「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

SYSTEM AND METHOD FOR ACTIVELY COOLING ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波探触子を能動的に冷却するためのシステム及び方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, CATHETER USING THE SAME, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波プローブ及びそれを用いたカテーテル並びにその製造方法 - 特許庁

PROBE FOR MONITORING DEW POINT CORROSION AND MONITORING METHOD OF DEW POINT CORROSION例文帳に追加

露点腐食モニタリング用プローブおよび露点腐食モニタリング方法 - 特許庁

METHOD FOR NON-LABEL DETECTION OF TARGET DNA USING DNA PROBE ARRAY例文帳に追加

ＤＮＡプローブアレイを用いた標的ＤＮＡのノンラベル検出法 - 特許庁

PIEZOELECTRIC SINGLE CRYSTAL, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, PIEZOELECTRIC ELEMENT, AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

圧電単結晶及びその製造方法、圧電素子、超音波プローブ - 特許庁

METHOD FOR ASSAYING GLUTATHIONE S-TRANSFERASE, PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

グルタチオンＳ−転移酵素の測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC METHOD例文帳に追加

超音波プローブ、超音波診断装置及び超音波診断方法 - 特許庁

METHOD FOR QUANTIFYING TARGET SUBSTANCE AND PROBE CARRIER USED THEREIN例文帳に追加

標的物質の定量方法および該方法に用いるプローブ担体 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING SAMPLE STATIC ELIMINATOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における試料除電器の制御方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING VIROID AND CAPTURE PROBE USED FOR DETECTION OF VIROID例文帳に追加

ウイロイド検出方法およびウイロイド検出に用いるキャプチャープローブ - 特許庁

To provide a probe end detection method which can surely prevent damages to probe cards during alignment thereof by surely and accurately detecting the heights of the probe ends of the probe cards at the time of alignment, even if the probe cards are of different type or there are manufacturing variations between the probe cards.例文帳に追加

例えば品種の異なるプローブカードや製造上バラツキのあるプローブカードであっても、アライメント時にプローブカードのプローブの先端の高さを確実且つ高精度に検出し、アライメント時に、プローブカードの損傷を確実に防止することができるプローブ先端の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe evaluation method capable of simply measuring a depth when a contact type probe pierces an object to be measured, and to provide a chip set used for the probe evaluation method.例文帳に追加

接触式の探針が測定対象を突き刺す深さを簡便に測定することができる探針評価方法及び当該探針評価方法に用いられるチップセットを提供する。 - 特許庁

To provide an easily-manufacturable probe capable of measuring accurately an electric characteristic of a measuring object, and to provide a method for manufacturing the probe, and an electric characteristic measuring method using the probe.例文帳に追加

測定対象物の電気特性を正確に測定することができ、製造容易であるプローブおよびその製造方法、ならびにこのプローブを用いた電気特性測定方法を実現する。 - 特許庁

PROBE FOR MEASURING PLASMA DENSITY INFORMATION, METHOD AND DEVICE FOR MEASURING PLASMA DENSITY INFORMATION USING THE PROBE, AND METHOD AND DEVICE FOR PLASMA TREATMENT USING THE PROBE例文帳に追加

プラズマ密度情報測定用プローブおよびそれを用いたプラズマ密度情報測定方法並びにその装置、プラズマ密度情報測定用プローブを用いたプラズマ処理方法およびその装置 - 特許庁

To provide a probe array manufacturing member capable of manufacturing a desired probe array immediately after determining an array for probes, and a probe array manufacturing method using the probe array manufacturing member.例文帳に追加

プローブの配列が決定した後、直ちに所望のプローブアレイを製造することができるプローブアレイ製造用部材及び該プローブアレイ製造用部材を利用したプローブアレイの製造方法を提供する。 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, METHOD OF APPLYING GEL, AND PUNCTURING METHOD OF PUNCTURE NEEDLE例文帳に追加

超音波探触子、超音波診断装置、ゲルの塗布方法及び穿刺針の穿刺方法 - 特許庁

PROBE CARRIER AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND METHOD FOR DETECTING TARGET NUCLEIC ACID USING THE SAME例文帳に追加

プローブ担体とその製造方法及びそれを用いた標的核酸の検出方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR ATOM PROBE ANALYSIS BY FIB, AND DEVICE FOR EXECUTING THE METHOD例文帳に追加

ＦＩＢによるアトムプローブ分析用試料の作製方法とそれを実施する装置 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a colloid probe cantilever using an optical measurement method and its automated device.例文帳に追加

光計測法を用いて、コロイドプローブカンチレバーを製造する方法とその自動化装置。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID IN SAMPLE, AND METHOD AND SYSTEM FOR DESIGNING PROBE USED THEREFOR例文帳に追加

検体中の核酸の検出方法、それに用いるプローブ設計方法、プローブ設計システム - 特許庁

FRICTION STIRRING DEVICE, CONTROL METHOD FOR ITS PROBE, CONTROL PROGRAM, AND MANUFACTURING METHOD FOR JOINED BODY例文帳に追加

摩擦攪拌装置、そのプローブの制御方法、制御プログラム及び接合体の製造方法 - 特許庁

PROBE DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブ装置、プローブ装置の製造方法、および半導体集積回路の検査方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法およびデバイス製造方法 - 特許庁

