「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

MULTI-PROBE TYPE SCAN PROBE MICROSCOPE APPARATUS AND SAMPLE SURFACE EVALUATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

マルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, ELECTRONIC CIRCUIT TESTING DEVICE USING IT, AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置、並びにコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

GUIDE FOR PROBE CARD, PROBE CARD MOUNTING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE DIAGNOSTIC DEVICE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND ULTRASONIC PROBE DIAGNOSTIC METHOD例文帳に追加

超音波プローブ診断装置、超音波診断装置および超音波プローブ診断方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE DIAGNOSTIC APPARATUS, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND ULTRASONIC PROBE DIAGNOSTIC METHOD例文帳に追加

超音波プローブ診断装置、超音波診断装置および超音波プローブ診断方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法 - 特許庁

PROBE AND METHOD FOR HEPATITIS C VIRUS TYPING USING MULTIDIMENSIONAL PROBE ANALYSIS例文帳に追加

多次元プローブ分析法によるＣ型肝炎ウイルス型判定のためのプローブ及び方法 - 特許庁

PROBE SHEET BONDING HOLDER, PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブシート接着ホルダ、プローブカード、半導体検査装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING PROBE RESISTANCE VALUE, SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING PAD FOR MEASURING PROBE RESISTANCE VALUE例文帳に追加

プローブ抵抗値測定方法、プローブ抵抗値測定用パッドを有する半導体装置 - 特許庁

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SCANNING METHOD IN SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND STRONG MAGNETIC FIELD SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OBTAINING RELATIVE POSITION OF PROBE CHIP ON PROBE CARD OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

印刷回路基板プローブカード上のプローブチップの相対位置を求める方法と装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SCATTERING TYPE NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, THE SCATTERING-TYPE NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SCATTERING-TYPE NEAR FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

散乱型近接場光プローブ製造方法および散乱型近接場光プローブおよび散乱型近接場光プローブ製造装置 - 特許庁

PROBE PLATE INCLUDING DNA PROBE FOR SCREENING CARCINOGENIC SUBSTANCE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND cDNA SCREENING METHOD WITH USAGE OF THE PROBE PLATE例文帳に追加

発ガン物質スクリーニングのためのＤＮＡプローブを含むプローブ・プレート、その製造方法および該プローブ・プレートを用いるｃＤＮＡのスクリーニング方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, INSPECTION METHOD AND EQUIPMENT例文帳に追加

光ファイバープローブおよび検査方法および検査装置 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF DESIGNING AND TESTING THE SAME例文帳に追加

プローブカード、プローブカードの設計方法及びテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE CARD FOR ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION例文帳に追加

電子部品検査用コンタクトプローブカードの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER BY NON-PENETRATION PROBE例文帳に追加

非侵入プローブで半導体ウエハを検査する方法 - 特許庁

HEAT CONDUCTIVITY MEASURING PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

熱伝導率測定用プローブ及びその製造方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TRACKING PROBE USE例文帳に追加

探触子使用をトラッキングするための方法及びシステム - 特許庁

CERAMIC SUBSTRATE FOR PROBE CARD, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカード用セラミック基板及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR ACQUIRING REACTION DATA FROM PROBE FIXING CARRIER例文帳に追加

プローブ固定担体から反応データを取得する方法 - 特許庁

GENE MANIPULATION METHOD USING SPIN PROBE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

スピンプローブによる遺伝子操作方法及びその装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

超音波プローブ、および超音波プローブの作製方法 - 特許庁

PROBE TYPE LIGHT MEASURING DEVICE, AND LIGHT MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ型光測定装置および光測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR POSITIONING LCD INSPECTION PROBE例文帳に追加

ＬＣＤ検査プローブの位置合わせ方法及び装置 - 特許庁

To provide a probe washing cup and a method.例文帳に追加

プローブ洗浄カップおよび方法を提供すること。 - 特許庁

DISSIMILAR METAL JUNCTION PROBE PIN AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

異種金属接合型プローブピンとその製造方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CLEANING PROBE CARD PIN例文帳に追加

プローブカード触針のクリーニング装置およびクリーニング方法 - 特許庁

DISPENSING PROBE CLEANING METHOD AND AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS例文帳に追加

分注プローブ洗浄方法および自動分析装置 - 特許庁

AUXILIARY PROBE CARD FOR WAFER INSPECTION AND WAFER INSPECTION METHOD例文帳に追加

ウェハ検査用補助プローブカード及びウェハ検査方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法および装置 - 特許庁

CNT PROBE, AND MANUFACTURING METHOD AND MEASURING TECHNIQUE THEREOF例文帳に追加

ＣＮＴプローブ、その製造方法及び測定方法 - 特許庁

PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND OPTICAL RECORDING APPARATUS例文帳に追加

プローブ及びその製造方法並びに光記録装置 - 特許庁

PROBE CARD AND WAFER PROBING METHOD USING IT例文帳に追加

探針プローブカード及びそれを用いたウエハ検査方法 - 特許庁

CHIP COMPONENT INSPECTION DEVICE AND CLEANING METHOD FOR PROBE CARD例文帳に追加

チップ部品検査装置及びプローブカードクリーニング方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CHECKING CONTACT STATE OF PROBE例文帳に追加

プローブの接触状態チェック方法、および同装置 - 特許庁

PROBE CARD REMOVING JIG AND METHOD例文帳に追加

プローブカード取外し方法およびプローブカード取外し治具 - 特許庁

STABILIZING METHOD OF PRESSURE CONTROL OF CONTACT TYPE PROBE例文帳に追加

接触式プローブの圧力制御の安定化方法 - 特許庁

ULTRASONIC ARRAY PROBE AND ULTRASONIC TESTING METHOD例文帳に追加

超音波アレイ探触子及び超音波探傷方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER AND APPARATUS USED THEREIN例文帳に追加

プローブ担体の製造方法及びそれに用いる装置 - 特許庁

OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL HEAD例文帳に追加

光プローブおよびその製造方法ならびに光ヘッド - 特許庁

PROBER HAVING LASER CLEANER, AND CLEANING METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

レーザクリーナ付きプローバ及びプローブカードのクリーニング方法 - 特許庁

THERMALLY STABILIZING METHOD OF PROBE CARD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブカードの熱的安定化方法及び検査装置 - 特許庁

PROBE WITH MINUTE PROTRUSION AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

微小突起を有するプローブ、及びその製造方法 - 特許庁