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integrated methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8526件
METHOD OF MANUFACTURING PRINTER, PRINTER AND INTEGRATED CIRCUIT THEREFOR例文帳に追加
印刷装置製造方法、印刷装置及び印刷装置用集積回路 - 特許庁
DEVICE, METHOD AND STORAGE MEDIUM FOR DETECTING FAILURE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の故障検出装置、方法及び記録媒体 - 特許庁
COMMUNICATION DEVICE, COMMUNICATION SYSTEM, RECORD MEDIUM, INTEGRATED CIRCUIT, AND CONTROL METHOD例文帳に追加
通信装置、通信システム、記録媒体、集積回路及び制御方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DEVICE AND METHOD FOR ARRANGING THE SAME例文帳に追加
半導体集積回路、半導体集積回路配置装置及び方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SPEED INTEGRATED CIRCUIT DEVICE INSPECTION INTERFACE例文帳に追加
高速集積回路デバイス検査インタフェースのための方法および装置 - 特許庁
HYDROGEN PRODUCTION-SEPARATION INTEGRATED TYPE FUNCTIONAL THIN FILM, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
水素生成・分離一体型機能性薄膜及びその製造方法 - 特許庁
ANTENNA INTEGRATED SPEAKER ASSEMBLY, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加
アンテナ一体型スピーカー及びその製造方法、並びに無線通信機器 - 特許庁
SINGLE CRYSTAL SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD AND INTEGRATED CIRCUIT FORMED THEREON例文帳に追加
単結晶基板の製作方法およびその基板を含む集積回路 - 特許庁
This method is concerned with a method for testing integrated circuits with a plurality of clock systems and integrated circuits on which testing is easy, and the method includes a step to insert a multiplexed scanning flip-flop into an integrated circuit.例文帳に追加
本発明は、複数のクロックシステムを持つ集積回路をテストするための方法、およびテストが容易な集積回路に関するが、この方法は、マルチプレクスド走査フリップ−フロップを集積回路に挿入するステップを含むむ。 - 特許庁
COMMUNICATION DEVICE, SERVER DEVICE, COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATING METHOD, AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
通信装置、サーバ装置、通信システム、通信方法、および集積回路 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR FACILITATING INSPECTION OF PAD RECEIVER OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路のパッドレシーバの試験を容易にする為のシステム及び方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING ACCESS LOG MONITORING AND INTEGRATED MONITOR例文帳に追加
アクセスログの監視支援方法およびそのシステム、並びに統合監視装置 - 特許庁
VERTICAL INTEGRATED CIRCUIT SWITCH, DESIGN STRUCTURE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
垂直型集積回路スイッチ、設計構造体及びその製造方法 - 特許庁
TRANSISTOR-TYPE PROTECTION DEVICE, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
トランジスタ型保護素子、半導体集積回路およびその製造方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT WITH MEMORY CELL ARRAY AND METHOD FOR FORMING SAME例文帳に追加
メモリセルアレイを備えた集積回路および集積回路の形成方法 - 特許庁
The method and the system test an integrated circuit (IC) by optical coupling.例文帳に追加
光結合により集積回路(IC)を試験する方法およびシステム。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING BACKING PLATE OF DRUM BRAKE WITH DUST COVER INTEGRATED THEREWITH例文帳に追加
ダストカバー部が一体化されたドラムブレーキのバッキングプレートの製造方法 - 特許庁
MULTINODE COMPUTER SYSTEM, INTEGRATED SERVICE PROCESSOR, STATUS MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
マルチノードコンピュータシステム、統合サービスプロセッサ、ステータス管理方法及びプログラム - 特許庁
GAS DETECTOR AND METHOD FOR USING INTEGRATED TEMPERATURE CORRECTION DEVICE例文帳に追加
気体検出装置および一体型温度補正デバイスを使用する方法 - 特許庁
OPTICAL INTEGRATED UNIT, ITS ADJUSTING METHOD, AND OPTICAL PICKUP DEVICE例文帳に追加
光集積ユニットおよびその調整方法、ならびに光ピックアップ装置 - 特許庁
LAYOUT DESIGN SUPPORTING DEVICE FOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD, PROGRAM, AND DATA STRUCTURE例文帳に追加
集積回路のレイアウト設計支援装置、方法、プログラム、及びデータ構造 - 特許庁
BACKGRIND-UNDERFILL INTEGRATED TAPE, AND MOUNTING METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
