「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

INSPECTION AND/OR REGULATION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, AND CONTACT STRUCTURE OF PROBE PIN例文帳に追加

電子デバイスの検査及び／又は調整方法、プローブピンの接触構造 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE, INSPECTION DEVICE OF INSULATING FAILURE AND INSPECTION METHOD OF INSULATING FAILURE例文帳に追加

プローブ顕微鏡及び絶縁不良の検査装置，絶縁不良検査方法 - 特許庁

PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-MICA ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME例文帳に追加

ＨＬＡ−ＭＩＣＡアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁

PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-DP ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME例文帳に追加

ＨＬＡ−ＤＰアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁

PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-DQ ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME例文帳に追加

ＨＬＡ−ＤＱアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁

ORGANIC POLYMER PARTICLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND PROBE-BINDING PARTICLE例文帳に追加

有機ポリマー粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子 - 特許庁

METHOD AND PROBE FOR MEASURING REMAINING THICKNESS OF WORN MEMBER例文帳に追加

損耗部材の残存厚み測定方法、及び残存厚み測定用プローブ - 特許庁

To provide a ceramic substrate for a probe card and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

本発明は、プローブカード用セラミック基板及びその製造方法に関する。 - 特許庁

PROBE-CONTACTING STATE DETECTING METHOD AND DETECTING DEVICE THEREOF例文帳に追加

プローブ接触状態検出方法およびプローブ接触状態検出装置 - 特許庁

METHOD FOR ASSAYING ACYL COA:N-ACYL TRANSFERASE, PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

アシルＣｏＡ：Ｎ−アシル転移酵素の測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁

PROBE FOR INSPECTION OF ELECTRO-OPTICAL DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND APPARATUS FOR INSPECTION例文帳に追加

電気光学装置の検査用プローブおよびその製造方法、検査装置 - 特許庁

A method for immobilizing a probe nucleic acid fragment on an insoluble substrate is also provided.例文帳に追加

また、不溶性支持体にプローブ核酸断片を固定化するための方法。 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING NON-SPECIFIC BINDING TO NUCLEIC ACID PROBE ARRAY例文帳に追加

核酸プローブアレイに対する非特異的な結合を減少させるための方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING EXTREMELY SMALL MULTIPLE PROBE AND SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

極微小多探針プローブの製造方法及び表面特性解析装置 - 特許庁

To provide a probe unit having high dimensional precision of conduction wires which are prevented removal from a substrate, and to provide a conduction inspection method using the probe unit and its manufacturing method.例文帳に追加

導線と基板の剥離が防止され、導線の寸法精度が高いプローブユニットと、それを用いた導通検査方法と、その製造方法とを提供する。 - 特許庁

To realize a probe radar and a probing method while considering the directivity of an antenna.例文帳に追加

アンテナの指向性を考慮した探査レーダ及び探査方法の実現。 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, BACKING MATERIAL FOR FORMING SIGNAL LINE PATTERN AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波プローブ、信号線パターン形成バッキング材およびその製造方法 - 特許庁

OPTICAL TOMOGRAPHIC IMAGING DEVICE AND METHOD FOR ESTIMATING PRESSING FORCE OF ITS OPTICAL PROBE例文帳に追加

光断層画像化装置、及び、その光プローブ押付力推定方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET MANUFACTURING METHOD USED FOR THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びそれに用いられる異方性導電シートの製造方法 - 特許庁

PROBE DRIVE MECHANISM AND MANUFACTURING METHOD OF PIEZOELECTRIC ACTUATOR USING THE SAME例文帳に追加

探針駆動機構並びに該機構を用いた圧電式アクチュエータの製造方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTING PROBE, EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND EDDY CURRENT FLAW DETECTING METHOD例文帳に追加

渦流探傷プローブ、渦流探傷装置および渦流探傷方法 - 特許庁

ULTRASOUND PROBE, ULTRASONIC WAVE MEASURING UNIT AND ULTRASONIC WAVE THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加

