| 意味 | 例文 |
measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
APPARATUS FOR OPTICALLY MEASURING OBJECT, AND METHOD FOR MEASURING USING THE SAME例文帳に追加
物体の光学的測定を行うための装置及びその装置を用いた測定方法 - 特許庁
TRUNK VISCERAL FAT MEASURING METHOD AND INSTRUMENT, AND TRUNK SKELETAL MUSCLE AMOUNT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
体幹内臓脂肪測定方法および装置並びに体幹骨格筋量測定装置 - 特許庁
MEASURING CIRCUIT FOR AMOUNT OF CLEARANCE OF MAGNETIC HEAD AND MEASURING METHOD FOR THE AMOUNT OF CLEARANCE APPLIED TO THE CIRCUIT例文帳に追加
磁気ヘッドの隙間量測定回路及びそれに適用する隙間量測定方法 - 特許庁
LENGTH-MEASURING BAND IN WEFT STORAGE DEVICE OF LOOM AND METHOD FOR PRODUCING LENGTH-MEASURING BAND例文帳に追加
織機の緯糸貯留装置における測長バンド及び測長バンドの製造方法 - 特許庁
RESISTANCE COMPONENT CURRENT MEASURING APPARATUS AND RESISTANCE COMPONENT CURRENT MEASURING METHOD OF NONLINEAR ELEMENT例文帳に追加
非線形素子の抵抗分電流測定装置および抵抗分電流測定方法 - 特許庁
INFRARED MOLECULAR VIBRATION ANALYZER, SYSTEM FOR MEASURING ORGANISM DATA, AND METHOD FOR MEASURING THE ORGANISM DATA例文帳に追加
赤外分子振動解析装置、生体データ測定システムおよび生体データ測定方法 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING AMOUNT OF ATTACHED TONER, IMAGE FORMING APPARATUS, AND METHOD FOR MEASURING QUANTITY OF ATTACHED TONER例文帳に追加
トナー付着量測定装置、画像形成装置及びトナー付着量測定方法 - 特許庁
WAVE ABERRATION MEASURING DEVICE, WAVE ABERRATION MEASURING METHOD AND INSPECTION LENS HOLDING ADJUSTING MECHANISM例文帳に追加
波面収差測定装置、波面収差測定方法、及び被検レンズ保持調整機構 - 特許庁
WIRE SUPPORT POINT MEASURING METHOD AND WIRE SUPPORT POINT MEASURING MEMBER FOR WIRE CUT ELECTRIC DISCHARGE MACHINE例文帳に追加
ワイヤカット放電加工機のワイヤ支持位置測定方法およびワイヤ支持位置測定用部材 - 特許庁
CONSTANT MEASURING APPARATUS OF COMMON MODE EQUIVALENT CIRCUIT, AND CONSTANT MEASURING METHOD OF COMMON MODE EQUIVALENT CIRCUIT例文帳に追加
コモンモード等価回路の定数測定器およびコモンモード等価回路の定数測定方法 - 特許庁
RESIDUAL PESTICIDE EXTRACT, KIT FOR MEASURING RESIDUAL PESTICIDE AND METHOD FOR MEASURING RESIDUAL PESTICIDE例文帳に追加
残留農薬抽出液、残留農薬測定用キット及び残留農薬測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING MOISTURE RATIO OF W/O EMULSION AND MOISTURE RATIO MEASURING DEVICE例文帳に追加
W/O型エマルジョン液体の水分比率測定方法及び水分比率測定装置 - 特許庁
The frequency measuring method: the frequency is measured by a laser diffraction/scattering grain size distribution measuring apparatus.例文帳に追加
頻度測定法:レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置により測定する。 - 特許庁
REFRACTIVE INDEX MEASURING METHOD UTILIZING TRANSMISSION PHENOMENON OF EVANESCENT WAVE AND ITS MEASURING DEVICE例文帳に追加
エバネセント波の透過現象を利用する屈折率測定法およびその測定装置 - 特許庁
BEVERAGE CONTAINER TYPE OSCILLATION MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING OSCILLATION OF BEVERAGE CONTAINER例文帳に追加
飲料用容器型振動測定装置および飲料用容器の振動測定方法 - 特許庁
DIFFERENTIAL IMPEDANCE MEASURING TERMINAL SELECTING DEVICE, DIFFERENTIAL IMPEDANCE MEASURING METHOD, AND OPTICAL DISK DEVICE例文帳に追加
差動インピーダンス測定端子選択装置、差動インピーダンス測定方法、及び、光ディスク装置 - 特許庁
MEASURING METHOD AND DEVICE FOR LEAKAGE GAS AND EVALUATION DEVICE OF THE LEAKAGE GAS MEASURING DEVICE例文帳に追加
