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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
PROBE DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF THE PROBE DEVICE, AND STYLUS-TYPE SURFACE MEASURING DEVICE例文帳に追加
プローブ装置、プローブ装置の製造方法および触針式表面測定装置 - 特許庁
PROBE FOR PHOTOCHEMICAL GAS PHASE DEPOSIT METHOD, MANUFACTURING METHOD FOR PROBE, AND PHOTOCHEMICAL GAS PHASE DEPOSITING DEVICE例文帳に追加
光化学気相堆積法用プローブ及びその製造方法、並びに光化学気相堆積装置 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE, ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTOR AND PROBE UNIT例文帳に追加
プローブの針先位置の検出方法、アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁
CURRENT PROBE MODELING METHOD, CURRENT PROBE MODEL CREATION DEVICE, SIMULATION METHOD, SIMULATION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
カレントプローブモデル化方法、カレントプローブモデル作成装置、シミュレーション方法、シミュレーション装置、及びプログラム - 特許庁
PIEZOELECTRIC MATERIAL, ULTRASONIC PROBE, PIEZOELECTRIC MATERIAL MANUFACTURING METHOD AND ULTRASONIC PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
圧電材料、超音波探触子、圧電材料の製造方法、および、超音波探触子の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING RNA PROBE, METHOD FOR DETECTING TARGET NUCLEIC ACID, AND KIT FOR PRODUCING RNA PROBE例文帳に追加
RNAプローブ作成方法、標的核酸の検出方法及びRNAプローブ作成用キット - 特許庁
PROBE HOLDER FOR ULTRASONIC FLAW DETECTOR BY DIRECT METHOD, AND METHOD FOR REDUCING ABRASION OF PROBE例文帳に追加
直接法による超音波探傷装置の探触子ホルダーおよび探触子の摩耗低減方法 - 特許庁
PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE ARRAY AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND OPTICAL PICKUP DEVICE例文帳に追加
プローブおよびその製造方法、プローブアレイおよびその製造方法、ならびに光ピックアップ装置 - 特許庁
PROBE CARD, METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカード、プローブカードの製造方法、半導体検査装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING DEVICE OF PROBE CARRIER例文帳に追加
プローブ担体の製造方法および製造装置 - 特許庁
NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
近接場光プローブ及びその製造方法 - 特許庁
ANALYZER AND PROBE PREPARATION METHOD BEFORE USE例文帳に追加
分析装置およびプローブ使用前準備方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE APPARATUS AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加
超音波プローブ装置及びその制御方法 - 特許庁
NEAR FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
近接場光プローブ及びその製造方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PROBE CARD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカード及び半導体装置の測定方法 - 特許庁
PROBE CARD CONTACT-POINT DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
プローブカード接点装置及びその製造方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR INTELLIGENT ANALYTICAL PROBE例文帳に追加
インテリジェント解析プローブ用のシステム及び方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, AND INSPECTION METHOD AND SYSTEM例文帳に追加
超音波プローブ並びに検査方法及びシステム - 特許庁
ANALYZER AND DISPENSING PROBE WASHING METHOD例文帳に追加
分析装置および分注プローブ洗浄方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁
INSULATION-COATED PROBE PIN AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
絶縁被膜プローブピン及びその製造方法 - 特許庁
NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
近接場光プローブ及びその製造方法 - 特許庁
PROBE FOR PULSE OXIMETER AND ITS MOUNTING METHOD例文帳に追加
パルスオキシメータ用プローブおよびその装着方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカード及び半導体装置の測定方法 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカード及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の画像表示方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその操作法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体装置の検査方法およびプローブカード - 特許庁
TIP-REINFORCED RAMAN PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
チップ増強ラマンプローブ及びその製造方法 - 特許庁
PROBE OF ELECTRON SOURCE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
電子源用探針およびその製造方法 - 特許庁
EDDY CURRENT PROBE, INSPECTING SYSTEM AND INSPECTING METHOD例文帳に追加
渦電流プローブ、検査システム及び検査方法 - 特許庁
METHOD AND PROBE FOR DISCRIMINATING ACID-FAST BACTERIUM例文帳に追加
抗酸菌鑑別方法及び鑑別用プローブ - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
プローブ担体の製造方法および製造装置 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
近接場光プローブおよびその作製方法 - 特許庁
PROBE FOR INSPECTING SUBSTRATE AND INSPECTION/METHOD FOR SUBSTRATE例文帳に追加
基板検査用プローブおよび基板検査方法 - 特許庁
PROBE DEVICE FOR INSPECTION AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
検査用探針装置及びその製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC PROBE INSPECTION例文帳に追加
オートプローブ検査方法及びオートプローブ検査装置 - 特許庁
INSULATION-COATED PROBE PIN AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
絶縁被覆プローブピン及びその製造方法 - 特許庁
OPTICAL FIBER PROBE BUBBLE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
光ファイバープローブ気泡計測装置及び方法 - 特許庁
PROBE FOR ENERGIZATION TEST, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
通電試験用プローブおよびその製造方法 - 特許庁
MULTIPLE PIN LOOP PROBE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
多ピンループプローブ製造方法及び多ピンループプローブ - 特許庁
PRODUCTION METHOD AND PRODUCTION DEVICE FOR PROBE CARRIER例文帳に追加
プローブ担体の製造方法および製造装置 - 特許庁
METHOD FOR GLOBAL CALIBRATION OF STEREO VISION PROBE SYSTEM例文帳に追加
ステレオビジョンプローブシステムの包括的校正方法 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
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