PROBE INSPECTION APPARATUS, POSITION DISPLACEMENT CORRECTION METHOD, INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

プローブ検査装置、位置ずれ補正方法、情報処理装置、情報処理方法及びプログラム - 特許庁

PROBE CARD, MANUFACTURING METHOD OF THE SAME, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE例文帳に追加

プローブカード、プローブカードの製造方法および半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CONTACT STATE OF PROBE, AND METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プローブの接触状態判別方法、回路基板検査方法および回路基板検査装置 - 特許庁

ELECTRIC INSPECTION PROBE, MANUFACTURING METHOD OF THE SAME AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電気検査用プローブ及びその製造方法並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

FORMING METHOD OF OUTGOING WIRING AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

引出配線の形成方法及び走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING PROTEIN, AND METHOD OF DETECTING PROBE PEPTIDE AND CYTOCHROME C OR INSULIN例文帳に追加

タンパク質の検出方法、プローブペプチドおよびシトクロムＣもしくはインシュリンの検出方法 - 特許庁

PROBE STRUCTURE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND WAFER COLLECTIVE CONTACT BOARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ構造及びその製造方法、並びにウエハ一括コンタクトボード及びその製造方法 - 特許庁

PRIMER, PRIMER SET, PROBE, METHOD FOR DETERMINING THIOCYANATE DECOMPOSING BACTERIUM, AND BIOLOGICAL TREATMENT METHOD例文帳に追加

プライマー、プライマーセット、プローブ、チオシアン分解細菌定量方法、ならびに、生物処理方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USED FOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、その試験方法に用いるプローブカード及び半導体装置 - 特許庁

METHOD FOR PREDICTING EFFECTIVENESS OF INTERFERON AND PRIMER AND PROBE FOR THE METHOD例文帳に追加

インターフェロンの有効性を予測する方法並びにそれに用いられるプライマー及びプローブ - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND MACHINING METHOD OF DIAMOND PROBE FOR MACHINING OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の加工用ダイヤモンド探針の観察方法及び加工方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR WAFER PROBE INSPECTION METHOD例文帳に追加

半導体ウエハおよび半導体チップの製造方法および半導体ウエハプローブ検査方法 - 特許庁

METHOD OF CROWING CARBON NANOTUBE AND METHOD OF PRODUCING ELECTRON GUN AND PROBE USING THE SAME例文帳に追加

カーボンナノチューブの成長方法並びにそれを用いた電子銃及びプローブの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER USING LIQUID DISCHARGING DEVICE AND DEVICE USED FOR THE METHOD例文帳に追加

液体吐出装置を用いたプローブ担体の製造方法及びこの方法に用いる装置 - 特許庁

ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, ULTRASONIC PROBE, TEMPERATURE CALCULATION METHOD AND SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

超音波診断装置、超音波探触子、温度算出方法及び信号処理方法 - 特許庁

To provide a hollow optical fiber probe, capable of supplementing by bringing a probe close to particles by a manipulator directly; and a manufacturing method of the hollow, optical fiber probe, or a hollow optical fiber probe capable of receiving/irradiating efficiently evanescent light, and a manufacturing method of the hollow optical fiber probe.例文帳に追加

直接マニピュレータにより微粒子にプローブを接近させて補足することができる中空光ファイバプローブ及び中空光ファイバプローブの製造方法、又はエバネッセント光を効率よく受光／照射できる中空光ファイバプローブ及び中空光ファイバプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection probe insertion device, for inserting an inspection probe into a thin tube, and a method therefor.例文帳に追加

細管内に検査プローブを挿入する検査プローブの挿入装置及びその方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe card compatible with high-density probe disposition without forming probes directly on a substrate.例文帳に追加

直接基板上にプローブを形成することなく、高密度なプローブの配置に対応可能なプローブカードの製作方法。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.例文帳に追加

磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card of low control cost for determining a life of a probe needle tip part, and a control method therefor.例文帳に追加

プローブ針先端部の寿命を判定するための管理コストの低いプローブカードおよびその管理方法を提供する。 - 特許庁

To automatically detect the wear of a probe pin in a normal test measuring process concerning a method of monitoring probe pin wear.例文帳に追加

プローブピン摩耗の監視方法に関し、プローブピンの摩耗を通常の試験測定工程において自動的に検出する。 - 特許庁

NUCLEOTIDE PROBE, KIT FOR DETECTING GLYCOPEPTIDE ANTIBIOTIC-RESISTANT GRAM-POSITIVE BACTERIUM GIVEN BY USING THE PROBE, AND METHOD FOR DETECTING THE BACTERIUM例文帳に追加

ヌクレオチドプローブおよびそれを用いたグリコペプタイド抗生物質耐性グラム陽性バクテリア検出キットならびに検出方法 - 特許庁