「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a thermally stabilizing method of a probe card capable of controlling a probe card to a predetermined temperature in a short time by causing the probe card to directly contact to a heat source, and capable of accurately determining whether or not the probe card is thermally stabilized.例文帳に追加

プローブカードに熱源を直に接触させて短時間でプローブカードを所定の温度に調整すると共に、熱的に安定したかを正確に判断することができるプローブカードの熱的安定化方法を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing material of a probe and a polishing method of the probe capable of managing the polished state of the tip surface of the probe, and securing stable conduction between the probe and an inspection object also after being polished.例文帳に追加

プローブの先端表面の研磨状態を管理することができ、しかも研磨後にもプローブと被検査体との間に安定した導通を確保することができるプローブの研磨材及びプローブの研磨方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of adjusting the power of a probe signal so as to increase the possibility that the probe signal can be detected by system equipment by properly compensating phasing affecting the probe signal.例文帳に追加

プローブ信号に影響を及ぼすフェージングを適宜補償し、プローブ信号をシステム機器が検出できる可能性を増すためにプローブ信号のパワーを調整する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe capable of relatively easily being peeled off from a base without damaging the probe after depositing a metallic material for the probe on the base.例文帳に追加

基台上にプローブのための金属材料を堆積させた後、プローブに損傷を与えることなく、比較的容易に基台から剥離できるプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe control device of a scanning type probe microscope capable of enhancing measuring precision by eliminating rise and fall characteristic difference brought from servo followability, and to provide a probe control method.例文帳に追加

サーボ追従性からくる上り・下りの特性差を解消して計測精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an approaching method of a probe and a sample capable of certainly allowing the probe and the sample to approach each other without damaging the probe and the sample and capable of shortening the time required for approach.例文帳に追加

探針とサンプルを破損することなしに確実に近接させることが可能で、近接にかかる時間も短縮することが可能な探針とサンプルの近接方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit mounted on a probe card and its manufacturing method, as to a probe card for measuring the electrical characteristics of a semiconductor device such as an LSI chip.例文帳に追加

本発明はＬＳＩチップなどの半導体デバイスの電気的諸特性を測定するプローブカードに関し、上記プローブカードに装着されるプローブユニットと、その製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide prober equipment realizing stabilized electrical measurement by suppressing variation in the probe height of a probe card, and to provide its probe height measuring method and a process for fabricating a semiconductor device.例文帳に追加

プローブカードの探針の高さばらつきを抑制し、安定した電気的測定を実現するプローバー装置及びその探針高さ調整方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe device and an alignment method for quickly and surely detecting the position of the needle point of the probe of a probe card without erroneously recognizing it, and for shortening an alignment time.例文帳に追加

従来のアライメント方法の場合には、プローブカード１からの反射光や針先の形状の影響を受け、撮像手段２の焦点をプローブ１Ａの針先に合わせる時間が長くなる。 - 特許庁

To provide an analyzer for controlling the washing condition of a dispensing probe on the basis of the kind or the like of the contaminant adhered to the dispensing probe, and a dispensing probe washing method.例文帳に追加

分注プローブに付着する汚れの種類等に基づき分注プローブの洗浄条件を制御する分析装置および分注プローブ洗浄方法を提供すること。 - 特許庁

To shorten an approach time, concerning a control method for the distance between a probe of a scanning probe microscope and a sample surface, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡に関し、アプローチ時間を短縮することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.例文帳に追加

ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, FLOW PHENOMENON MEASUREMENT DEVICE, AND FLOW PHENOMENON MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

光ファイバプローブ、流動現象計測装置および流動現象計測方法 - 特許庁

To provide a grain-like sample observation method based on a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

PROBE SOLUTION COMPOSITION, REACTIVE CHIP USING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブ溶液組成物と、これを用いた反応性チップおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING ABNORMAL MEASUREMENT OF TOUCH SIGNAL PROBE例文帳に追加

タッチ信号プローブの測定異常検出方法及び測定異常検出装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING FLAW BY ULTRASONIC WAVES, AND PROBE UNIT FOR ULTRASONIC FLAW DETECTOR例文帳に追加

超音波探傷検査方法、及び、超音波探傷装置用探触子ユニット - 特許庁

NEAR FIELD SEMICONDUCTOR LIGHT PROBE DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

近接場半導体光プローブ装置および同プローブ装置を製造する方法 - 特許庁

INSERTION-TYPE ULTRASONIC FLAW DETECTION PROBE AND ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

内挿型超音波探傷用プローブ及びこれを用いた超音波探傷方法 - 特許庁

ELECTRIC FIELD DETECTION PROBE AND THREE-DIMENSIONAL ELECTRIC FIELD MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER, METHOD FOR MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER, AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波トランスデューサ、超音波トランスデューサの製造方法、および超音波プローブ - 特許庁

