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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加
ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁
PHOTODEGRADABLE COMPOUND, SUBSTRATE FOR OLIGOMER PROBE ARRAY COUPLED WITH THE PHOTODEGRADABLE COMPOUND, OLIGOMER PROBE ARRAY AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加
光分解性化合物と前記化合物がカップリングしたオリゴマープローブアレイ用基板、オリゴマープローブアレイおよびその製造方法 - 特許庁
To provide a method of manufacturing an optical fiber probe, especially of an optical fiber probe detecting a Raman signal.例文帳に追加
本発明は、光ファイバー探針の製造方法に係り、特に、ラマン信号を検出する光ファイバー探針に関する。 - 特許庁
AUTOMATION OF PROBE POSITIONING AND METHOD AND DEVICE FOR DEVELOPING IMPROVED PRINTED CIRCUIT BOARD USING BEAD PROBE TECHNOLOGY例文帳に追加
プローブ位置決めの自動化およびビードプローブ技術を使用する改良されたプリント回路基板の開発方法および装置 - 特許庁
ELECTRODE TENSION TEST METHOD, DEVICE THEREFOR, SUBSTRATE /PROBE SUPPORT DEVICE THEREFOR AND ELECTRODE/PROBE BONDING DEVICE例文帳に追加
電極引張試験方法、その装置及び電極引張試験用の基板/プローブ支持装置並びに電極プローブ接合装置 - 特許庁
HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT例文帳に追加
ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁
METHOD FOR PASSING CURRENT BETWEEN SCANNED PROBE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
走査されるプローブと記憶媒体との間に電流を流すための方法 - 特許庁
SURFACE SCANNING METHOD OF MEASURING OBJECT BY OSCILLATING SCANNING PROBE例文帳に追加
振幅型走査プローブによる測定対象物の表面の走査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SUBSTRATE PRODUCT, AND PROBE FOR INSPECTION例文帳に追加
基板製品検査装置、基板製品検査方法、及び検査用プローブ - 特許庁
STRUCTURE OF OSCILLATOR ARRAY, FABRICATING METHOD, AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加
振動子アレイの構造、およびその作製方法、並びに超音波プローブ - 特許庁
METHOD FOR DETECTING MUTATION OF CYP2C19, AND NUCLEIC ACID PROBE THEREFOR例文帳に追加
CYP2C19の変異の検出法およびそのための核酸プローブ - 特許庁
HAIR REMOVAL METHOD USING LIGHT ENERGY AND PROBE OF LIGHT ENERGY HAIR REMOVER例文帳に追加
光エネルギーによる脱毛方法および光エネルギー脱毛装置のプローブ - 特許庁
CLEANING MEMBER FOR PROBE END, AND ATTACHING METHOD THEREOF例文帳に追加
プローブ先端クリーニング部材及びプローブ先端クリーニング部材の取付方法 - 特許庁
FRET PROBE, EXPRESSION VECTOR, CELL, AND METHOD FOR MEASURING FRET例文帳に追加
FRETプローブ、発現ベクター、細胞、およびFRET測定方法 - 特許庁
WAFER INSPECTING PROBE CARD, WAFER INSPECTION DEVICE, AND WAFER INSPECTION METHOD例文帳に追加
ウエハ検査用プローブカード並びにウエハ検査装置およびウエハ検査方法 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD, INSTRUMENT THEREFOR, STAGE DEVICE, AND PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
変位計測方法及びその装置、ステージ装置並びにプローブ顕微鏡 - 特許庁
PROBE FOR SURFACE ENHANCED VIBRATION SPECTROSCOPIC ANALYSIS, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法 - 特許庁
PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-A ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME例文帳に追加
HLA−Aアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁
PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-C ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME例文帳に追加
HLA−Cアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁
PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-B ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME例文帳に追加
HLA−Bアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE CHARGER, CHARGE METHOD, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS例文帳に追加
超音波プローブ充電装置、充電方法、及び、超音波診断装置 - 特許庁
To provide new cantilever feed mechanism and cantilever mounting method for scanning probe microscope.例文帳に追加
新規なカンチレバー供給機構及びカンチレバー取り付け方法を得る。 - 特許庁
RESIDUAL LIQUID DETECTION DEVICE AND METHOD, AND ULTRASONIC PROBE ATTACHMENT JIG例文帳に追加
残液検知装置及び方法並びに超音波探触子取付治具 - 特許庁
