「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR CLEANING OF CONTACT PIN OF PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブ装置のコンタクトピンクリーニング方法およびクリーニング装置 - 特許庁

PROBE CARD, AND CHARACTERISTIC VALUE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

プローブカード、特性値測定装置、及び、特性値測定方法 - 特許庁

CERAMIC MEMBER, PROBE HOLDER, AND METHOD OF PRODUCING CERAMIC MEMBER例文帳に追加

セラミックス部材、プローブホルダ及びセラミックス部材の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING CONDITION OF MEASUREMENT PROBE例文帳に追加

測定プローブのコンディションの判定方法及び判定装置 - 特許庁

To provide a probe substrate and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

本発明は、プローブ基板及びその製造方法に関する。 - 特許庁

MOBILE STATION DEVICE AND PERIPHERAL CELL PROBE PROCESSING CONTROL METHOD例文帳に追加

移動局装置及び周辺セル探測処理制御方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISPLACEMENT OF CANTILEVER IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバー変位測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING THE SAME例文帳に追加

走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針の針先位置の検出方法及び検出装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPIC INSPECTION例文帳に追加

原子間力顕微鏡検査用のプローブを製造する方法 - 特許庁

SENSOR AND METHOD FOR DETECTING/MEASURING ELECTROSENSING ANTIBODY PROBE例文帳に追加

電気感知式抗体プローブ検出／測定センサ及び方法 - 特許庁

METHOD FOR CHECKING COUPLING OF ULTRASONIC PROBE AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

超音波探触子のカップリングチェック方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING PROBE CARD, AND INSPECTION BOARD USED THEREFOR例文帳に追加

プローブカードの検査方法及びこれに用いる検査用ボード - 特許庁

METHOD OF MEASURING CONTACT PROBE OF THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

三次元形状測定装置の接触プローブ測定方法 - 特許庁

MULTIFUNCTIONAL PROBE, MICROFABRICATION DEVICE, AND MICROFABRICATION METHOD例文帳に追加

多機能プローブ及び微細加工装置並びに微細加工方法 - 特許庁

PROBE PIN FOR SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体検査装置用プローブピン及びその製造方法 - 特許庁

PROBE MEMBER AND MANUFACTURING METHOD AND APPLICATION OF THE SAME例文帳に追加

プローブ部材およびその製造方法ならびにその応用 - 特許庁

PROBE CARD, AND APPARATUS AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

プローブカード、半導体検査装置及び半導体検査方法 - 特許庁

PROBE INSPECTION DEVICE AND METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブ検査装置および検査方法および半導体装置 - 特許庁

SUBSTRATE, SUBSTRATE FOR PROBE CARD ASSEMBLY, MANUFACTURING METHOD OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板、プローブカード・アセンブリ用基板および基板の製造方法 - 特許庁

SHEET-SHAPED CONNECTOR, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE DEVICE例文帳に追加

シート状コネクターおよびその製造方法並びにプローブ装置 - 特許庁

LIQUID COMPOSITION FOR EMITTING PROBE BY INK JET METHOD例文帳に追加

プローブをインクジェット法で吐出させるための液体組成物 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

QUADRUPLE PROBE HEAD AND EVALUATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHARACTERISTIC例文帳に追加

４探針プローブヘッドおよび半導体特性の評価方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, FLAW DETECTOR, AND FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

渦電流探傷プローブ，探傷装置及び探傷方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PREPARATION METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡用カンチレバ—およびその作製方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE FILM, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE例文帳に追加

異方導電性フィルム、その製造方法及びプローブ装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 - 特許庁

METHOD AND PROBE FOR LASER INDUCED FLUORESCENCE ANALYSIS例文帳に追加

レーザ誘起蛍光分析法及びレーザ誘起蛍光分析プローブ - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING SOLID PARTICLE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法 - 特許庁

METHOD FOR ASSAY OF SPECIFIC GENE BY IMMOBILIZED DNA PROBE例文帳に追加

固相化ＤＮＡプローブによる特定遺伝子の分析法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

散乱型近接場顕微鏡用プローブの製造方法 - 特許庁

PLANE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL PICKUP DEVICE例文帳に追加

平面型プローブ、その製造方法及び光ピックアップ装置 - 特許庁

WIRING SUBSTRATE, PROBE CARD, AND METHOD OF PRODUCING WIRING SUBSTRATE例文帳に追加

配線基板、プローブカード、および配線基板の製造方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION MULTI-COIL TYPE PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

渦流探傷マルチコイル式プローブ及びその製造方法 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT SCATTERING-USE PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

近接場光散乱用プローブおよびその製造方法 - 特許庁

MAGNETIC FIELD PROBE, MAGNETIC FIELD MEASUREMENT DEVICE, AND MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

磁界プローブ、磁界測定装置、及び磁界測定方法 - 特許庁

PROBE, INSPECTING METHOD USING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブ及びこれを用いた検査方法及び半導体装置 - 特許庁

JUNCTION-TYPE PROBE FOR ELECTRICAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電気特性測定用接合型プローブとその製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC IMAGE PICKUP DEVICE AND METHOD, AND PROBE例文帳に追加

超音波撮像装置、超音波撮像方法及び探触子 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND ULTRASONIC PROBE FOR PLASTIC PIPE例文帳に追加

プラスチック管の超音波探傷法及び超音波探触子 - 特許庁

APERTURE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR NEAR FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場用光プローブの開口測定装置及び方法 - 特許庁

INTEGRALLY MOLDED CONDUCTIVE PROBE AND ITS SIGNAL TRANSMISSION METHOD例文帳に追加

一体成形導電プローブ及びその信号伝送方法 - 特許庁

The method for detecting the bacterial DNA comprises using the probe and primer.例文帳に追加

及びそれらを用いる、該細菌ＤＮＡの検出方法。 - 特許庁