CONTACT STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CONTACT ASSEMBLY USING THIS例文帳に追加

コンタクトストラクチャ並びにその製造方法及びそれを使用したプローブコンタクトアセンブリ - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC PROBE, AND METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER例文帳に追加

超音波トランスデューサ、超音波プローブおよび超音波トランスデューサの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD DETECTION DEVICE, POSITIONING DEVICE FOR WAFER, AND POSITIONING METHOD FOR WAFER例文帳に追加

プローブカード検出装置、ウエハの位置合わせ装置及びウエハの位置合わせ方法 - 特許庁

HIGH AND LOW TEMPERATURE IC WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD HOLDER EQUIPPED WITH HEAT SHIELDING PLATE例文帳に追加

ＩＣウェハの高低温検査方法および遮熱プレート付きプローブカードホルダ。 - 特許庁

NONCONTACT-TYPE ARRAY PROBE, AND ULTRASONIC FLAW DETECTION APPARATUS AND METHOD USING SAME例文帳に追加

非接触式アレイ探触子とこれを用いた超音波探傷装置及び方法 - 特許庁

FUSION PROBE FOR CONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE, AND PROCESSING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

導電性走査型顕微鏡用融着プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁

CONTACT STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE CONTACT ASSEMBLY USING THE SAME例文帳に追加

コンタクトストラクチャ並びにその製造方法及びそれを用いたプローブコンタクトアセンブリ - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST METHOD, AND PROBE JIG USED FOR TEST例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法、及びそのテストに使用するプローブ治具 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING WAFER ON WHICH A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR DEVICE ARE FORMED例文帳に追加

プローブカード及び複数の半導体装置が形成されたウエハの試験方法 - 特許庁

MEASURING INSTRUMENT AND METHOD USING FINE PARTICULATE PROBE TRAPPED BY OPTICAL RADIATION PRESSURE例文帳に追加

光放射圧によりトラップした微粒子プローブを用いた測定装置及び方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, CANTILEVER HAVING MICROSCOPIC OPENING AND METHOD OF FORMING OPENING THEREIN例文帳に追加

光ファイバープローブおよび微小開口付カンチレバーと、それらの開口形成方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NAT2*5 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

ＮＡＴ２＊５の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DETECTION METHOD FOR p-n JUNCTION POSITION BY USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡とそれを用いたｐ−ｎ接合位置検出方法 - 特許庁

VINYL POLYMER, BLOCKING AGENT AND METHOD FOR PRODUCING PROBE-BOUND PARTICLES USING THE SAME例文帳に追加

ビニルポリマー、ブロッキング剤、およびこれを用いたプローブ結合粒子の製造方法 - 特許庁

VISIBLE CGMP PROBE AND METHOD FOR DETECTING AND DETERMINING CGMP THEREWITH例文帳に追加

ｃＧＭＰ可視化プローブ及びそれを利用したｃＧＭＰの検出・定量方法 - 特許庁

PROBE AND PRIMER AND METHOD FOR SYNTHESIZING NUCLEIC ACID FRAGMENT COMPLEMENTARY STRAND USING THE SAME例文帳に追加

プローブ及びプライマーおよびこれらを用いた核酸断片相補鎖合成法 - 特許庁

ACOUSTIC MATCHING LAYER, MANUFACTURING METHOD OF SAME, AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

音響整合層、および音響整合層の製造方法、並びに超音波プローブ - 特許庁

METHOD FOR CHECKING CONTACT POSITION OF PROBE PIN OF TFT LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ＴＦＴ液晶基板検査装置のプローブピンの接触位置確認方法 - 特許庁

FIELD PROBE, FIELD DETECTION APPARATUS, AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

磁界プローブ及び磁界検出装置並びにこれらを用いた磁界検出方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND LOCAL ELECTRIC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びこれを用いた局所的電気特性測定方法 - 特許庁

MONITORING METHOD AND MONITORING SYSTEM FOR CORROSION STATE OF PROBE FOR CATHODE PROTECTION MANAGEMENT例文帳に追加

カソード防食管理用プローブの腐食状態監視方法及び監視システム - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND ULTRASONIC MEDICAL IMAGE DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

超音波探触子、その製造方法、及び超音波医用画像診断装置 - 特許庁

PROBE FOR HAIR CELL, AND LABELLING METHOD FOR HAIR CELL USING SAME例文帳に追加

有毛細胞標識剤、及び該標識剤を用いた有毛細胞標識方法 - 特許庁

SYSTEM FOR DETECTING POSITION OF INFORMATION STORAGE DEVICE USING PROBE, AND ITS METHOD例文帳に追加

探針を利用した情報貯蔵装置の位置検出システム及びその方法 - 特許庁