「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

BLOCKING AGENT, PROBE-BOUND PARTICLE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ブロッキング剤ならびにプローブ結合粒子およびその製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING PROBE POINT OF NANOSTRUCTURE例文帳に追加

ナノ構造物の探針先端生成方法及びその生成装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR COMPENSATING THERMALLY INDUCED MOTION OF PROBE CARDS例文帳に追加

プローブカードの熱誘発動作を補償する方法およびシステム - 特許庁

PROBE DRAWING DEVICE, METHOD, AND INSULATION CHARACTERISTICS EVALUATION DEVICE例文帳に追加

探針描画装置および方法および絶縁特性評価装置 - 特許庁

PROBE CARD, MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカード、電子回路装置の測定装置および測定方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND MEASURING METHOD AND INSPECTION APPARATUS USING SAME例文帳に追加

プローブカードおよびこれを用いた測定方法および検査装置 - 特許庁

CANTILEVERED NEAR-FIELD PROBE STRUCTURE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

カンチレバー型近接場探針構造体及びその作製方法 - 特許庁

LASER CURRENT METER AND PROBE MANUFACTURING METHOD USED THEREIN例文帳に追加

レーザ流速計及びこれに用いられるプローブの製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING TARGET SUBSTANCE USING PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体を用いた標的物質の検出方法および装置 - 特許庁

SPIN PROBE AGENT FOR PLANT OBSERVATION AND MEASURING METHOD USING THIS例文帳に追加

植物観察用スピンプローブ剤とこれを用いた測定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTING PROBE例文帳に追加

半導体ウェーハ検査用プローブの検査装置及び検査方法。 - 特許庁

BOARD INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR ACQUIRING Z-AXIS OFFSET OF PROBE例文帳に追加

基板検査装置およびプローブのＺ軸オフセット取得方法 - 特許庁

TREATMENT ANTENNA PROBE, USING METHOD THEREOF, AND ELECTROMAGNETIC TREATMENT SYSTEM例文帳に追加

治療用アンテナプローブとその使用方法及び電磁治療システム - 特許庁

PROBE FOR SHAPE MEASUREMENT APPARATUS, SHAPE MEASUREMENT APPARATUS, AND METHOD例文帳に追加

形状測定装置用プローブ、形状測定装置及び方法 - 特許庁

FREE-CUTTING CERAMIC, ITS PRODUCTION METHOD, AND PROBE GUIDING PART例文帳に追加

快削性セラミックスとその製造方法およびプローブ案内部品 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE FITTED WITH DYNAMIC VIBRATION REDUCER AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MAKING IMAGE OF SAMPLE SURFACE IN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プロ—ブ顕微鏡における試料表面のイメ—ジ作成方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL PANEL, AND TEST PROBE例文帳に追加

検査プローブ、光学パネルの検査装置、光学パネルの検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, MANUFACTURING METHOD OF THE SAME, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路、その製造方法、ならびにプローブカード - 特許庁

CONTACT PROBE, CIRCUIT BOARD INSPECTION METHOD, AND CIRCUIT BOARD INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

コンタクトプローブ、回路基板検査方法及び回路基板検査装置 - 特許庁

FINE PROBE, AND MEASURING APPARATUS AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

微細プローブおよびそれを用いた計測装置と計測方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC IMAGING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

超音波探触子、超音波映像装置及びその製造方法 - 特許庁

DISPENSER, DISPENSING AMOUNT CORRECTION METHOD FOR PROBE, AND ANALYZER例文帳に追加

分注装置、プローブの分注量補正方法及び分析装置 - 特許庁

SKIN WASHING METHOD BY PROBE IN BATHTUB, FACE WASHING CONTAINER, OR THE LIKE例文帳に追加

浴槽、洗顔容器等におけるプローブの皮膚洗浄方法 - 特許庁

MAGNETIC PARTICLE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE BONDED PARTICLE例文帳に追加

磁性粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子 - 特許庁

PROBE CARD AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード、並びに半導体装置の検査装置及び検査方法 - 特許庁

VoIP PROBE, NETWORK MONITORING PROGRAM, AND NETWORK MONITORING METHOD例文帳に追加

ＶｏＩＰプローブ、ネットワーク監視プログラムおよびネットワーク監視方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, PHOTODETECTOR, AND PHOTODETECTION METHOD例文帳に追加

光ファイバープローブ及び光検出装置及び光検出方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING TAB, PROBE CARD, TAB HANDLER AND IC CHIP例文帳に追加

ＴＡＢ、プローブカード、ＴＡＢハンドラ、及びＩＣチップ測定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR PROBE EQUIPPED WITH RESISTANCE CHIP, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

抵抗性チップを備えた半導体プローブ及びその製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

WIRING BOARD, METHOD FOR MANUFACTURING WIRING BOARD, AND PROBE CARD例文帳に追加

配線基板及び配線基板の製造方法並びにプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING EQUIPMENT, PROCESSING METHOD AND WAFER POTENTIAL PROBE例文帳に追加

半導体製造装置および処理方法、およびウエハ電位プローブ - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE TOOL, CIRCUIT MOUNTED BOARD, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

プローブ治具の製造方法、回路実装基板、および電子機器 - 特許庁

A kit and a probe suitable for performing the method are provided.例文帳に追加

また、前記方法を実行するために適したキットおよびプローブ。 - 特許庁

MEASURING METHOD OF DIELECTRIC CONSTANT IN MEDIUM, AND ELECTROMAGNETIC PROBE例文帳に追加

媒体中誘電率の測定方法、並びに、電磁波探査機 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING ULTRASONIC SURFACE WAVES AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波表面波の低減方法及び超音波探触子 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PROBE OPTIMIZATION FOR INSTRUMENTING PROGRAM例文帳に追加

プログラムを計装するプローブ最適化のための方法およびシステム - 特許庁

NUCLEIC ACID PROBE AND METHOD FOR FLUORESCENCE DETECTION OF MULTIPLE-STRANDED NUCLEIC ACID例文帳に追加

核酸プローブ及び多重鎖核酸蛍光検出方法 - 特許庁

NON-CONTACT VOLTAGE MEASUREMENT METHOD AND DEVICE AND DETECTING PROBE例文帳に追加

非接触電圧計測方法及び装置並びに検出プローブ - 特許庁

MULTI-PROBE FOR WRITING AND READING DATA, AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

データ書込み及び読取り用のマルチプローブとその動作方法 - 特許庁

PROBE TERMINAL AND METHOD FOR MEASURING MEASURED OBJECTS USING THE SAME例文帳に追加

プローブ端子及びこれを用いた被測定物の測定方法 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE UNIT PRODUCING DEVICE AND ITS PRODUCING METHOD例文帳に追加

近接場光プローブユニット作製装置及びその作製方法 - 特許庁