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manufacturing testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 306件
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TESTING SYSTEM, AND MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加
半導体テスト装置、テストシステムおよび製造装置 - 特許庁
MANUFACTURING AND TESTING COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
通信システムの製造及び試験 - 特許庁
TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
検査システム,検査方法,及び電子装置の製造方法 - 特許庁
INVERTER TESTING DEVICE, INVERTER TESTING METHOD, AND INVERTER MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
インバータ試験装置、インバータの試験方法、インバータの製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC HEAD FOR TESTING, AND TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加
試験用磁気ヘッドの製造方法及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
SUBSTRATE FOR MANUFACTURING OR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の製造または試験用基板 - 特許庁
CIRCUIT BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, ELECTRICAL TESTING TOOL, AND ELECTRICAL TESTING APPARATUS例文帳に追加
回路基板、その製造方法、電気検査ジグ、および電気検査装置 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a testing apparatus, and to provide the testing apparatus itself.例文帳に追加
試験装置の製造方法とその試験装置自体とを提供する。 - 特許庁
CONCRETE STRENGTH TESTING SAMPLE PIECE MANUFACTURING MOLD, AND CONCRETE STRENGTH TESTING SAMPLE PIECE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
コンクリート強度試験用供試体作製型、及びコンクリート強度試験用供試体の作製方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR TESTING BENDING STRENGTH例文帳に追加
曲げ強度試験用供試体の製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
半導体装置、試験装置、および製造方法 - 特許庁
TEMPLATE TESTING METHOD, TEMPLATE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING THE TEMPLATE AND TESTING SYSTEM FOR THE TEMPLATE例文帳に追加
検査方法、テンプレート製造方法、半導体集積回路製造方法および検査システム - 特許庁
CERAMIC SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND FOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体製造・検査装置用セラミック基板 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR CHROMATOGRAPHY, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
クロマトグラフィー用試験具及びその製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING AND TESTING METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の製造方法及び試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND TESTING JIG例文帳に追加
半導体装置およびその製造方法と検査方法および検査用治具 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体製造装置、および半導体検査装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF BOARD, TESTING DEVICE OF BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加
基板の検査方法、基板の検査装置および電気光学装置の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, TESTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME SYSTEM例文帳に追加
投影光学系の検査方法、検査装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
検査装置及び検査方法、集積回路素子の製造方法、集積回路素子 - 特許庁
OPERATION TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC APPARATUS, OPERATION TESTING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
電子装置の動作試験装置、動作試験方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁
FUEL ROD TESTING METHOD, FUEL ROD TESTING APPARATUS, AND FUEL ASSEMBLY MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
燃料棒検査方法、燃料棒検査装置および燃料集合体の製造方法 - 特許庁
TESTING CARTRIDGE FOR SPACE LABORATORY FOR MANUFACTURING APPARATUS OF SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
単結晶製造装置の宇宙実験用カートリッジ - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体装置とその試験方法及び製造方法 - 特許庁
PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING METHOD, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING PROGRAM, AND PRINTED CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD, MANUFACTURING DEVICE, TESTING DEVICE, TEST METHOD, AND SUBSTRATE FOR CONNECTION例文帳に追加
製造方法、製造装置、試験装置、試験方法および接続用基板 - 特許庁
PROBE PIN, PROBE CARD, TESTING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加
プローブピン、プローブカード、試験装置、及びプローブピン製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁
SEALED ARTICLE, ITS LEAKAGE TESTING METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法 - 特許庁
SILICON SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE, DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
シリコン基板、デバイスの製造方法、デバイスおよびテスト方法 - 特許庁
DEVICE PACKAGE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁
TESTING MODEL FOR GAS TURBINE COMBUSTOR DOME AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
ガスタービン燃焼器ドームの試験モデル及びその製作方法 - 特許庁
DEVICE PACKAGE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD例文帳に追加
デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体装置の製造方法及び半導体試験装置 - 特許庁
CERAMIC HEATER AND SUPPOTING PIN FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体製造・検査装置用セラミックヒータおよび支持ピン - 特許庁
CONTACTOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD USING CONTACTOR例文帳に追加
コンタクタ、その製造方法及びコンタクタを用いた試験方法 - 特許庁
COVER SHEET FOR MICROORGANISM TESTING, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND KIT FOR MICROORGANISM TESTING例文帳に追加
微生物検査用カバーシート、微生物検査用カバーシートの製造方法、及び微生物検査用キット - 特許庁
CONTACT SHEET FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品のテスト用コンタクトシート、電子部品のテスト装置、電子部品のテスト方法及び電子部品の製造方法、及び電子部品 - 特許庁
EXPOSURE SYSTEM, METHOD OF TESTING EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
露光システム、露光装置のテスト方法及びデバイス製造方法 - 特許庁
LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法 - 特許庁
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