「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER INCLUDING QUALITY ENSURING PROCESS例文帳に追加

品質保証工程を含むプローブ担体の製造装置及び製造方法 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS OPENING FORMING METHOD例文帳に追加

近接場光プローブおよび近接場光プローブの開口形成方法 - 特許庁

PROBE SET FOR DETECTION OF TARGET SUBSTANCE AND DETECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

標的物質検出用プローブセット及び標的物質検出方法 - 特許庁

PROBE CASSETTE, SEMICONDUCTOR TESTER AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカセット、半導体検査装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC WAVE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND ULTRASONIC WAVE PHOTOGRAPHING DEVICE例文帳に追加

超音波プローブおよびその製造方法並びに超音波撮影装置 - 特許庁

METHOD FOR CLEANING PROBE NEEDLE AND WAFER AND WAFER PROBER EQUIPMENT TO BE USED THEREFOR例文帳に追加

プローブ針のクリーニング方法、これに用いるウエハおよびウエハプローバ装置 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード、半導体検査装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

THIN-FILM CIRCUIT CARRYING MICRO MACHINE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND APPLICATION THEREFOR例文帳に追加

マイクロマシンプローブを搭載した薄膜回路及びその製造法と応用 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LOCAL THIN FILM ADHESION EVALUATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び局所薄膜密着性評価方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CYP2C19*3 ALLELE AND NUCLEIC ACID PROBE FOR THE SAME例文帳に追加

ＣＹＰ２Ｃ１９＊３アレルの検出法およびそのための核酸プローブ - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ITS APPLICATION例文帳に追加

シート状プローブおよびシート状プローブの製造方法ならびにその応用 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MAGNETIZING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡及び磁気力顕微鏡用探針の磁化方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

ACTUATOR CONTROL METHOD AND DEVICE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

アクチュエータ制御方法及びその装置並びに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE ASSEMBLY FOR USE IN TURBINE ENGINE AND METHOD OF ASSEMBLING THE SAME例文帳に追加

タービンエンジンで使用するプローブ組立体及びそれを組立てる方法 - 特許庁

PRIMER FOR HBV GENE REAL-TIME DETECTION PCR METHOD AND PROBE例文帳に追加

ＨＢＶ遺伝子のリアルタイム検出ＰＣＲ法用プライマーおよびプローブ - 特許庁

PACKET MEASURING SYSTEM, PACKET MEASURING PROGRAM, PROBE, AND PACKET MEASURING METHOD例文帳に追加

パケット測定システム、パケット測定プログラム、プローブおよびパケット測定方法 - 特許庁

OLIGONUCLEOTIDE PROBE FOR DETECTING BACILLUS TUBERCULOSIS, AND DETECTIVE METHOD USING THE SAME例文帳に追加

結核菌検出オリゴヌクレオチドプローブ及びそれを利用した検出方法 - 特許庁

NEW NUCLEIC ACID PROBE AND NEW METHOD FOR ASSAYING NUCLEIC ACID USING THE SAME例文帳に追加

新規核酸プローブおよびそれを用いる新規核酸測定方法 - 特許庁

HOLDER AND METHOD FOR ALIGNING PROBE FOR FILM THICKNESS MEASUREMENT例文帳に追加

膜厚測定用プローブの位置合わせ用治具及び位置合わせ方法 - 特許庁

METHOD OF FABRICATING RESISTIVE PROBE HAVING SELF-ALIGNED METAL SHIELD例文帳に追加

自己整列されたメタルシールドを備えた抵抗性探針の製造方法 - 特許庁

REUSABLE PROBE OF PULSE TYPE OXIMETER AND METHOD FOR DISPOSABLE BANDAGER例文帳に追加

再使用可能なパルス型オキシメータのプローブ及び使い捨て包帯方法 - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER例文帳に追加

超音波トランスデューサ、超音波プローブ、超音波トランスデューサの製造方法 - 特許庁

To provide a probe alignment confirmation circuit of a semiconductor device for confirming the alignment state of a probe, without additional consumption of channels, and to provide a probe alignment confirmation method.例文帳に追加

チャネルの追加的な消耗なしに、探針の整列状態を確認できる半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法を提供する。 - 特許庁

To provide an approach direction setting method for a probe which can accurately set the approach direction of a probe having a contact part protruding from one end of a probe shaft part.例文帳に追加

プローブ軸部の一端から突出する接触部を有するプローブのアプローチ方向を正確に設定できるプローブのアプローチ方向設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing RNA, in which length ranging from a probe-binding part to 5' end is uniform, forming a stable hybrid body with a probe on an a probe on an array.例文帳に追加

