテスト費用を削減する。 - 特許庁
TESTING TIP, AND METHOD FOR EVALUATING CONNECTION RESISTANCE VALUE例文帳に追加
試験用チップおよび接続抵抗値評価方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING PHYSIOLOGICAL FUNCTION AND TESTING FOOD例文帳に追加
生理機能の計測方法及び試験用食品 - 特許庁
ELECTRICAL TESTER FOR TESTING ELECTRICAL TEST PIECE例文帳に追加
電気試験片を試験するための電気試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路をテストするための装置および方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置、及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING NUCLEAR FUEL PELLET例文帳に追加
原子力燃料ペレットの検査方法および装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS例文帳に追加
半導体集積回路の試験装置、試験方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加
情報処理装置の試験方法および試験システム - 特許庁
FLAME SENSOR AND TESTING DEVICE FOR OPERATION OF FLAME SENSOR例文帳に追加
火災感知器及び火災感知器の作動試験器 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CLARITHROMYCIN RESISTANCE OF HELICOBACTER PYLORI例文帳に追加
ヘリコバクター・ピロリ菌のクラリスロマイシン耐性検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TENSILE STRENGTH例文帳に追加
引張強度試験方法及び引張強度試験器 - 特許庁
EVALUATION/TESTING METHOD OF FILTER CLOTH FOR FILTRATION TYPE DUST COLLECTOR例文帳に追加
濾過式集塵機用濾布の評価試験方法 - 特許庁
DRIVE CIRCUIT FOR DISPLAY DEVICE, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
表示装置の駆動回路及びそのテスト方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加
監視制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁
ANTIBODY TO BOVINE MYOGLOBIN PARTIAL PEPTIDE AND METHOD FOR TESTING USING THE ANTIBODY AND KIT FOR TESTING例文帳に追加
ウシミオグロビン部分ペプチドに対する抗体、及び当該抗体を用いた検査方法並びに検査用キット - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路を試験するための方法および装置 - 特許庁
PRESSURE RESISTANCE TESTING MACHINE FOR INSPECTING INDOOR FIRE HYDRANT HOSE例文帳に追加
屋内消火栓ホースの点検用耐圧試験機 - 特許庁
METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT BY AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加
自動テスト装置で、集積回路をテストする方法 - 特許庁
SHORT-CIRCUITING DEVICE FOR TESTING OF POWER CONVERTER例文帳に追加
電力変換装置の試験用回路短絡装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD SERVICE LIFE例文帳に追加
磁気ヘッドの寿命を試験する方法及び装置 - 特許庁
CT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD AND PT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD例文帳に追加
保護継電器盤用CTテストプラグ試験装置及び保護継電器盤用PTテストプラグ試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND BOARD FOR CALIBRATION例文帳に追加
試験装置、パフォーマンスボード、および、キャリブレーション用ボード - 特許庁
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