「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR USING MAGNETIC RESONANCE IMAGING COMPATIBLE BIOPSY DEVICE WITH DETACHABLE PROBE例文帳に追加

取り外し可能なプローブを備えたＭＲＩ適合性生検装置を用いた方法 - 特許庁

APPROACH DIRECTION SETTING METHOD FOR PROBE, SHAPE MEASURING APPARATUS PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

プローブのアプローチ方向設定方法、形状測定装置プログラム及び記憶媒体 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an ultrasonic wave probe which can manufacture the ultrasonic wave probe with high performance and reliability, by using an injection depositing method.例文帳に追加

噴射堆積法を用いて、性能及び信頼性の高い超音波用探触子を作製することができる超音波用探触子の製造方法等を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, AND METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

近接場光プローブ、この近接場光プローブの作製方法および作製装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR SEAMED SECTION OF ELECTRO-RESISTANCE-WELDED TUBE AND PROBE-TYPE EDDY-CURRENT FLAW DETECTOR例文帳に追加

電縫鋼管シーム部の非破壊検査方法とプローブ型渦流探傷装置 - 特許庁

PROBE SET FOR DETECTING PHLOGOGENIC BACTERIUM OF INFECTIOUS DISEASE, CARRIER AND METHOD FOR EXAMINING GENE例文帳に追加

感染症起炎菌検出用プローブセット及び担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR PROBE EQUIPPED WITH RESISTIVE CHIP OF LOW SECTION RATIO AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

低断面比の抵抗性チップを備えた半導体探針及びその製造方法 - 特許庁

ETCHING METHOD AND DEVICE STIMULATED BY LASER BEAM AND USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブを用いたレーザ光励起エッチング加工装置及び加工方法 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR ELECTRONIC PROBE MICROANALYSER AND MANUFACTURING METHOD OF STANDARD SAMPLE例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザー用の標準試料、および該標準試料の製造方法 - 特許庁

To provide a probe substrate quite effective in LSI inspection and a manufacturing method of the substrate.例文帳に追加

ＬＳＩ検査に極めて有効なプローブ基板とその製造方法を提供する。 - 特許庁

PROBE TYPE SHAPE MEASURING DEVICE AND METHOD, AND ROTATION-RESTRICTED AIR CYLINDER SUITABLE THEREFOR例文帳に追加

触針式形状測定装置及び方法とこれに適した回転規制エアシリンダ - 特許庁

OPTICAL TRAP PROBE NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL DETECTION METHOD例文帳に追加

光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF REMOVING ELECTRIC CHARGE IN SEMICONDUCTOR INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

半導体装置検査用プローブカードおよび半導体検査システムの除電方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

FRONT AND REAR SURFACE MEASURING PROBE, FRONT AND REAR SURFACE MEASURING INSTRUMENT, AND METHOD FOR MEASURING FRONT AND REAR SURFACE例文帳に追加

表裏面測定プローブ、表裏面測定装置および表裏面測定方法 - 特許庁

To provide a probe set, classification method and kit for gene type of HBV.例文帳に追加

ＨＢＶの遺伝子型分類のためのプローブセット、分類方法及びキットの提供 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a near-field probe with high reproducibility in a short time.例文帳に追加

近接場プローブを再現性良く短時間で製造する方法を提供する。 - 特許庁

NAVIGATION DEVICE, PROBE INFORMATION TRANSMISSION METHOD, PROGRAM, AND TRAFFIC INFORMATION CREATION DEVICE例文帳に追加

ナビゲーション装置、プローブ情報送信方法、プログラム及び交通情報作成装置 - 特許庁

TREATMENT EQUIPMENT FOR SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE FOR TEMPERATURE MEASUREMENT AND TEMPERATURE MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体ウエハの処理装置、温度測定用プロ—ブ及びその温度測定方法 - 特許庁

To provide an oligomer probe array whose SN ratio has been improved and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

ＳＮ比が向上したオリゴマープローブアレイ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION DEVICE例文帳に追加

渦電流探傷方法、渦電流探傷プローブ、及び渦電流探傷装置 - 特許庁

PROBE CARD, DC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING THIS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード、およびこれを用いた直流特性測定方法、および半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR PROBE HAVING WEDGE SHAPE RESISTIVE TIP AND METHOD OF FABRICATING THE SAME例文帳に追加

