「interferometry」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

LASER INTERFEROMETER, AND LASER INTERFEROMETRY例文帳に追加

レーザ干渉測長装置及びレーザ干渉測長方法 - 特許庁

MICRO-HEIGHT MEASURING DEVICE USING LOW COHERENCE INTERFEROMETRY例文帳に追加

低コヒーレンス干渉法を用いた微小高さ測定装置 - 特許庁

OPTICAL FIBER ASSAY APPARATUS BASED ON PHASE-SHIFT INTERFEROMETRY例文帳に追加

位相シフト干渉法に基づく光ファイバー検定装置 - 特許庁

SPECKLE REDUCTION METHOD AND SYSTEM FOR EUV INTERFEROMETRY例文帳に追加

スペックル低減方法およびＥＵＶ干渉法のためのシステム - 特許庁

PROFILING COMPLEX SURFACE STRUCTURE USING SCANNING INTERFEROMETRY例文帳に追加

走査干渉分光を用いた複雑な表面構造のプロファイリング - 特許庁

DYNAMIC LIGHT SCATTERING MEASURING DEVICE USING LOW COHERENCE INTERFEROMETRY例文帳に追加

低コヒーレンス干渉法を用いた動的光散乱測定装置 - 特許庁

The coma aberration can be measured using interferometry.例文帳に追加

コマ収差の測定は、干渉法を用いて行うことができる。 - 特許庁

The processing is accumulated for 1CI (Carrier Interferometry) signals to rotate the accumulated data.例文帳に追加

この処理は1CI信号分蓄積し、蓄積したデータをローテートする。 - 特許庁

DYNAMIC LIGHT SCATTERING MEASURING DEVICE USING PHASE MODULATION TYPE INTERFEROMETRY例文帳に追加

位相変調型干渉法を用いた動的光散乱測定装置 - 特許庁

DEFORMATION MEASUREMENT METHOD AND DEVICE USING ELECTRONIC SPECKLE INTERFEROMETRY例文帳に追加

電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法および装置 - 特許庁

ACTIVE CONTROL OF TWO ORTHOGONAL POLARIZATIONS FOR HETERODYNE INTERFEROMETRY例文帳に追加

ヘテロダインインターフェロメトリ用の２つの直交偏光の能動的制御 - 特許庁

VIBRATION MEASURING DEVICE AND VIBRATION MEASURING METHOD ACCORDING TO WHITE LIGHT INTERFEROMETRY例文帳に追加

白色干渉法による振動測定装置及び振動測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING THIN FILM ELEMENT USING OPTICAL MULTI-WAVELENGTH INTERFEROMETRY例文帳に追加

光学マルチ波長インターフェロメトリーを使用した薄膜素子測定方法 - 特許庁

VIBRATION MEASUREMENT METHOD AND APPARATUS USING ELECTRONIC SPECKLE INTERFEROMETRY例文帳に追加

電子スペックル干渉法を用いた振動の測定方法および測定装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING TISSUE USING LOW-COHERENCE INTERFEROMETRY例文帳に追加

低コヒーレンス干渉計を用いて組織を識別するためのシステムおよび方法 - 特許庁

INTERFEROMETER SYSTEM AND METHOD OF OPTICAL INTERFEROMETRY FOR MEASURING MOVING BODY例文帳に追加

動体測定用干渉計装置および動体測定用光干渉計測方法 - 特許庁

NONINVASIVE CHARACTERIZATION OF FLOWING MULTIPHASE FLUID USING ULTRASONIC INTERFEROMETRY例文帳に追加

超音波干渉法を使用する流動多相流体の非侵襲的な特徴付け - 特許庁

To provide a method for measuring a thin film element using an optical multi-wavelength interferometry.例文帳に追加

光学マルチ波長インターフェロメトリーを使用した薄膜素子測定方法の提供。 - 特許庁

A method for measuring a film element using an optical multi-wavelength interferometry is revealed.例文帳に追加

光学マルチ波長インターフェロメトリー使用の薄膜素子測定方法が開示される。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EXECUTION OF FILM THICKNESS MEASUREMENT USING WHITE LIGHT SCANNING INTERFEROMETRY例文帳に追加

白色光走査干渉法を使用した膜厚測定を行うための方法及び装置 - 特許庁

To provide a method for using broadband interferometry to measure thickness of a transparent film.例文帳に追加

広帯域干渉法によって透明な膜の厚さを測定する方法を提供する。 - 特許庁

To realize an interferometer system and a method of an optical interferometry for measuring a moving body, which carry out the optical interferometry for a test body having an object section to be measured which is moved sequentially.例文帳に追加

測定対象となる部分が順次移動するような被検体を光干渉計測し得る動体測定用干渉計装置および動体測定用光干渉計測方法を得る。 - 特許庁

To provide a minute displacement measuring apparatus enabling smooth performance of statistical interferometry.例文帳に追加

統計的干渉計測法の円滑な実施を可能にする微小変位計測装置を提供する。 - 特許庁

To improve irradiation luminosity in an imaging apparatus using two-dimensional Talbot-Lau interferometry.例文帳に追加

２次元のトールボット・ロー干渉法を用いた撮像装置における照射光度を向上させること。 - 特許庁

To provide means for eliminating the ambiguities associated with the use of interferometry using only two receivers.例文帳に追加

２つのレシーバだけを使用して干渉を用いた関連する曖昧さを除去する手段を提供する。 - 特許庁

To increase intensity of a carrier frequency in an imaging apparatus employing two-dimensional Talbot interferometry.例文帳に追加

２次元トールボット干渉法を用いた撮像装置において、キャリア周波数の強度を大きくすること。 - 特許庁

On a third side face, comparison includes clarifying the systematic influence of the scanning interferometry signal.例文帳に追加

