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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > manufacturing testingに関連した英語例文

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manufacturing testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 306



例文

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TESTING SYSTEM, AND MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加

半導体テスト装置、テストシステムおよび製造装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験装置及び製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING AND TESTING COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

通信システムの製造及び試験 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

検査システム,検査方法,及び電子装置の製造方法 - 特許庁

例文

TESTING APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁


例文

TESTING TOOL AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験用具、およびそれの製造方法 - 特許庁

INVERTER TESTING DEVICE, INVERTER TESTING METHOD, AND INVERTER MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

インバータ試験装置、インバータの試験方法、インバータの製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC HEAD FOR TESTING, AND TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加

試験用磁気ヘッドの製造方法及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING HEAD ELEMENT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

ヘッド素子の製造方法及び試験装置 - 特許庁

例文

SUBSTRATE FOR MANUFACTURING OR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の製造または試験用基板 - 特許庁

例文

CIRCUIT BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, ELECTRICAL TESTING TOOL, AND ELECTRICAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

回路基板、その製造方法、電気検査ジグ、および電気検査装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, OPTICAL CONNECTION PART AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験装置、光接続部、及び製造方法 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a testing apparatus, and to provide the testing apparatus itself.例文帳に追加

試験装置の製造方法とその試験装置自体とを提供する。 - 特許庁

CONCRETE STRENGTH TESTING SAMPLE PIECE MANUFACTURING MOLD, AND CONCRETE STRENGTH TESTING SAMPLE PIECE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

コンクリート強度試験用供試体作製型、及びコンクリート強度試験用供試体の作製方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR TESTING BENDING STRENGTH例文帳に追加

曲げ強度試験用供試体の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体装置、試験装置、および製造方法 - 特許庁

TEMPLATE TESTING METHOD, TEMPLATE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING THE TEMPLATE AND TESTING SYSTEM FOR THE TEMPLATE例文帳に追加

検査方法、テンプレート製造方法、半導体集積回路製造方法および検査システム - 特許庁

STEP RECOVERY DIODE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ステップリカバリダイオード、試験装置、及び製造方法 - 特許庁

CERAMIC SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND FOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体製造・検査装置用セラミック基板 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR CHROMATOGRAPHY, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

クロマトグラフィー用試験具及びその製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING AND TESTING METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の製造方法及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND TESTING JIG例文帳に追加

半導体装置およびその製造方法と検査方法および検査用治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING TOOL AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路検査治具及びその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体製造装置、および半導体検査装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF BOARD, TESTING DEVICE OF BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加

基板の検査方法、基板の検査装置および電気光学装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, TESTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME SYSTEM例文帳に追加

投影光学系の検査方法、検査装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

検査装置及び検査方法、集積回路素子の製造方法、集積回路素子 - 特許庁

OPERATION TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC APPARATUS, OPERATION TESTING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置の動作試験装置、動作試験方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁

MCM, MCM-MANUFACTURING METHOD AND MCM-TESTING METHOD例文帳に追加

MCMおよびMCMの製造方法とテスト方法 - 特許庁

FUEL ROD TESTING METHOD, FUEL ROD TESTING APPARATUS, AND FUEL ASSEMBLY MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

燃料棒検査方法、燃料棒検査装置および燃料集合体の製造方法 - 特許庁

TESTING CARTRIDGE FOR SPACE LABORATORY FOR MANUFACTURING APPARATUS OF SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶製造装置の宇宙実験用カートリッジ - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体装置とその試験方法及び製造方法 - 特許庁

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING METHOD, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING PROGRAM, AND PRINTED CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD, MANUFACTURING DEVICE, TESTING DEVICE, TEST METHOD, AND SUBSTRATE FOR CONNECTION例文帳に追加

製造方法、製造装置、試験装置、試験方法および接続用基板 - 特許庁

PROBE PIN, PROBE CARD, TESTING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加

プローブピン、プローブカード、試験装置、及びプローブピン製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁

SEALED ARTICLE, ITS LEAKAGE TESTING METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法 - 特許庁

SILICON SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE, DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

シリコン基板、デバイスの製造方法、デバイスおよびテスト方法 - 特許庁

DEVICE PACKAGE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁

TESTING MODEL FOR GAS TURBINE COMBUSTOR DOME AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ガスタービン燃焼器ドームの試験モデル及びその製作方法 - 特許庁

DEVICE PACKAGE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD例文帳に追加

デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体装置の製造方法及び半導体試験装置 - 特許庁

CERAMIC HEATER AND SUPPOTING PIN FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体製造・検査装置用セラミックヒータおよび支持ピン - 特許庁

CONTACTOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD USING CONTACTOR例文帳に追加

コンタクタ、その製造方法及びコンタクタを用いた試験方法 - 特許庁

COVER SHEET FOR MICROORGANISM TESTING, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND KIT FOR MICROORGANISM TESTING例文帳に追加

微生物検査用カバーシート、微生物検査用カバーシートの製造方法、及び微生物検査用キット - 特許庁

CONTACT SHEET FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品のテスト用コンタクトシート、電子部品のテスト装置、電子部品のテスト方法及び電子部品の製造方法、及び電子部品 - 特許庁

EXPOSURE SYSTEM, METHOD OF TESTING EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

露光システム、露光装置のテスト方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法 - 特許庁

例文

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PATTERN AND METHOD OF MANUFACTURING MASK例文帳に追加

パターン検査方法、パターン検査装置およびマスクの製造方法 - 特許庁




  
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