プローブ結合部位から５’末端までの長さが一律であり、アレイ上のプローブとより安定なハイブリッド体を形成するＲＮＡの調整方法を提供する。 - 特許庁

BEAM PLOTTER, METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING HEIGHT OF BASE MATERIAL, BEAM PLOTTING METHOD, PROBE USED THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING THE PROBE例文帳に追加

ビーム描画装置、基材の高さ測定装置、ビーム描画方法、基材の高さ測定方法、これらの装置または方法に使用するプローブ、及びこのプローブの製造方法 - 特許庁

To provide a method for designing a probe set, to provide a microarray having a substrate on which a probe designed by the method is immobilized, and to provide a computer-readable recording medium recording the method as a computer-executable program.例文帳に追加

プローブセットの設計方法、設計されたプローブが固定化されたマイクロアレイ及び該方法を実行可能なプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card and manufacturing method thereof for solving various problems incurred in the probe card including tilted vertical cantilever-shaped probe pins such as adjacent probe pins are brought into contact.例文帳に追加

隣位するプローブピン同士が接触するなど、傾斜型垂直カンチレバー形状のプローブピンを備えるプローブカードに生じていた種々の問題点を解決することができるプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.例文帳に追加

この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

To provide a method of inspecting a semiconductor chip which prevents generating a region where a probe of a probe card doesn't contact with an electrode of the semiconductor chip and reduces an inspection cost, and the probe card used for the method.例文帳に追加

プローブカードのプローブが半導体チップの電極に接触しない領域が生じるのを防ぎ、検査コストを削減する半導体チップの検査方法及びそれに用いるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe cover which enables efficient manufacturing of a probe cover hygienic with excellent use feeling and free from effect on measuring accuracy and a probe cover to be manufactured by the method.例文帳に追加

衛生的で使用感に優れ、かつ測定精度に影響しないプローブカバーを効率よく製造するプローブカバーの製造方法、およびかかる方法で製造されるプローブカバーを提供する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, MANUFACTURING METHOD FOR PROBE HAVING THE WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, PROBE HAVING THE WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, STORAGE UNIT HAVING THE PROBE, SURFACE OBSERVATION UNIT, EXPOSURE UNIT, AND MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE例文帳に追加

導波路層構造、導波路層構造を有するプローブの製造方法、該導波路層構造を有するプローブ、該プローブを有するストレージ装置、表面観察装置、露光装置、デバイス製造方法 - 特許庁

ADAPTER BOARD, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, PROBE CARD, METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

中継基板、その製造方法、プローブカード、半導体ウェハの検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

SUBSTRATE PROBE, METHOD FOR DETECTING ENZYME-ACTIVITY BY MULTI-DIMENSIONAL NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE METHOD AND ENZYME-ACTIVITY IMAGING METHOD例文帳に追加

基質プローブ、多重核磁気共鳴法による酵素活性の検出方法および酵素活性のイメージング方法 - 特許庁

METHOD FOR ASSAYING NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID PROBE THEREFOR, AND METHOD FOR ANALYZING DATA OBTAINED BY THE METHOD例文帳に追加

核酸の測定方法、それに用いる核酸プローブ及びその方法によって得られるデータを解析する方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID PROBE USED THEREFOR AND METHOD FOR ANALYZING DATA OBTAINED BY THE SAME METHOD例文帳に追加

核酸の測定方法、それに用いる核酸プローブ及びその方法によって得られるデータを解析する方法 - 特許庁

PROBE MANUFACTURING METHOD AND APPARATUS AND FAILURE INSPECTION SYSTEM USING IT例文帳に追加

プローブ作製方法および装置並びにこれをもちいた不良検査装置 - 特許庁

ULTRASONIC IMAGING APPARATUS AND METHOD FOR LEVEL ADJUSTMENT OF ARRAY PROBE USED IN THE SAME例文帳に追加

超音波映像装置およびそのアレイ探触子水平調整方法 - 特許庁

ORGANIC POLYMER PARTICLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND PROBE-BINDING PARTICLE例文帳に追加

有機ポリマー粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子 - 特許庁

NEUTRALIZED DEPTH MEASURING METHOD FOR CONCRETE STRUCTURE AND PROBE USED THEREFOR例文帳に追加

コンクリート構造物の中性化深さ測定方法およびこれに用いるプローブ - 特許庁

INSPECTION PROBE FOR ELECTROOPTICAL DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電気光学装置の検査用プローブおよびその製造方法、検査装置 - 特許庁

BIOCHEMICAL ANALYZING UNIT AND PROBE AND TARGET REACTION METHOD USING IT例文帳に追加

生化学解析用ユニット及びこれを用いたプローブとターゲットの反応方法 - 特許庁

To form a contact probe having a plurality of curved parts by a simple method.例文帳に追加

湾曲部を複数有するコンタクトプローブを簡単な方法で形成する。 - 特許庁