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pattern generationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1517件
A pattern generation control part 2 reads pattern generation information from a pattern generation information memory 4, and generates a pattern type, a PROG (program) memory address and a PRBS (Pseudo Random Binary Sequence) pattern information from the designation of a pattern in the pattern generation information and the length of the pattern.例文帳に追加
パターン発生制御部2は、パターン発生情報メモリ4からパターン発生情報を読み出して、パターン発生情報内のパターンの指定とパターンの長さからパターンタイプとPROGメモリアドレスとPRBSパターン情報を生成する。 - 特許庁
Then, the pattern generation control part 2 outputs a pattern type to a pattern composing part 20, the PROG memory address to a programmable pattern memory 16, and the PRBS pattern information to a PRBS pattern generation part 18.例文帳に追加
そして、パターンタイプをパターン合成部20に、PROGメモリアドレスをプログラマブルパターンメモリ16に、PRBSパターン情報をPRBSパターン発生部18に出力する。 - 特許庁
Relating to the pattern recognition dictionary preparing device 1, a pattern generation system 10 generates an irregular learning pattern by using a pattern generation dictionary 11 and provides the generated pattern to a pattern recognition system 20.例文帳に追加
パターン生成系10において、パターン生成辞書11を用いてイレギュラー学習パターンを生成し、これをパターン認識系20に提示する。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERN GENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE例文帳に追加
テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT例文帳に追加
自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁
ALTERNATIVE READING PATTERN GENERATION METHOD, APPARATUS, AND PROGRAM例文帳に追加
読替パターン生成装置、方法及びプログラム - 特許庁
CONTENT REPRODUCTION PATTERN GENERATION DEVICE, CONTENT REPRODUCTION SYSTEM, AND CONTENT REPRODUCTION PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
コンテンツ再生パターン生成装置、コンテンツ再生システム及びコンテンツ再生パターン生成方法 - 特許庁
MASK PATTERN DATA GENERATION METHOD, MASK MANUFACTURING METHOD, MASK AND MASK PATTERN DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加
マスクパターンデータ生成方法、マスクの製造方法、マスク及びマスクパターンデータ生成プログラム - 特許庁
WIRING PATTERN GENERATION DEVICE, WIRING PATTERN GENERATION PROGRAM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
配線パターン生成装置、配線パターン生成プログラム、および、半導体装置の製造方法 - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD WHEREIN CALCULATOR IS USED AND PATTERN GENERATION例文帳に追加
計算機を用いたパターン評価方法およびパターン生成方法 - 特許庁
TEST DEVICE, PATTERN GENERATING DEVICE, TEST METHOD, AND PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
テスト装置、パタン生成装置、テスト方法、及びパタン生成方法 - 特許庁
TIME SERIES PATTERN GENERATING APPARATUS AND TIME SERIES PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
時系列パターン生成装置及び時系列パターン生成方法 - 特許庁
TIME SERIES PATTERN GENERATION SYSTEM AND TIME SERIES PATTERN GENERATING METHOD例文帳に追加
時系列パターン生成システム及び時系列パターン生成方法 - 特許庁
MASK PATTERN VERIFICATION METHOD, MASK PATTERN GENERATION METHOD, PATTERN DATA PROCESSOR, AND PROGRAM例文帳に追加
マスクパターン検証方法、マスクパターン作成方法、パターンデータ処理装置、およびプログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加
半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁
PATTERN GENERATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
パターン発生装置及び半導体試験装置 - 特許庁
TRANSLATION PATTERN GENERATION DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
翻訳パターン作成装置、方法及びプログラム - 特許庁
SCAN TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATION METHOD AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
スキャンテスト回路、テスト回路生成方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁
POWER CIRCUIT PATTERN WIRING WIDTH GENERATION SYSTEM AND ITS GENERATION METHOD例文帳に追加
電源回路パターン配線幅生成システムおよびその生成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTING INSTRUMENT AND MASTER DATA GENERATION METHOD FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加
パターン検査装置およびパターン検査のためのマスタデータの作成方法 - 特許庁
CORRECTION PATTERN IMAGE GENERATING DEVICE AND CORRECTION PATTERN IMAGE GENERATION METHOD例文帳に追加
補正パターン画像生成装置及び補正パターン画像生成方法 - 特許庁
PROCESS MODEL GENERATION METHOD, PROCESS MODEL GENERATION PROGRAM, AND PATTERN CORRECTION METHOD例文帳に追加
プロセスモデル作成方法、プロセスモデル作成プログラム及びパターン補正方法 - 特許庁
PATTERN DATA GENERATING DEVICE, EXPOSURE SYSTEM, PATTERN DATA GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
パターンデータ生成装置、露光システム、パターンデータ生成方法、およびプログラム - 特許庁
PATTERN GENERATING METHOD AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PATTERN GENERATION PROGRAM例文帳に追加
模様生成方法及び模様生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
A display pattern generation part displays a circular display pattern P.例文帳に追加
表示パターン生成部は、円弧形状の表示パターンPを生成する。 - 特許庁
CHARACTER PATTERN GENERATION METHOD AND LETTER RECOGNITION METHOD例文帳に追加
文字パターン生成方法および文字認識方法 - 特許庁
AUTOMATIC GENERATION OF PATTERN SIMULATION CODE FOR MESSAGE EXCHANGE例文帳に追加
メッセージ交換パターンシミュレーションコードの自動生成 - 特許庁
The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.例文帳に追加
テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁
The recommendation pattern generation section 18 generates a recommendation pattern by associating the reduction pattern with a time.例文帳に追加
推奨パターン生成部18は、削減パターンと時刻とを関連付けて推奨パターンを生成する。 - 特許庁
To provide a pattern generation device capable of switching pattern resources by selecting an optional pin during pattern generation.例文帳に追加
パターンリソースの切換えをパターン発生中に任意のピンを選択して行えるパターン発生装置を実現することを目的にする。 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND PATTERN GENERATION CONTROL METHOD例文帳に追加
画像形成装置及びパターン生成制御方法 - 特許庁
MASK PATTERN DATA GENERATING SYSTEM AND DATA GENERATION METHOD例文帳に追加
マスクパターンデータ作成システムおよびデータ作成方法 - 特許庁
REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加
参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁
GENERATION DEVICE AND GENERATION METHOD OF FLOODLIGHT PATTERN FOR EXECUTING STEREO CORRESPONDENCE例文帳に追加
ステレオ対応づけのための投光パターンの生成装置及び生成方法 - 特許庁
DISCRETE PATTERN GENERATING METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND DISCRETE PATTERN GENERATION SYSTEM例文帳に追加
離散パターン生成方法、プログラム、記録媒体および離散パターン生成システム - 特許庁
SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE例文帳に追加
テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム - 特許庁
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