ウェッジ形状の抵抗性チップを備えた半導体探針及びその製造方法 - 特許庁

NONSPECIFIC ADSORPTION PREVENTING AGENT, PROBE-BOUND PARTICLE, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

非特異吸着防止剤ならびにプローブ結合粒子およびそれらの製造方法 - 特許庁

To provide a connection apparatus and a connection method for controlling an ultrasound probe.例文帳に追加

超音波プローブ（２５０）を制御するための接続装置および方法を提供する。 - 特許庁

MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料測定における測定条件設定方法 - 特許庁

APERTURE PROBE FOR LOCAL MEASUREMENT OF COMPLEX DIELECTRIC CONSTANT OF MATERIAL AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

材料の複素誘電率の局部的測定用の開口プローブ及び製造方法 - 特許庁

WIRING BOARD ADJUSTMENT JIG OF PROBE CARD, WIRING BOARD CORRECTION METHOD, INSPECTION METHOD USING PROBE CARD ADJUSTED BY USING WIRING BOARD ADJUSTMENT JIG AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

プローブカードの配線基板調整治具及び配線基板修正方法並びに配線基板調整治具を用いて調整されたプローブカードを用いた検査方法及び検査システム - 特許庁

METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NAT2*6 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

ＮＡＴ２＊６の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁

METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NAT2*7 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

ＮＡＴ２＊７の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁

WORKING PROBE FOR FRICTION-STIRRING JOINING AND APPARATUS AND METHOD FOR FRICTION-STIRRING JOINING例文帳に追加

摩擦攪拌接合用の加工プローブ、摩擦攪拌接合装置及び摩擦攪拌接合方法 - 特許庁

LAMINATED PIEZOELECTRIC ELEMENT, MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

積層型圧電素子、および積層型圧電素子の作製方法、並びに超音波プローブ - 特許庁

This is applied to the probe card using the probe sheet, the inspection method (manufacturing method) of the semiconductor device using the same, and the connection sheet superior in high-frequency characteristics.例文帳に追加

さらに、プローブシートを用いたプローブカードおよびそれを用いた半導体装置の検査方法（製造方法）および高周波特性に優れた接続用シートに適用する。 - 特許庁

A cooking heating process probe for use in the control method is also provided.例文帳に追加

本発明は更に、上記方法で使用可能な加熱調理プロセスプローブに関する。 - 特許庁

To provide a method for producing a labeled RNA probe including a fluorescent label and capable of providing a high S/N ratio, and further to provide a method for detecting a target nucleic acid, and a kit for producing the RNA probe.例文帳に追加

蛍光標識を含み、高いS/N比が得られる標識RNAプローブの作成方法、標的核酸の検出方法、及びRNAプローブ作成用キットの提供。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING RESISTANCE TO POWER SOURCE NOISE, AND PROBE AND SEMICONDUCTOR ELEMENT USED THEREIN例文帳に追加

電源ノイズ耐性評価方法およびそれに用いるプローブ並びに半導体素子 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING PROBE CARRIER, AND ANALYZER FOR SEQUENCES OF SEQUENCED NUCLEIC ACIDS例文帳に追加

プローブ担体の作成方法及び装置、及び配列核酸配列の解析装置 - 特許庁

The present invention provides a manufacturing method for an optical fiber probe 1 for a near-field optical microscope.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡用の光ファイバプローブ（１）の製造方法である。 - 特許庁

Further, a use method of the single-stranded antibody as a molecular imaging probe agent for cancer is provided.例文帳に追加

及び単鎖抗体によるがんの分子イメージングプローブ剤としての使用方法。 - 特許庁

PLANAR PROBE HEAD AND METHOD OF RECORDING AND REPRODUCING OPTICAL RECORDING MEDIUM USING THE HEAD例文帳に追加

平面型プローブヘッド及び該ヘッドを用いた光記録媒体の記録・再生方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING PHYSICAL PROPERTIES OF MINUTE REGION AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USED THEREIN例文帳に追加

微小領域の物性評価方法及びそれに用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION AND ULTRASONIC FLAW DETECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

超音波探傷用探触子、超音波探傷装置、及び超音波探傷方法 - 特許庁

PROBE, APPARATUS, AND METHOD FOR MICROTHERMOANALYSIS例文帳に追加

微小熱分析用プローブおよび微小熱分析装置ならびに微小熱分析方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING MUTATION OF CYP2D6 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

ＣＹＰ２Ｄ６の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁

METHOD FOR DETECTING MUTATION OF CYP2C9 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

ＣＹＰ２Ｃ９の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