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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > probe methodに関連した英語例文

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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3948



例文

COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁

ENZYME ACTIVITY SENSING PROBE AND METHOD FOR SENSING ENZYME ACTIVITY USING THE SAME例文帳に追加

酵素活性検知用プローブおよびそれを用いる酵素活性検知方法 - 特許庁

METHOD OF PROCESSING DETECTOR HAVING PROBE MOLECULE FIXED THERETO AND AQUEOUS PROCESSING SOLUTION例文帳に追加

プローブ分子が固定された検出具の処理方法及び水性処理液 - 特許庁

METHOD OF SIMULTANEOUSLY IMAGING SODIUM/CALCIUM ACTIVITIES USING TWO-PHOTON FLUORESCENT PROBE OF MUTUALLY DIFFERENT FLUORESCENT COLORS AND PREPARATION METHOD OF TWO-PHOTON FLUORESCENT PROBE例文帳に追加

相異なる蛍光色の二光子蛍光プローブを用いてナトリウム/カルシウム活性を同時にイメージ化する方法及び二光子蛍光プローブの製造方法 - 特許庁

例文

PROBE FOR DIAGNOSIS OF MARFAN'S SYNDROME AND SCREENING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

マルファン症候群診断用プローブ、及び当該プローブを用いたスクリーニング法 - 特許庁


例文

ULTRASONIC FLAW DETECTING METHOD BY SH-WAVES AND SH- WAVE SKEW ANGLE PROBE例文帳に追加

SH波による超音波探傷方法及びSH波斜角探触子 - 特許庁

MOUNTING BAND AND METHOD FOR MOUNTING BIOSIGNAL MEASURING PROBE ON LIVING BODY例文帳に追加

装着バンド及び生体信号測定用プローブの生体への装着方法。 - 特許庁

PROBER AND ITS PROBE MAINTENANCE METHOD, PROCESS FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローバー装置及びその探針メンテナンス方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, FLAW DETECTION DEVICE FOR TURBINE BLADE AND ITS FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

超音波探触子およびタービンブレード用探傷装置とその探傷方法 - 特許庁

例文

SYSTEM AND METHOD FOR VISUALIZATION OF ULTRASOUND PROBE RELATIVE TO OBJECT例文帳に追加

対象物に対して超音波プローブを可視化するためのシステムおよび方法 - 特許庁

例文

MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

SIGNAL PROCESSING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING SYSTEM, PROBE, SIGNAL PROCESSING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

信号処理装置、信号処理システム、プローブ、信号処理方法、および、プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD THEREOF AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

POSITION DETECTION METHOD OF PROBE NEEDLE, SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

プローブ針の位置検出方法、半導体装置および半導体検査装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND MEMBRANE TYPE PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造方法およびメンブレン型のプローブ・カード - 特許庁

PRIMER SET, PROBE, ASSAY KIT, AND METHOD FOR DETECTION FOR β-ACTIN GENE例文帳に追加

βアクチン遺伝子のためのプライマーセット、プローブ、アッセイキットおよび検出方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe for a scanning probe microscope equipped with a peak part made of monolayer carbon nanotubes, its inspection method, and its usage.例文帳に追加

単層カーボンナノチューブから成る尖頭部を備えた走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法およb使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of reducing costs by accurately identifying the state of tips of probe pins arranged on a probe card and improving operation efficiency of an inspecting method.例文帳に追加

プローブカードに配設されたプローブピンの先端の状態を正確に識別し、検査方法の作業効率を向上させ、低コスト化を図る方法の提供。 - 特許庁

ULTRASONIC INSPECTION METHOD OF NOISY CAST MATERIAL AND RELATED PROBE例文帳に追加

雑音のある鋳造材料の超音波検査方法及び関連するプローブ - 特許庁

To provide a ceramic substrate for a probe card and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

本発明は、プローブカード用セラミック基板及びその製造方法に関する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR PROBE HAVING PROJECTING RESISTIVE TIP AND MANUFACTURING METHOD FOR IT例文帳に追加

凸状の抵抗性チップを備えた半導体探針およびその製造方法 - 特許庁

PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND AUTOMATIC CALIBRATION METHOD例文帳に追加

表面形状測定用触針式段差計及びその自動較正方法 - 特許庁

The probe manufacturing method further comprises a probe forming step for removing parts except the probe body on a substrate to form a probe, after the contact part is formed on a substrate to be the probe body at the contact part forming step, and at least one of the contact part and the substrate to be the probe body is shaped by the cutting tool at the shaping step.例文帳に追加

接点形成段階は、プローブ本体となる基板上に接点部を形成し、整形段階において接点部およびプローブ本体となる基板の少なくとも一方を切削工具により整形した後に、基板におけるプローブ本体以外の部分を除いてプローブを形成するプローブ形成段階を更に備える。 - 特許庁

DETECTION SURFACE, ITS MANUFACTURING METHOD AND CONTROL METHOD OF FIXING DENSITY OF PROBE SUBSTANCE例文帳に追加

検出表面と該検出表面の作製方法、並びにプローブ物質の固定密度制御方法 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TERMINAL-LABELED PROBE ARRAY, AND METHOD FOR EVALUATING TARGET MATERIAL QUANTITY USING THE SAME例文帳に追加

末端標識プローブアレイの製造方法、並びにそれを用いた標的物質量の評価方法 - 特許庁

VERY THIN COAXIAL LINE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING VERY THIN PIN PROBE USING THE SAME例文帳に追加

極細同軸線とその製造方法、ならびに、これを利用した極細ピンプローブの製造方法 - 特許庁

SPUTTERING TARGET, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND METHOD FOR MANUFACTURING ALLOY FILM AND PROBE PIN例文帳に追加