漏洩ガス測定方法、漏洩ガス測定装置、及び漏洩ガス測定装置の評価装置 - 特許庁
MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF INVERSION PITCH AND INVERSION ANGLE FOR SPACER FOR CARRYING OPTICAL FIBER例文帳に追加
光ファイバ担持用スペーサの反転ピッチ及び反転角度の測定装置及び測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加
SPMの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁
TEMPERATURE CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE FOR WAVELENGTH SELECTION OPTICAL FILTER, AND MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
波長選択光フィルタ用温度特性測定装置及びそれを用いた測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING RELEASE FORCE OF INJECTION MOLDED PRODUCT AND MEASURING MOLD USED THEREFOR例文帳に追加
射出成形品の離型力測定方法、及びそれに用いる測定用金型 - 特許庁
To provide a gas temperature measuring method capable of stably measuring a high gas temperature over a long period.例文帳に追加
長期に安定して高いガス温度を計測できるガス温度計測方法の提供。 - 特許庁
SIGNAL PROCESSOR FOR SCANNING TYPE DISTANCE MEASURING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING METHOD AND SCANNING TYPE DISTANCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加
走査式測距装置の信号処理装置、信号処理方法、及び走査式測距装置 - 特許庁
RESONANCE DEVICE, ESPECIALLY MICROWAVE RESONANCE DEVICE, AND MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
共振装置、特にマイクロ波共振装置、および測定装置並びに測定する方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF DISTANCE BETWEEN PANEL AND COLOR SELECTION MECHANISM IN CATHODE-RAY TUBE, AND ITS MEASURING DEVICE例文帳に追加
陰極線管のパネルと色選別機構間距離の測定方法、及びその測定装置 - 特許庁
ELECTRODE WEAR MEASURING METHOD FOR SPOT WELDING EQUIPMENT AND ELECTRODE WEAR MEASURING APPARATUS例文帳に追加
スポット溶接装置の電極消耗量計測方法及び電極消耗量計測装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE MEASURING SYSTEM, CONTROL METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE MEASURING SYSTEM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
半導体装置測定システム、半導体装置測定システムの制御方法及び記憶媒体 - 特許庁
MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD FOR COLOR-SELECTION ELECTRODE STRUCTURE FOR COLOR CATHODE-RAY TUBE例文帳に追加
カラー陰極線管用の色選別電極構体の測定装置、及びその測定方法。 - 特許庁
MEASURING INSTRUMENT FOR INSPECTING OBJECT OPTICALLY, AND OPERATION METHOD FOR MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
対象物を光学的に検査するための測定器およびこの測定器の作動方法 - 特許庁
CONTINUOUS MEASURING METHOD FOR DEGREE OF VACUUM AND MEASURING SYSTEM FOR DEGREE OF VACUUM AND ITS PROGRAM例文帳に追加
真空度の連続的計測方法及び真空度計測システム並びにそのプログラム - 特許庁
GLASS TUBE DRAWING DEVICE WITH TUBE DIAMETER MEASURING INSTRUMENT, AND TUBE DIAMETER MEASURING METHOD FOR GLASS TUBE例文帳に追加
管径測定装置を有するガラス管引き装置およびガラス管の管径測定方法 - 特許庁
COLOR SHIFT QUANTITY MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD, AND RECORDING MEDIUM AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加
色ずれ量測定装置、色ずれ量測定方法、記録媒体及び画像形成装置 - 特許庁
AXIAL ALIGNER, FILM THICKNESS MEASURING APPARATUS, FILM FORMING APPARATUS, METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FILM THICKNESS例文帳に追加
