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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > interferometryの意味・解説 > interferometryに関連した英語例文

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interferometryを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 62



例文

The information corresponding to the plurality of models may include information on at least one amplitude component of a transformed part (e.g., a Fourier transformed part) of the scanning interferometry signal corresponding to each model of the test object.例文帳に追加

複数のモデルに対応する情報は、試験対象物の各モデルに対応する走査干渉分光信号の変換分(例えば、フーリエ変換分)の少なくとも1つの振幅成分についての情報を含んでもよい。 - 特許庁

The information corresponding to the multiple models may include information about at least one amplitude component of a transform (for example, a Fourier transform) of a scanning interferometry signal corresponding to each of the models of the test object.例文帳に追加

複数のモデルに対応する情報は、試験対象物の各モデルに対応する走査干渉分光信号の変換分(例えば、フーリエ変換分)の少なくとも1つの振幅成分についての情報を含んでもよい。 - 特許庁

To provide a measuring method and an apparatus which can measure the inner surface shape of a thin pipe having a constricted shape being 1 meter or longer with high accuracy on micron orders, in a noncontact measuring instrument that uses the white light interferometry.例文帳に追加

白色干渉法を用いた非接触測定器において、長さが1メートル以上あるくびれ形状を持つような細い管内の内面形状をミクロンオーダの高精度で計測できる測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The method includes comparing information derivable from a scanning interferometry signal for a first surface location of a test object to information corresponding to multiple models of the test object, wherein the multiple models are parameterized by a series of characteristics for the test object.例文帳に追加

試験対象物の第1の表面箇所に対する走査干渉分光信号から導出可能な情報と試験対象物の複数のモデルに対応する情報とを比較することを含む方法であって、複数のモデルは、試験対象物に対する一連の特性によってパラメータ化される方法。 - 特許庁

例文

To provide a measuring method and a measuring device capable of measuring accurately the height of a measuring object having a long-range height by utilizing low coherence interferometry, and especially to suppress calculation cost by reducing a memory capacity required at the measuring time or a calculation time.例文帳に追加

低コヒーレンス干渉法を利用して長レンジの高さを持つ測定対象の高さを精度よく測定できる測定方法及び測定装置を提供し、特に、測定時に要されるメモリの容量や計算時間を低減して計算コストを抑えることができるようにする。 - 特許庁


例文

In a method which includes comparing information derivable from a scanning interferometry signal for a first surface location of a test object to information corresponding to multiple models of the test object, the multiple models are parameterized by a series of characteristics for the test object.例文帳に追加

試験対象物の第1の表面箇所に対する走査干渉分光信号から導出可能な情報と試験対象物の複数のモデルに対応する情報とを比較することを含む方法であって、複数のモデルは、試験対象物に対する一連の特性によってパラメータ化される方法。 - 特許庁

In the surface shape measuring method, an error distribution contained in fringe order computation is estimated in the determination of fringe order of each position in two-wavelength phase-shifting interferometry (Step S21-S24), and the fringe order is determined by subtracting specified errors from the error distribution (Step S25 and S26).例文帳に追加

本発明の表面形状測定方法によれば、2波長位相シフト干渉法における各位置の縞次数の決定において、縞次数の計算に含まれる誤差分布が推定され(ステップS21〜S24)、その誤差分布から特定した誤差を差し引いて縞次数が求められる(ステップS25,S26)。 - 特許庁

To provide an image pickup device that can more easily adjust the shifting of a diffraction grating and a screen grid in Talbot interferometry than by conventional practices and enables stripe scanning to be accomplished while restraining blurring of phase images due to variations in the direction of incidence of light coming incident on an object of examination.例文帳に追加

トールボット干渉法において、従来よりも回折格子及び遮蔽格子の移動の調整が容易で、かつ被検体に対して入射する光の入射方向の変化による位相像のぼけを抑制して縞走査法を行うことができる撮像装置を提供すること。 - 特許庁

This polyester film for optical uses having a coated layer having an easily bondable property with the curable resin on at least one of the film surfaces is characterized by having ≥0.7 density (number/mm^2) of projections having5th interference patterns observed by a double beam interferometry, on the coated layer surface.例文帳に追加

硬化性樹脂に対して易接着性を有する塗布層を少なくとも一方のフィルム面に有し、当該塗布層表面における二光束干渉法で観察される5次以上の干渉縞を有する突起の密度(個/mm^2)が0.7以上であることを特徴とする光学用ポリエステルフィルム。 - 特許庁

例文

To provide a vibration measuring device and a vibration measuring method which can determine a position of a measurement target with a high precision in μ-meter order by using white light interferometry, further detect a vibration frequency of the measurement target at high speed in kHz order, and measure a vibration displacement amount in nanometer order.例文帳に追加

白色干渉法を用いて、μメートルオーダの高精度で測定対象物の位置を決定し、さらに測定対象物の振動周波数をkHzオーダの高速で検出でき、かつナノメートルオーダの振動変位量を測定できる振動測定装置及び振動測定方法を提供する。 - 特許庁

例文

This light scattering biaxially stretched polyester film has a coating layer having easy adhesivity to a curable resin on one surface thereof, has an uneven face with projection density (pieces/mm^2) of 5 or above showing interference fringes of fifth or higher order observed by two-beam interferometry on the other surface thereof, and has 10% or higher haze as of the whole film.例文帳に追加

硬化性樹脂に対して易接着性を有する塗布層を片面に有し、当該塗布層とは反対面に、二光束干渉法で観察される5次以上の干渉縞を有する突起の密度(個/mm^2)が5以上である凹凸面を有し、フィルム全体のヘーズが10%以上であることを特徴とする光散乱性二軸延伸ポリエステルフィルム。 - 特許庁

例文

To provide a method and a device used for accurately measuring dynamic deformation, vibration, distortion or the like of an observing object by using an electronic speckle interferometry, and capable of facilitating a phase unlapping process to an extent allowing detection of a connection point of a phase change curve to be automated in executing the phase unlapping process of the phase change curve in a time domain.例文帳に追加

電子的スペックル干渉法を用いて、観察物体の動的な変形、振動、歪等を高精度に計測する方法および装置において、時間領域における位相変化曲線の位相アンラッピング処理を行う際に、該位相変化曲線における位相の接続点の検出を自動化する程度まで容易なものとする。 - 特許庁




  
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