PROBE SET FOR DETECTION OF TARGET SUBSTANCE AND DETECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
標的物質検出用プローブセット及び標的物質検出方法。 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
超音波探触子、超音波探傷方法及び超音波探傷装置 - 特許庁
SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS, SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS METHOD, AND PROBE UNIT例文帳に追加
表面特性解析装置、表面特性解析方法およびプローブユニット - 特許庁
LIQUID DISCHARGE UNIT FOR PROBE ARRAY MANUFACTURING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
プローブ・アレイ作製装置用の液体吐出ユニットとその製造方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁
METHOD, APPARATUS AND PROBE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加
回路基板検査方法およびその装置ならびに回路基板検査プローブ - 特許庁
PROBE CARD AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
プローブカード、半導体ウエハの検査装置および半導体ウエハの検査方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD OF INCLINED SURFACE ERROR FOR LASER PROBE TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
レーザープローブ式形状測定器における傾斜面誤差の補正方法 - 特許庁
FREQUENCY DETECTING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
周波数検出方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
To provide a sensor for a scanning probe microscope, and its manufacturing method.例文帳に追加
走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法の提供。 - 特許庁
CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION APPARATUS FOR ELECTRIC FIELD PROBE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
電界プローブの校正方法及び校正装置、並びにコンピュータプログラム - 特許庁
PROBE, SPECIFIC MATERIAL ANALYZER, AND SPECIFIC MATERIAL ANALYSIS METHOD例文帳に追加
プローブ及び特定物質解析装置並びに特定物質解析方法 - 特許庁
EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE例文帳に追加
渦流探傷方法、渦流探傷装置及び渦流探傷プローブ - 特許庁
METHOD FOR OPTIMIZING PROBE CARD ANALYSIS AND SCRUB MARK ANALYSIS DATA例文帳に追加
プローブカード解析及びスクラブマーク解析データを最適化するための方法 - 特許庁
BREAKAGE PREVENTING MECHANISM FOR FINE SHAPE MEASURING PROBE AND METHOD OF CONTROLLING IT例文帳に追加
微細形状測定プローブの破損防止機構およびその制御方法 - 特許庁
PROBE FOR SURFACE RESISTIVITY MEASUREMENT AND SURFACE RESISTIVITY MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
表面抵抗率計測用プローブ及び表面抵抗率の計測方法 - 特許庁
PROBE SET, CLASSIFICATION METHOD AND KIT FOR GENE TYPE OF HBV例文帳に追加
HBVの遺伝子型分類のためのプローブセット、分類方法及びキット - 特許庁
INFORMATION DETECTOR HAVING SCANNING PROBE AND INFORMATION DETECTING METHOD例文帳に追加
走査型プローブを有する情報検出装置及び情報検出方法 - 特許庁
To provide a probe unit hardly causing breakage of a probe pin and an inspection object and a manufacturing method thereof, an energization inspection device, and a energization inspection method.例文帳に追加
プローブピンおよび被検査対象物が破損し難いプローブユニットおよびその製造方法、通電検査装置、通電検査方法を提供する。 - 特許庁
STYLUS TYPE SURFACE PROFILE MEASURING INSTRUMENT AND METHOD OF INSTALLING PROBE THEREOF例文帳に追加
触針式表面形状測定器及びそれの探針の取付け方法 - 特許庁
METHOD FOR EXTRACTING TARGET GENE AND PARTICLE HAVING PROBE DNA BOUND THERETO例文帳に追加
目的遺伝子の抽出方法およびプローブDNA結合粒子 - 特許庁
MEASUREMENT CURRENT VALUE DETERMINING METHOD AND FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASURING APPARATUS例文帳に追加
測定電流値決定方法及び4探針抵抗率測定装置 - 特許庁
PIEZOELECTRIC AND ITS PRODUCING METHOD AND ULTRASONIC PROBE COMPRISING IT例文帳に追加
圧電体およびその製造方法とそれを用いた超音波探触子 - 特許庁
To improve accuracy in bump position, in a method for manufacturing a contact probe.例文帳に追加
コンタクトプローブの製造方法において、バンプ位置精度を向上させる。 - 特許庁
ULTRASONIC DIAGNOSING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING OPERATION OF ULTRASONIC PROBE例文帳に追加
超音波診断装置及び超音波探触子の動作の試験方法 - 特許庁
ULTRASONIC TRANSMISSION/RECEPTION DEVICE, ULTRASONIC PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
超音波送受信デバイス,超音波探触子およびその製造方法 - 特許庁
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