バックグラインド−アンダーフィル一体型テープ、及び、半導体チップの実装方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT CAPABLE OF RECONSTITUTING LOGICAL FUNCTION AND ITS METHOD例文帳に追加
論理関数機能再構成可能集積回路および再構成方法 - 特許庁
FUNCTIONAL VERIFYING METHOD AND PATTERN TRANSFORMER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の機能検証方法およびパターン変換装置 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT AND MEASURING METHOD FOR INPUT/ OUTPUT AC CHARACTERISTICS THEREOF例文帳に追加
集積回路およびその入出力交流特性の測定方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING ESD CIRCUITS FOR MULTI-CHIP MODULE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
多チップモジュール用ESD回路を含む集積回路及びその方法 - 特許庁
INTEGRATED ARTICLE OF GLASS RUN WITH QUARTER WEATHER STRIP, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
ガラスランとクォーターウエザストリップの一体成形品とその製造方法 - 特許庁
PRODUCING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE INTEGRATED WITH FILM-TYPE TOUCH PANEL例文帳に追加
フィルムタイプタッチパネルとの一体型液晶表示装置の製造方法 - 特許庁
OPTICAL DELAY CIRCUIT, INTEGRATED OPTICAL ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
光遅延回路、集積光素子および集積光素子の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR BOTTOMLESS DEPOSITION OF BARRIER LAYERS IN INTEGRATED CIRCUIT METALLIZATION SCHEMES例文帳に追加
集積回路のメタライゼーションスキームにおけるバリア層のボトムレス堆積方法 - 特許庁
When the various risks to be thus managed are integrated, is the integration method appropriate? 例文帳に追加
統合リスク計測手法を用いている場合には、本チェックリストⅢ.1. - 金融庁
HUB INTEGRATED SHAFT FOR FLUID DYNAMIC PRESSURE BEARING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
流体動圧軸受装置用のハブ一体軸及びその製造方法 - 特許庁
TRANSMITTING/RECEIVING PASSIVE ELEMENT AND ITS INTEGRATED MODULE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
送受信用受動素子、その集積モジュール及びその製造方法 - 特許庁
ORGANIC FIELD-EFFECT TRANSISTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
有機電界効果トランジスタおよびその製造方法、集積回路装置 - 特許庁
SCAN PATH METHOD BY REDUNDANT FAILURE VERIFICATION AND INTEGRATED LOGIC CIRCUIT例文帳に追加
冗長故障検証によるスキャンパス方法及び集積論理回路 - 特許庁
CURRENT LOAD DRIVING CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS AND DRIVING METHOD例文帳に追加
電流負荷駆動回路、集積回路装置、電子機器及び駆動方法 - 特許庁
MEMORY CARD, METHOD AND PROGRAM FOR PROCESSING MEMORY CARD, AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
メモリカード、メモリカード処理方法、メモリカード処理プログラム、及び集積回路 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR COMPUTING DELAY OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の遅延計算方法および遅延計算装置 - 特許庁
COMPENSATION METHOD AND SYSTEM OF REAL COORDINATES POSITION OF PIN TERMINAL OF INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加
ICパッケージのピン端子の実座標位置の補正方法および装置 - 特許庁
POSITION CORRECTING METHOD AND DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加
位置補正方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR INTEGRATED EVALUATION OF INTEREST RISK AND CREDIT RISK例文帳に追加
金利リスクと信用リスクの統合評価システム及び統合評価方法 - 特許庁
CLOCK GENERATOR, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS AND CLOCK GENERATING METHOD例文帳に追加
クロック生成装置、集積回路装置、電子機器及びクロック生成方法 - 特許庁
EVAPORATOR FROST PREVENTION CONTROL METHOD FOR FRONT AND REAR INTEGRATED HVAC SYSTEM例文帳に追加
前後機統合型HVACシステムのエバポレータ凍結防止制御方法 - 特許庁
PACKAGING DESIGN DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の実装設計装置及び実装設計方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT FOR INSPECTION, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
検査用半導体集積回路及び検査システム並びに検査方法 - 特許庁
FAILURE ANALYZING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の故障解析方法及び故障解析装置 - 特許庁
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