第３の側面では、比較は、走査干渉分光信号の系統的な影響を明確にすることを含む。 - 特許庁

In a third aspect, the comparing includes accounting for systematic contributions to the interferometry signal.例文帳に追加

第３の側面では、比較は、走査干渉分光信号の系統的な影響を明確にすることを含む。 - 特許庁

As enlarging a measuring range by two-wavelength phase-shifting interferometry, it is therefore possible to reduce the effects of errors due to fringe order errors in its arithmetic processes and maintain original high accuracy in phase-shift interferometry.例文帳に追加

このため、２波長位相シフト干渉法により計測レンジを拡大しつつ、その演算過程における縞次数誤りによる誤差の影響を少なくし、位相シフト干渉法本来の高い精度を維持することができる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for determining a height map of the surface of an object through the use of white-light interferometry.例文帳に追加

白色光干渉法を用いて物体表面の高さマップを求める方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser interferometer and laser interferometry for suppressing the manufacturing cost and eliminating the influence of modulation.例文帳に追加

製造コストを抑制し且つ変調による影響を解消したレーザ干渉測長装置及びレーザ干渉測長方法を提供する。 - 特許庁

The derivable information being compared relates to a shape of the scanning interferometry signal for the first surface location of the test object.例文帳に追加

比較される導出可能な情報は、試験対象物の第１の箇所における走査干渉分光信号の形状に関する。 - 特許庁

To measure surface topography and/or other characteristics of an object having a complex surface structure using scanning interferometry.例文帳に追加

複雑な表面構造を有する対象物の表面トポグラフィおよび／または他の特性を、走査干渉分光法を用いて測定する。 - 特許庁

To measure surface topography and/or other characteristics of an object having a complex surface structure, using a scanning interferometry.例文帳に追加

複雑な表面構造を有する対象物の表面トポグラフィおよび／または他の特性を、走査干渉分光法を用いて測定する。 - 特許庁

By updating the reference images, it is possible to enlarge a measuring range, when minute displacements are measured through the use of statistical interferometry.例文帳に追加

基準画像の更新により、統計的干渉計測法を用いて微小変位を計測する際の測定レンジを拡大することができる。 - 特許庁

An areal (XY) determination of working layer thickness is made by ellipsometry, laser interferometry or x-ray diffraction or other known means.例文帳に追加

偏光解析法、レーザ干渉法、又はｘ線回折法又はその他の既知の手段により加工層７０の領域的（ＸＹ）厚さの決定が行われる。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring device capable of measuring the wavefront aberration of an optical system under test by a relatively simple constitution without using an interferometry.例文帳に追加

干渉法を用いることなく、比較的簡素な構成にしたがって被検光学系の波面収差を計測することのできる波面収差計測装置。 - 特許庁

To provide a speckle reduction method and a system for EUV interferometry by which a wavefront quality measurement in an optical lithography tool is improved to be made even during wafer fabrication and exposure, without forcing the tool during measurement to be off-line.例文帳に追加

光リソグラフィツールにおける波面品質測定が、測定中のツールのオフラインを強いることなくウエハ作製／露光中でも可能となるように改善を行うこと。 - 特許庁

To provide a speckle reduction method and a system for EUV interferometry by which a wavefront quality measurement in an optical lithography tool is improved to be made even during wafer fabrication and exposure, without forcing the tool during measurement to be off-line.例文帳に追加

光リソグラフィツールにおける波面品質測定が、測定中のツールのオフラインを強いることなくウエハ作製/露光中でも可能となるように改善を行うこと。 - 特許庁

A plurality of these interferometers can be stacked, each being optimized for a specific pitch so that the stack provides a variable pitch interferometry system.例文帳に追加

これらの複数の干渉計は積層することができ、その各々は積層体が可変ピッチ干渉システムを提供するように、特定のピッチに対して最適化される。 - 特許庁

To provide a surface shape measuring method capable of long-range measurement by improving measurement accuracy in two-wavelength phase-shifting interferometry and only slightly improving a conventional phase-shift optical system.例文帳に追加

２波長位相シフト干渉法の計測精度を改善し、従来の位相シフト光学系のわずかな改良で長レンジの計測を可能とする表面形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a multilayer film with small dispersion of the thickness of the multilayer film and of each layer within the film, by making the thickness of each layer accurately measurable with optical interferometry.例文帳に追加

光干渉方式で、各層の厚みを正確に測定可能にすることにより多層フィルムおよびフィルム内各層の膜厚バラツキの少ない多層フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a speckle interferometry system of a two-flux illuminating direction switchable type, which simultaneously and precisely carry out respective phase shift operations about illuminations of two fluxes in directions different from each other.例文帳に追加

互いに異なる方向からの２光束照射に係る各々の位相シフト操作を高精度に同時に行なうことが可能な２光束照射方向切替型のスペックル干渉計装置を得る。 - 特許庁

To provide a submarine audio/video system capable of generating three-dimensional images of a seabed, objects on the seabed and objects under the seabed at a high resolution using a synthetic aperture technique and an interferometry technique.例文帳に追加

合成開口技術とインターフェロメトリ技術を用い、海底面及び海底面上、及び海底面下の物体の三次元画像を高分解能で生成可能な海底音響映像システムを提供する。 - 特許庁

By performing interferometry processing using orbit data and image data of two satellites which form the selected baseline, high-accuracy measurement of the altitude of measure points becomes possible.例文帳に追加

選択されたベースラインを形成する２つの衛星の軌道データと画像データを用いてインタフェロメトリ処理を行うことによって、測定点の高度測定が精度良く行うことができるようになった。 - 特許庁