スパッタターゲット、スパッタターゲットの製造方法、合金膜の製造方法及びプローブピンの製造方法 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR COOKING HEATING PROCESS AND COOKING HEATING PROCESS PROBE FOR USE IN THAT METHOD例文帳に追加

加熱調理プロセスの制御方法およびこの方法で使用可能な加熱調理プロセスプローブ - 特許庁

CONNECTION STRUCTURE OF MINUTE PATTERN WIRING, METHOD THEREFOR, CONTACT PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

微細パターン配線の接続構造及び接続方法、並びにコンタクトプローブ及びその製造方法 - 特許庁

TWO-PHOTON FLUORESCENT PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND REAL-TIME MONITORING METHOD OF INTRACELLULAR MAGNESIUM例文帳に追加

二光子励起蛍光プローブとその製造方法及び細胞内マグネシウムのリアルタイムモニタリング方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID HAVING TARGET NUCLEOTIDE SEQUENCE, PROBE SET AND METHOD FOR IDENTIFYING NUCLEIC ACID例文帳に追加

標的ヌクレオチド配列を有する核酸の検出方法、プローブセット、及び核酸の識別方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER CASSETTE, METHOD OF SUPPLYING CANTILEVER, AND METHOD OF MANAGING STATE OF CANTILEVER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、カンチレバーカセット、カンチレバーの供給方法および状態管理方法 - 特許庁

To provide a method for producing a probe DNA used for a DNA hybridization detection method.例文帳に追加

DNAハイブリダイゼーション検出方法に使用されるプローブDNAの製造方法の提供。 - 特許庁

METHOD FOR EXAMINING DRUG-METABOLIZING CAPACITY OF CYP2C8, AND PROBE AND EXAMINATION KIT USED IN THE METHOD例文帳に追加

CYP2C8の薬物代謝能の検査方法、該方法に用いられるプローブおよび検査キット。 - 特許庁

CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC, PROBE STRUCTURE, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC例文帳に追加

電気的特性評価用接触針、プローブ構造体、プローブカード、および電気的特性評価用接触針の製造方法 - 特許庁

To realize a manufacturing method for a plane type probe having a micro opening smaller than that in a conventional plane type probe.例文帳に追加

従来の平面型プローブにおけるよりも更に小さい微小開口を持つ平面型プローブの製造方法を実現する - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE DEVICE AND OPTICAL RECORDING MEDIUM REPRODUCING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加

光ファイバプローブ、走査近接場光顕微鏡装置及び光記録媒体再生装置並びに光ファイバプローブの製造方法 - 特許庁

To provide a method for global calibration of a stereo vision probe system which can calibrate distortion errors, as well as, probe form errors.例文帳に追加

フレーム歪み誤差と並んでプローブ形状誤差をも校正できるステレオビジョンプローブシステムの包括的校正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe card, capable of highly precisely positioning a probe tip in height and plane directions.例文帳に追加

プローブ先端の高さ方向および平面方向に関して高精度に位置決め可能なプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁

This method can be used for detecting a variant, selecting a probe and intensifying the adjustment of the probe array manufacturing quality.例文帳に追加

本発明の方法は、変異体検出、プローブ選択およびプローブアレイ製造品質調節を増強するために使用され得る。 - 特許庁

To provide a calibration method of a probe for high frequency characteristic measurement capable of calibrating the probe without utilizing an expensive calibration substrate.例文帳に追加

高価な校正基板を利用せずに、プローブの校正を行うことができる高周波特性測定用プローブの校正方法。 - 特許庁

To provide a probe machining method and machine for machining a probe with a fine tip ball for providing good measuring sensitivity.例文帳に追加

測定感度が良好となる微細な先端球を有するプローブを加工するプローブ加工方法および加工機を提供する。 - 特許庁

To provide a high-strength probe unit which is highly stable in the form against changes in temperature, and to provide a method for manufacturing the probe unit.例文帳に追加

温度変化による形状安定性が高く、強度が高いプローブユニット及びプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁

PROBE FIXING CARRIER FOR DETERMINING LIVING THING SPECIES, METHOD OF MANUFACTURING IT, AND KIT FOR DETERMINING LIVING THING SPECIES CONTAINING PROBE FIXING CARRIER例文帳に追加

生物種判定用のプローブ固定担体及びその製造方法、並びに、このプローブ固定担体を含む生物種判定用のキット - 特許庁

SEMICONDUCTOR APPARATUS FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, SYSTEM FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加

プローブ針圧力不良検出用の半導体装置、プローブ針圧力不良検出システム及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

The method of forming the probe array includes forming a layer of tip material 101 over a block of probe material 102.例文帳に追加

プローブアレイを形成する方法は、プローブ材料102のブロックにわたって先端部材料101の層を形成することを含む。 - 特許庁

Also a mask used for manufacturing the oligomer probe array chip, and a hybridization analysis method using the oligomer probe array chip are provided.例文帳に追加

オリゴマープローブアレイチップの製造に使用されるマスク、オリゴマープローブアレイチップを使用したハイブリダイゼーション分析方法もまた提供される。 - 特許庁

例文

To provide a new nucleoside triphosphate derivative, a nucleic acid probe, a multilabeled nucleic acid probe capable of easily detecting a target nucleic acid in high sensitivity, a method for producing the multilabeled nucleic acid probe and a method for detecting the target nucleic acid by using the multilabeled nucleic acid probe or a nucleic acid probe.例文帳に追加

新規なヌクレオシド三リン酸誘導体、核酸プローブ、および簡便かつ高感度に標的核酸を検出することができるマルチラベル化核酸プローブ、そのマルチラベル化核酸プローブの製造方法、そのマルチラベル化核酸プローブまたは核酸プローブを用いた標的核酸の検出方法を提供する。 - 特許庁




  
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