「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP, AND PROBE CARD USED FOR THE SAME例文帳に追加

半導体チップの検査方法及びそれに用いるプローブカード - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND PROBE UNIT USED FOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加

検査装置、検査方法及び検査装置に用いるプローブユニット - 特許庁

ULTRASONIC PROBE FOR SUPPORTING SPINAL OPERATION AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

脊椎手術支援用超音波プローブ及びその製造方法 - 特許庁

To provide an evaluation method of heat permeability using a thermal probe.例文帳に追加

サーマルプローブを用いた熱浸透率の評価方法の提供。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROBE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MAKING THE SAME例文帳に追加

半導体装置検査用プローブ構造とその製造方法 - 特許庁

PROBE JOINTING PARTICLE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND BLOCKING AGENT例文帳に追加

プローブ結合粒子およびその製造方法ならびにブロッキング剤 - 特許庁

WAFER BATCH TYPE PROBE CARD AND INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウエハ一括型プローブカードおよび半導体装置の検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MANAGING PROBE CARD OF AUTOMATIC HANDLER FOR TAB例文帳に追加

ＴＡＢ用オートハンドラのプローブカード管理装置及び管理方法 - 特許庁

SKIN ANALYZING DEVICE HAVING ULTRASONIC PROBE AND ANALYTICAL METHOD例文帳に追加

超音波プローブを具備した皮膚分析装置及び分析方法 - 特許庁

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND ITS LIGHT TRANSMISSION AND RECEPTION PROBE WIRING METHOD例文帳に追加

光計測装置およびその送受光プローブ配線方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE APPARATUS, WAFER TESTING APPARATUS, AND WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウエハ，プローブ装置，ウエハテスト装置およびウエハテスト方法 - 特許庁

VOLTAGE IMPRESSING PROBE, DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRON SOURCE例文帳に追加

電圧印加プローブ、電子源の製造装置及び製造方法 - 特許庁

FUEL ROD BREAKAGE IDENTIFICATION METHOD BY ULTRASONIC WAVE, AND INSPECTION PROBE例文帳に追加

超音波による燃料棒破損同定方法と検査プローブ - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料の観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針およびその製造方法 - 特許庁

TRACE SAMPLE HEATING PROBE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, ANALYZER USING THE TRACE SAMPLE HEATING PROBE, AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加

微小試料加熱プローブおよびその製造方法、ならびに微小試料加熱プローブを用いた分析装置および分析方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造方法およびプローブカード - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING DEVICE AND SIGNAL PROCESSING METHOD FOR TOUCH SIGNAL PROBE例文帳に追加

タッチ信号プローブの信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁

NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE SPECTRAL METHOD TYPE CATHETER PROBE WITH MINIMUM INVASION例文帳に追加

最少侵襲性の核磁気共鳴分光法式カテーテル・プローブ - 特許庁

TERMINAL DEVICE, ANALYSIS SERVER, PROBE INFORMATION ANALYSIS SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

端末装置、分析サーバ、プローブ情報分析システムおよび方法。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE IMMOBILIZATION CARRIER FOR REDUCING NONSPECIFIC ADSORPTION例文帳に追加

非特異吸着を低減するプローブ固定担体の製造方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

MULTILAYER WIRING BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE APPARATUS例文帳に追加

多層配線板およびその製造方法並びにプローブ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE DEVICE, WAFER TEST DEVICE, AND WAFER TEST METHOD例文帳に追加

半導体ウェハ、プローブ装置、ウェハテスト装置及びウェハテスト方法 - 特許庁

PROBE, KIT AND METHOD FOR DETECTION AND DIFFERENTIATION OF MYCOBACTERIUM TUBERCULOSIS例文帳に追加

結核菌の検出及び分化のためのブローブ、キット及び方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHECKING PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路検査用プローブカードとその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING PROBE INFORMATION AND TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ情報を用いた半導体検査装置及び検査方法 - 特許庁

CONNECTION APPARATUS AND CONNECTION METHOD FOR CONTROLLING ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波プローブを制御するための接続装置および方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING PROGNOSIS OF PROSTATIC CANCER, AND PROBE SET例文帳に追加

前立腺癌の予後を決定するための方法およびプローブセット - 特許庁

EMISSION PROBE WITH REDOX RESPONSIVENESS AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

レドックス応答性発光プローブ及びそれを用いる検出方法 - 特許庁

NOVEL FLUORESCENT PROBE FOR LABELLING BIOSAMPLE AND ITS PREPARATION METHOD例文帳に追加

新規生体試料標識用蛍光プローブとその調製法 - 特許庁

CONTACTING PROBE OF CHARGING AND DISCHARGING DEVICE AND CHARGING AND DISCHARGING METHOD THEREOF例文帳に追加

充放電装置のコンタクトプローブ及びその充放電方法 - 特許庁

CONTACT INSPECTION METHOD OF PROBE PIN, AND TFT ARRAY INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブピンの接触検査方法およびＴＦＴアレイ検査装置 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

近接場光プローブ及び近接場光プローブの作製方法 - 特許庁

CONTROL METHOD OF ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS例文帳に追加

超音波探触子の制御方法および超音波診断装置 - 特許庁

To provide a method for maintaining plane parallelism between a probe card and its probe substrate, which can satisfactorily maintain plane parallelism of tip parts of a probe group.例文帳に追加

本発明は、プローブ群先端部の面平行度を良好に維持できるプローブカード及びそのプローブ基板の面平行度の保持方法を提供する。 - 特許庁

To provide a planarization device which can assure planarity between a probe card and a wafer in manufacturing the probe card, and to provide a method for obtaining the planarity of the probe card.例文帳に追加

プローブカード製造においてプローブカードとウエハとのプラナリティを保証するプラナリゼーション装置および、プローブカードのプラナリティを得る方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe unit having high bonding strength between a probe and a substrate, capable of forming highly accurately the probe bent three-dimensionally by plating.例文帳に追加

立体的に曲がったプローブをめっきにより高精度に形成でき、プローブと基板の接合強度が高い、プローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical scanning probe and an optical scanning probe device which achieve low-voltage high-speed driving by a simple structure, and a method for controlling the optical scanning probe.例文帳に追加

簡単な構造で低電圧高速駆動が可能となる光走査プローブおよび光走査プローブ装置並びに光走査プローブの制御方法を得る。 - 特許庁

To provide an inspection method of a probe card, which enables a user to correctly know a replacement time of the probe card, based on a result of a conduction test in the probe card.例文帳に追加

プローブカードにおける導通試験の結果に基づきプローブカードの交換時期を的確に知ることのできるプローブカードの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe card which enables high-accuracy positioning, regarding height and plane directions of the tip of a probe, and also to provide a probe card.例文帳に追加

プローブ先端の高さ方向および平面方向に関して高精度に位置決め可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