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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
PROBE CARD AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
プローブカード、半導体ウェハの試験装置及び試験方法 - 特許庁
SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
表面プラズモン共鳴センサプローブ、及びその製造方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT SETTING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法 - 特許庁
ULTRASOUND METHOD AND PROBE FOR ELECTROMAGNETIC NOISE CANCELLATION例文帳に追加
電磁気ノイズ除去のための超音波法及び探触子 - 特許庁
PROBE FOR MICROSCOPE ANALYSIS, AND MICROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加
顕微鏡解析用プローブ及び顕微鏡解析方法 - 特許庁
PROBER DEVICE, PREHEATING METHOD OF PROBE CARD AND ITS PROGRAM例文帳に追加
プローバ装置、プローブカードのプリヒート方法およびそのプログラム - 特許庁
PROBE CARRIER AS WELL AS METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
プローブ担体、その製造方法およびその製造装置 - 特許庁
SCREENING METHOD USING FLUORESCENT PROTEIN FUSION PROBE例文帳に追加
蛍光蛋白質融合プローブを用いたスクリーニング方法 - 特許庁
VERTEBRAL PEDICULAR ARCH PROBE NAVIGATION SYSTEM AND NAVIGATION METHOD例文帳に追加
椎弓根プローブのナビゲーションシステムおよびナビゲーション方法 - 特許庁
METHOD FOR EXPRESSED GENE ANALYSIS AND PROBE KIT FOR EXPRESSED GENE ANALYSIS例文帳に追加
遺伝子検出法及び遺伝子検出用プローブキット - 特許庁
PROBE FOR MEASURING ELECTRICAL CHARACTERISTICS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
電気特性測定用プローブ及びその製造方法 - 特許庁
METHOD OF EVALUATING PROBE CARD CONNECTION AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
プローブカード接続良否判定方法およびその装置 - 特許庁
MEASUREMENT PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
測定用プローブ、及び該測定用プローブの製造方法 - 特許庁
ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTING DEVICE AND PROBE APPARATUS例文帳に追加
アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TRANSMITTING TRAVELING TRACK IN PROBE CAR SYSTEM例文帳に追加
プローブカーシステムでの走行軌跡の伝送方法と装置 - 特許庁
WORKING PROBE FOR FRICTION STIRRING AND JOINING, AND JOINING METHOD例文帳に追加
摩擦攪拌接合用の加工プローブおよび接合方法 - 特許庁
PROBE COVER FOR TYMPANIC MEMBRANE THERMOMETER AND METHOD OF MANUFACTURING IT例文帳に追加
鼓膜温度計用プローブカバー及びその製造方法 - 特許庁
CALIBRATION METHOD OF PROBE FOR HIGH FREQUENCY CHARACTERISTIC MEASUREMENT, HIGH FREQUENCY CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE USING PROBE, AND PROBE FOR HIGH FREQUENCY MEASUREMENT例文帳に追加
高周波特性測定用プローブの校正方法、このプローブを用いた電子デバイスの高周波特性測定方法、および高周波測定用プローブ - 特許庁
ENZYME SUBSTRATE-MODIFIED NUCLEOSIDE TRIPHOSPHATE, NUCLEIC ACID PROBE, MULTILABELED NUCLEIC ACID PROBE, METHOD FOR PRODUCTION OF MULTILABELED NUCLEIC ACID PROBE, AND METHOD FOR DETECTION OF TARGET NUCLEIC ACID例文帳に追加
酵素基質修飾ヌクレオシド三リン酸、核酸プローブ、マルチラベル化核酸プローブ、マルチラベル化核酸プローブの製造方法および標的核酸の検出方法 - 特許庁
NANOPARTICLE-LABELED PROBE, METHOD FOR FORMING THEREOF, AND METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID例文帳に追加
ナノ粒子標識プローブ、その形成方法、及び核酸検出方法 - 特許庁
CHARACTERISTIC VALUE MEASURING APPARATUS AND METHOD THEREFOR, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加
特性値測定装置、特性値測定方法、及びプローブ接触方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING METAL PATTERN, CONTACT PROBE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
金属パターンの製造方法、コンタクトプローブの製造方法及びコンタクトプローブ - 特許庁
METHOD OF DETECTING PROTEIN, AND METHOD OF DETECTING PROBE PEPTIDE AND INSULIN例文帳に追加
タンパク質の検出方法、プローブペプチドおよびインシュリンの検出方法 - 特許庁
METHOD FOR PATTERNING RESIST, CONTACT PROBE WITH HIGH ASPECT RATIO AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
レジストのパターニング方法、高アスペクト比のコンタクトプローブ及びその製法 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND NEAR-FIELD OPTICAL APPARATUS USING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加
近視野光プローブとその製造方法、およびその近視野光プローブを用いた近視野光装置 - 特許庁
ULTRASONIC TREATMENT DEVICE, ULTRASONIC PROBE FOR ULTRASONIC TREATMENT DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PROBE例文帳に追加