軸出し装置、膜厚測定装置、成膜装置、軸出し方法及び膜厚測定方法 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING TRANSMITTED LIGHT AMOUNT AND DEVICE FOR MEASURING RELATIVE ABSORBANCE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
透過光量測定装置及び相対吸光度測定装置、並びにこれらの測定方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE OF CIRCULAR PIPE INSIDE PAINT FILM THICKNESS, AND MEASURING METHOD OF CIRCULAR PIPE INSIDE PAINT FILM THICKNESS例文帳に追加
円管内塗膜厚さ測定装置及び円管内塗膜厚さの測定方法 - 特許庁
DRIVE APPARATUS FOR MEASURING MOTION CHARACTERISTICS OF HEAD GIMBAL ASSEMBLY, AND METHOD FOR MEASURING MOTION CHARACTERISTICS例文帳に追加
ヘッド・ジンバル・アッセンブリの運動特性測定用駆動装置及び運動特性測定方法 - 特許庁
DISPLACEMENT SENSOR, DISPLACEMENT MEASURING METHOD, AND DISPLACEMENT MEASURING DEVICE USING SURFACE ACAUSTIC WAVE ELEMENT例文帳に追加
弾性表面波素子を用いた変位センサ、変位測定方法及び変位測定装置。 - 特許庁
SURFACE PROPERTY MEASURING DEVICE, SURFACE PROPERTY MEASURING METHOD, AND SURFACE PROPERTY MEASUREMENT PROGRAM例文帳に追加
表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラム - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING INTERNAL DIAMETER, AND RING LIGHT IRRADIATION DEVICE FOR INTERNAL DIAMETER MEASURING DEVICE例文帳に追加
内径計測方法およびその装置および内径計測装置用リング光照射器 - 特許庁
PIPELINE SHAPE MEASURING INSTRUMENT FOR BURIED PIPE, AND PIPELINE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
埋設管の管路線形計測装置及びこれを用いた管路線形計測方法 - 特許庁
To provide a method of measuring glycated albumin capable of reducing the errors in measuring operation.例文帳に追加
測定操作の誤差を小さくできる糖化アルブミンの測定方法の提供を課題とする。 - 特許庁
RECESS AND PROJECTION MEASURING METHOD, RECESS AND PROJECTION MEASURING DEVICE AND SUBSTRATE TREATMENT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体基板の凹凸測定方法及び凹凸測定装置及び基板処理装置 - 特許庁
TRANSMITTED LIGHT QUANTITY MEASURING DEVICE FOR SHADING MEMBER AND TRANSMITTED LIGHT QUANTITY MEASURING METHOD FOR SHADING MEMBER例文帳に追加
遮光部材の透過光量測定装置、遮光部材の透過光量測定方法 - 特許庁
INSULATION RESISTANCE MEASURING APPARATUS, POWER SOURCE SUPPLY SYSTEM, CAR, AND INSULATION RESISTANCE MEASURING METHOD例文帳に追加
絶縁抵抗測定装置、電源供給システム、車両および絶縁抵抗測定方法 - 特許庁
DISPLACEMENT QUANTITY MEASURING INSTRUMENT USING MULTIPROBE AND DISPLACEMENT QUANTITY MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加
マルチプローブを用いた変位量測定装置及びそれを用いた変位量測定方法 - 特許庁
BEAM MEASURING DEVICE AND BEAM MEASURING METHOD FOR MULTI-BEAM SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
マルチビーム走査光学系ビーム測定装置及びマルチビーム走査光学系ビーム測定方法 - 特許庁
CONDUCTIVITY MEASURING APPARATUS AND CONDUCTIVITY MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
導電率測定装置および導電率測定装置を用いた導電率測定方法 - 特許庁
OPTICAL MASK FOR MEASURING LIGHT ABERRATION AND LIGHT ABERRATION MEASURING METHOD BY USING THE SAME例文帳に追加
光収差を測定するための光学マスク及びこれを利用した光収差測定方法 - 特許庁
ACOUSTIC DEVICE, DELAY TIME MEASURING METHOD, DELAY TIME MEASURING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM THEREOF例文帳に追加
音響装置、遅延時間測定方法、遅延時間測定プログラム及びその記録媒体 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|