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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
PROBE SUBSTRATE FOR USE IN LSI INSPECTION AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
LSI検査用プローブ基板およびその製造方法 - 特許庁
PROBE, METHOD AND DEVICE FOR ATTACHING PROBE ONTO SUBSTRATE, ELECTRICAL CONNECTION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRICAL CONNECTION DEVICE例文帳に追加
プローブ、基板へのプローブの取り付け方法及び装置、電気的接続装置、並びに電気的接続装置の製造方法 - 特許庁
MEDICAL ILLUMINATOR PROBE AND METHOD FOR MONITORING TISSUE OXYGENATION例文帳に追加
医用照明器プローブ及び組織酸素付与をモニタする方法 - 特許庁
DISCRIMINATION METHOD FOR KIND OF PLASTIC MATERIAL AND PROBE FOR DISCRIMINATION例文帳に追加
プラスチック材の種類判別方法及び判別用プローブ - 特許庁
PROBE FOR ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
超音波診断装置用プローブ及びその製造方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた観察方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁
METHOD AND PROBE FOR HIGH TILE ANGLE-SHAPE MEASUREMENT例文帳に追加
高傾斜角形状測定方法および測定用プローブ - 特許庁
PROBE CARD ASSEMBLY AND KIT, AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加
プローブカード・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法 - 特許庁
MEASURING INSTRUMENT, MEASURING PROBE, AND MEASURING METHOD OF INDUCTANCE例文帳に追加
インダクタンスの測定装置と測定用プローブと測定方法 - 特許庁
PLANARIZATION DEVICE AND METHOD FOR OBTAINING PLANARITY OF PROBE CARD例文帳に追加
プラナリゼーション装置および、プローブカードのプラナリティを得る方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROBE, INSPECTION DEVICE, AND ELECTRIC OPTICAL DEVICE例文帳に追加
プローブ、検査装置および電気光学装置の製造方法 - 特許庁
FIBER OPTIC PROBE, PHOTODETECTION APPARATUS, AND PHOTODETECTION METHOD例文帳に追加
光ファイバープローブ、光検出装置及び光検出方法 - 特許庁
NUCLEIC ACID PROBE MICROARRAY AND ASSAYING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
核酸プローブマイクロアレイ、ならびにそれを用いるアッセイ方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR OPPORTUNISTIC TRANSMISSION OF TEST PROBE METADATA例文帳に追加
テストプローブメタデータを便宜的に送信するシステムおよび方法 - 特許庁
IC TEST METHOD, PROBE GUARD, TEST PROBER, AND IC TESTER例文帳に追加
ICテスト方法、プローブカード、検査プローバー、及びICテスト装置 - 特許庁
PLASMA TREATMENT APPARATUS AND SURFACE MODIFYING METHOD OF CONTACT PROBE例文帳に追加
プラズマ処理装置及びコンタクトプローブの表面改質方法 - 特許庁
SHEETLIKE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND ITS APPLICATION例文帳に追加
シート状プローブおよびその製造方法並びにその応用 - 特許庁
PROBE CARD, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT INSPECTION METHOD EMPLOYING IT例文帳に追加
プローブカードおよびそれを用いた半導体素子検査方法 - 特許庁
MULTILAYER CERAMIC SUBSTRATE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE CARD例文帳に追加
多層セラミック基板及びその製造方法並びにプローブカード - 特許庁
SHEETLIKE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ITS APPLICATION例文帳に追加
シート状プローブおよびその製造方法ならびにその応用 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び表面情報測定方法 - 特許庁
TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, RELAY CIRCUIT, AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体装置の試験方法、中継回路、及びプローブカード - 特許庁
MEASURING METHOD FOR ION TEMPERATURE AND FLOW VELOCITY BY DOUBLE PROBE例文帳に追加
ダブルプローブによるイオン温度並びに流速の測定方法 - 特許庁
MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁
Further, the manufacturing method of the DNA probe plate and the cDNA screening method with the usage of the probe plate are also provided.例文帳に追加
また、本発明は、DNAプローブ・プレートの製造方法および該プローブ・プレートを用いるcDNAのスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
PROBE ATTACHING STRUCTURE OF CONVERTER FOR MICROWAVES AND ITS METHOD例文帳に追加
マイクロ波用コンバータのプローブ取り付け構造及びその方法 - 特許庁
PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加
走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁
DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT例文帳に追加
デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法 - 特許庁
CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁
METHOD FOR ASSAYING METHYL TRANSFERASE, PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加
メチル転移酵素の測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁
PROBE USING SEMICONDUCTOR NANO THIN LINE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
半導体ナノ細線を用いたプローブ及びその製造方法 - 特許庁
OLIGONUCLEOTIDE PROBE AND METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID USING THE SAME例文帳に追加
オリゴヌクレオチドプローブ及びそれを用いた核酸検出方法 - 特許庁
WIRING BOARD FOR PROBE AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
プローブ用配線基板及び半導体素子の製造方法 - 特許庁
SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法 - 特許庁
PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁
CANTILEVER FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法 - 特許庁
MULTILAYER WIRING BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND PROBE CARD例文帳に追加
多層配線基板及びその製造方法並びにプローブカード - 特許庁
RHODIUM LAMINATE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND CONTACT PROBE例文帳に追加
ロジウム積層体およびその製造方法ならびにコンタクトプローブ - 特許庁
INCLUSION ANALYSIS METHOD OF SAMPLE BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プロ—ブマイクロアナライザによる試料の介在物分析方法 - 特許庁
PROBE FOR ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
超音波診断装置用プローブ及びその製造方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYTICAL METHOD, AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加
電子線プローブマイクロX線分析方法、及びその装置 - 特許庁
SHEET-LIKE PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND APPLICATION THEREOF例文帳に追加
シート状プローブおよびその製造方法ならびにその応用 - 特許庁
SHEET-LIKE PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND APPLICATION THEREOF例文帳に追加
シート状プローブおよびその製造方法並びにその応用 - 特許庁
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