超音波処置装置、並びに、超音波処置装置用超音波プローブ及びその製造方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE AND NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS INCLUDING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD OF ULTRASONIC PROBE例文帳に追加
超音波探触子およびこれを含む非破壊検査装置、さらに超音波探触子の製造方法 - 特許庁
ALIGNMENT ADJUSTING APPARATUS FOR PROBE, MEASURING MACHINE EQUIPPED THEREWITH AND ALIGNMENT ADJUSTING METHOD FOR PROBE例文帳に追加
プローブのアライメント調整装置、その装置を備えた測定機およびプローブのアライメント調整方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE USING THE ULTRASONIC PROBE例文帳に追加
超音波探触子、その製造方法およびその超音波探触子を用いた超音波診断装置 - 特許庁
To provide a near-field probe based on an SOI substrate, and to provide a manufacturing method of the near-field probe.例文帳に追加
SOI基板を基にした近接場探針及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁
PROBE FOR DETECTING INFECTION-INDUCING MICROBE, PROBE SET, CARRIER AND METHOD FOR TESTING GENE例文帳に追加
感染症起炎菌検出用プローブ及びプローブセット、ならびに担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁
PROBE NEEDLE FOR WAFER TEST AND ITS PRODUCTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTED WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加
ウエハテスト用プロ—ブ針とその製造方法およびそのプロ—ブ針によってテストした半導体装置 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE, AND METHOD FOR ESTIMATING SURFACE TEMPERATURE OF ULTRASONIC PROBE例文帳に追加
超音波探触子、超音波診断装置および超音波探触子の表面温度推定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
The probe alignment confirmation circuit and the probe alignment confirmation method of the semiconductor device are disclosed.例文帳に追加
半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法が掲示される。 - 特許庁
COAXIAL PROBE, PROBE HOUSING BOARD, CABLE HOLDING BOARD, CONTACT UNIT, AND MANUFACTURING METHOD OF CABLE HOLDING BOARD例文帳に追加
同軸プローブと、プローブ収納ボードと、ケーブル保持ボードと、コンタクト機と、ケーブル保持ボードの製造方法 - 特許庁
PROBE WITH FIELD-EFFECT TRANSISTOR-CHANNEL STRUCTURE FOR PROBE SCANNING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
電界効果トランジスタチャンネル構造を持つ探針走査型顕微鏡の探針およびその製造方法 - 特許庁
TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁
To provide a probe immobilization method in which probe modification is restricted.例文帳に追加
プローブの変性を抑制したプローブの固定化方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁
To provide a method of controlling the movement of a probe which can perform positioning of a probe on a sample efficiently, and to provide a probe apparatus.例文帳に追加
試料上でのプローブの位置決めを効率良く行うことのできるプローブの移動制御方法及びプローブ装置を提供する。 - 特許庁
LIQUID DISCHARGE DEVICE USED IN MANUFACTURE OF PROBE- SUPPORT, PROBE-SUPPORT MANUFACTURING APPARATUS USING THE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE-SUPPORT例文帳に追加
プローブ担体の製造用の液体吐出装置、該液体吐出装置を用いたプローブ担体製造装置及びプローブ担体の製造方法 - 特許庁
To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.例文帳に追加
マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁
To provide an oligonucleotide probe having an improved binding specificity, a microarray in which the probe is fixed, and a method for designing the probe.例文帳に追加
結合特異性が改善されたオリゴヌクレオチドプローブ、プローブが固定化されているマイクロアレイ及びプローブを設計する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a probe card, capable of protecting a probe head even during an etching process to reduce the percentage defective of the probe card.例文帳に追加
エッチング工程中にもプローブヘッドが保護でき、プローブカードの不良率を低減できるプローブカードの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a probe card evaluation method, its apparatus, and a probe inspection method which allow to bring a probe pin of a probe card into contact with an electrode pad of a circuit element reproducibly.例文帳に追加
プローブカードのプローブピンを回路素子の電極パッド上に再現性良く接触させることができるようにしたプローブカードの品質評価方法及びその装置、プローブ検査方法を提供する。 - 特許庁
DETACHABLE PROBE COVER FOR EAR THERMOMETER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
組立式耳式体温計プローブカバー及びその製造方法 - 特許庁
ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND DEVICE USING ARRAY PROBE例文帳に追加
アレイ探触子を用いた超音波探傷方法及び装置 - 特許庁
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