超音波探触子、超音波測定器、及び、超音波厚み測定方法 - 特許庁

WASH LIQUID FOR PROBE FOR CLINICAL TEST AUTOMATIC ANALYZER AND METHOD FOR WASHING例文帳に追加

臨床検査自動分析装置用プローブの洗滌液および洗滌法 - 特許庁

PROBE IMMOBILIZING GEL HOLDING MICRO-ARRAY AND SPECIMEN DETECTION METHOD USING IT例文帳に追加

プローブ固定化ゲル保持マイクロアレイ及びこれを用いた検体検出方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS DISTRIBUTION USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた膜厚分布測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a contact probe forming the contact probe having a plurality of curved parts by a simple method and with fewer manufacturing steps.例文帳に追加

湾曲部を複数有するコンタクトプローブを簡単な方法で、かつ、製造工程を少なくして形成できるコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD PROVIDED WITH CONTACT UNIT AND REPLACEMENT METHOD OF CONTACT UNIT例文帳に追加

接触子ユニットを備えるプローブカード、および、接触子ユニットの交換方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL CONTACT BETWEEN PROBE AND MICROSCOPE SAMPLE AND ITS APPARATUS例文帳に追加

プローブと顕体試料の電気的接触検出方法及びその装置 - 特許庁

To provide a resistance measuring method capable of using a thick probe.例文帳に追加

太いプローブを使用することができる抵抗測定方法を提供する。 - 特許庁

PROBE FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND APPARATUS FOR INSPECTION例文帳に追加

半導体装置の検査用プローブおよびその製造方法、検査装置 - 特許庁

PROBE COVER OF EAR THERMOMETER, AND ITS MANUFACTURING EQUIPMENT AND METHOD THEREOF例文帳に追加

耳式体温計のプローブカバー、およびその製造装置並びに製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC TREATMENT DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

超音波プローブ及び超音波処置装置、並びに、それらの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING AND CHECKING POSITION OF CONTACT OF TOUCH-PROBE TYPE MEASUREMENT MECHANISM PART例文帳に追加

タッチプローブ型測定機構部の接触子の位置補正及び確認方法 - 特許庁

To provide a ceramic substrate for a probe card and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

本発明はプローブカード用セラミック基板及びその製造方法に関する。 - 特許庁

JIG FOR WIRE PROBE, AND INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

ワイヤープローブ用治具並びにこれを用いた検査装置並びに検査方法 - 特許庁

To provide a semiconductor probe and a recording and reproducing method using the same.例文帳に追加

半導体プローブ及びこれを用いた記録再生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of recording data on a storage device using a probe technique.例文帳に追加

探針技術を利用した保存機器のデータ記録方法を提供する。 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW DETECTION APPARATUS, ITS PROBE HOLDER, AND ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

超音波探傷装置とその探触子ホルダ及び超音波探傷方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, EDDY CURRENT FLAW DETECTION DEVICE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

渦流探傷プローブ、渦流探傷装置、及び渦流探傷方法 - 特許庁

NEEDLE TRACK INSPECTING APPARATUS, PROBE APPARATUS, NEEDLE TRACK INSPECTING METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

針跡検査装置、プローブ装置、及び針跡検査方法、並びに記憶媒体 - 特許庁

PROBE AND METHOD FOR MEASURING ACTIVITY OF OXYGEN IN SLAG例文帳に追加

スラグ中酸素活量測定プローブおよびスラグ中酸素活量測定方法 - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC TRANSDUCER MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波トランスデューサ、超音波プローブおよび超音波トランスデューサの製造方法 - 特許庁

PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND ITS NEEDLE PRESSURE CORRECTION METHOD例文帳に追加

表面形状測定用触針式段差計及びその針圧補正方法 - 特許庁

CONTACT MEASURING METHOD AND DEVICE OF INSPECTION PROBE FOR WIRING BOARD INSPECTION例文帳に追加

配線基板検査用の検査プローブ接触測定方法及びその装置 - 特許庁