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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > probe methodに関連した英語例文

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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3948



例文

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ACQUIRING METHOD OF CONTACT POSITION OF PROBE PIN, CORRECTING METHOD OF CONTACT POSITION OF PROBE PIN, AND RESOLVING METHOD OF CONTACT ERROR BETWEEN PROBE DEVICES例文帳に追加

プローブピンの接触位置の採取方法、プローブピンの接触位置の補正方法及びプローブ装置間の接触誤差の解消方法 - 特許庁

To provide a repair method of a probe card and a repaired probe substrate.例文帳に追加

本発明は、プローブカードのリペア方法及びリペアされたプローブ基板に関する。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING PROBE DEVICE AND METHOD FOR DETECTING INTERFERENCE OF PROBE例文帳に追加

三次元形状測定用プローブ装置およびプローブの干渉検知方法 - 特許庁

例文

ULTRASONIC PROBE MANUFACTURING METHOD, ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

超音波プローブ製造方法、超音波プローブ、および超音波撮像装置 - 特許庁


例文

PROBE HOLDER FOR ULTRASONIC ANGLE PROBE, AND ULTRASONIC ANGLE FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

超音波斜角探触子用プローブホルダーおよび超音波斜角探傷法 - 特許庁

VERTICAL ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE, INSPECTION APPARATUS FOR PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

落射型顕微鏡、プローブカードの検査装置、および、プローブカードの製造方法 - 特許庁

THERMAL CONDUCTIVITY PROBE AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY PROBE, AND MAKING METHOD THEREOF例文帳に追加

熱伝導プローブおよび電気伝導プローブならびにこれを作成する方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, MANUFACTURING METHOD FOR ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC DIAGNOSING APPARATUS例文帳に追加

超音波プローブ、超音波プローブの製造方法及び超音波診断装置 - 特許庁

例文

SPM PROBE WITH SHORTENED CANTILEVER, AND METHOD OF MANUFACTURING SPM PROBE例文帳に追加

短縮化カンチレバーを備えたSPMプローブ及びSPMプローブの製造方法 - 特許庁

例文

PROBE CARRIER AND PROBE MEDIUM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブ担体、ブローブ担体製造用プローブ媒体およびプローブ担体の製造方法 - 特許庁

DATA PROCESSING METHOD IN ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER AND ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザにおけるデータ処理方法及び電子プローブマイクロアナライザ - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CERAMIC SUBSTRATE FOR PROBE CARD AND CERAMIC SUBSTRATE FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード用セラミック基板の製造方法及びプローブカード用セラミック基板 - 特許庁

METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡(SPM)用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁

SCAN METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE END DETECTION METHOD, ALIGNMENT METHOD, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH METHOD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブ先端の検出方法、アライメント方法及びこれらの方法を記録した記憶媒体、並びにプローブ装置 - 特許庁

PROBE FINGER STRUCTURE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブフィンガ構造体及びその製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING DEVICE FOR PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体の製造方法及び製造装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING LSI DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加

LSIデバイスの検査方法、およびプローブカード - 特許庁

CONTACT PROBE AND ITS METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加

コンタクトプローブおよびコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

MACHINE TOOL PROBE AND METHOD FOR SWITCHING ON THE SAME例文帳に追加

工作機プローブおよびそのスイッチオン方法 - 特許庁

METHOD AND MATERIAL USING SIGNALING PROBE例文帳に追加

シグナリングプローブを使用する方法および材料 - 特許庁

PROBE FOR INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加

検査装置用プローブおよびその製造法 - 特許庁

INJECTION HEAD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE ARRAY例文帳に追加

インクジェットヘッド及びプローブアレイの製造方法 - 特許庁

PLASMA POTENTIAL MEASURING METHOD AND PROBE FOR MEASUREMENT例文帳に追加

プラズマ電位測定方法と測定用プローブ - 特許庁

PROBE DEVICE AND METHOD FOR CLEANING TEST OBJECT例文帳に追加

プローブ装置及び被検査体の清掃方法 - 特許庁

PROBE SUBSTRATE FOR INSPECTION AND METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加

検査用プローブ基板及びその製造方法 - 特許庁

LENS UNIT FOR PROBE AND ASSEMBLING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブ用レンズユニット及びその組み立て方法 - 特許庁

INSPECTION TOOL AND METHOD FOR FIXING PROBE THEREFOR例文帳に追加

検査冶具及びそれへのプローブの固定方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波用探触子及びその製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体の製造方法および製造装置 - 特許庁

PROBE CARD AND ELECTRICAL PERFORMANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカードおよび電気的性能検査方法 - 特許庁

METHOD OF ULTRASOUND IMAGING AND ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波撮像方法及び超音波プローブ - 特許庁

POWER PROBE FOR CRUSHING AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

破砕用パワープローブおよびその使用方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING COLLOID PROBE例文帳に追加

コロイドプローブの製造方法及び製造装置 - 特許庁

INSPECTION PROBE BOARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

検査用プローブ基板およびその製造方法 - 特許庁

TRIMMING METHOD OF RESISTANCE ELEMENT AND PROBE UNIT例文帳に追加

抵抗素子のトリミング方法及びプローブユニット - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING DNA PROBE ARRAY例文帳に追加

DNAプローブアレー製造方法、製造装置 - 特許庁

PUMP-PROBE PHOTOMETRIC DEVICE AND PHOTOMETRIC METHOD例文帳に追加

ポンプ−プローブ測光装置および測光方法 - 特許庁

PROBE SUBSTRATE FOR INSPECTION AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

検査用プローブ基板及びその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE, CANTILEVER, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブ針、カンチレバー及びそれらの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING INK JET HEAD AND PROBE ARRAY例文帳に追加

インクジェットヘッド及びプローブアレイの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER AND ITS DEVICE例文帳に追加

プローブ担体の製造方法およびその装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE CABLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波プローブケーブルおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

プローブカード及び半導体チップの試験方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF DNA PROBE FIXED ELECTRODE例文帳に追加

DNAプローブ固定電極の製造方法 - 特許庁

FLEXIBLE NERVE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

フレキシブル神経プローブおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE DESIGNING METHOD AND INFORMATION PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

プローブ設計方法及び情報処理装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体装置の検査方法及びプローブカード - 特許庁

例文

PROBE APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING CONTACT POSITION例文帳に追加

プローブ装置及びコンタクト位置の補正方法 - 特許庁




  
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