「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR FIXATION OF PROBE ESPECIALLY FOR PRODUCTION OF BIOLOGICAL CHIPS例文帳に追加

特に生物学的チップの生産のためのプローブの固定化方法 - 特許庁

To provide a small high-performance probe, and its manufacturing method.例文帳に追加

小型で、高性能なプローブ、及びプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER, ITS MANUFACTURING METHOD AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波トランスデューサ及びその製造方法、並びに、超音波探触子 - 特許庁

ULTRASONOGRAPHIC DEVICE, ULTRASONIC PROBE, AND METHOD FOR PROCESSING SIGNAL例文帳に追加

超音波診断装置、超音波探触子及び信号処理方法 - 特許庁

METHOD FOR SURVEYING GENERATION SOURCE OF ELECTROMAGNETIC WAVES, AND CURRENT PROBE USED THEREFOR例文帳に追加

電磁波発生源探査方法及びそれに用いる電流プローブ - 特許庁

PROBE TIP GENERATING METHOD FOR NANOSTRUCTURE AND ITS GENERATING DEVICE例文帳に追加

ナノ構造物の探針先端生成方法及びその生成装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE FOR INTRAVASCULAR DIAGNOSIS AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

血管内診断のための超音波探触子及びその製造方法 - 特許庁

MANIPULATOR TYPE PROBE EQUIPMENT AND METHOD FOR POSITIONING PROBES PIN THEREOF例文帳に追加

マニピュレータ型プローブ装置およびそのプローブピンの位置調整方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD IN WAFER LEVEL FOR PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体素子のウェーハレベルにおける評価方法 - 特許庁

DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE CARD FOR TEST, TEST DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

試験用プローブカード、試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカード並びに半導体検査装置及び半導体検査方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING PHOSPHATIZYL INOSITOL TRIPHOSPHATE USING PX PROBE例文帳に追加

ＰＸプローブを用いたフォスファチジルイノシトール３リン酸の検出方法 - 特許庁

NEAR-FIELD PROBE USING SOI SUBSTRATE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＳＯＩ基板を用いた近接場探針及びその製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER, AND LIQUID DISCHARGE DEVICE例文帳に追加

プローブ担体の製造装置および製造方法、液体吐出装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING TARGET BASE SEQUENCE AND PROBE FOR THE DETECTION例文帳に追加

標的塩基配列を検出する方法および検出用プローブ - 特許庁

PROBE FOR DETECTING GENE VARIATION AND METHOD FOR DETECTING THE GENE VARIATION例文帳に追加

遺伝子変異検出用プローブ及び遺伝子変異検出方法 - 特許庁

MAGNETIC PARTICLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND PROBE-BOUND PARTICLE例文帳に追加

磁性粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

超音波探触子、その製造方法および超音波診断装置 - 特許庁

PROBE FOR DETECTING HAEMOPHILUS INFLUENZAE AND DETECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

ヘモフィリスインフルエンザ菌の検出用プローブおよびそれを用いた方法 - 特許庁

SINGLE PROBE MOLECULAR ELEMENT, AND MANUFACTURING METHOD OF SAME例文帳に追加

単一プローブ分子素子及び単一プローブ分子素子の製造方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁

MULTI-LIGHT PATH ARRAY TYPE FIBER, PROBE, OPTICAL HEAD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

多光路アレイ型ファイバー、プローブ、光ヘッド及びその製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF DETECTION PORTION OF OXYGEN PARTIAL PRESSURE OF RESISTANCE TYPE OXYGEN PROBE例文帳に追加

抵抗型酸素センサの酸素分圧検出部分の製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING GENE EXPRESSION AND PROBE KIT FOR ANALYZING GENE EXPRESSION例文帳に追加

遺伝子発現解析法及び遺伝子発現解析用プローブキット - 特許庁

A system and a method for synthesizing a probe on a substrate are prepared.例文帳に追加

基板上にプローブを合成するシステムおよび方法を用意する。 - 特許庁

CERAMIC PRODUCT, PROBE CARD, AND METHOD FOR PRODUCTION OF CERAMIC PRODUCT例文帳に追加

セラミック製品及びプローブカード並びにセラミック製品の製造方法 - 特許庁

UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ADJUSTING GAIN IN ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波プローブ内で利得を調節するためのシステム及び方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁

OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ELECTROLESS NICKEL PLATING LIQUID例文帳に追加

光プローブ及びその製造方法並びに無電解ニッケルめっき液 - 特許庁

FIBER OPTIC PROBE, AND METHOD FOR MEASURING WATER IN STEAM TURBINE例文帳に追加

ファイバオプチックプローブおよび水蒸気タービン中の水分の測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING SEMICONDUCTOR WAFER BY OXIDE REINFORCEMENT PROBE例文帳に追加

酸化物増強プローブによって半導体ウエハを測定する方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINATION OF HUMAN ABC TRANSPORTER, AND PROBE AND KIT THEREFOR例文帳に追加

ヒトＡＢＣトランスポーターの測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁

CHIP FOR NEEDLE, SEMICONDUCTOR WAFER HAVING THE SAME, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE APPARATUS AND INSPECTING METHOD USING THEM例文帳に追加

ニードル用チップ、ニードル用チップを備えた半導体ウエハ、プローブカード及びその製造方法、プローブ装置及びこれを用いた検査方法 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブカード用基板、半導体検査装置、およびその製造方法 - 特許庁

SURFACE ANALYSIS METHOD OF MATERIAL IN ARBITRARY SHAPE BY ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザによる任意形状試料の面分析法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SEMICONDUCTOR WAFER USING PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードを用いる半導体ウェハの測定方法および測定装置 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MEMBER例文帳に追加

異方導電性コネクターおよびその製造方法並びにプローブ部材 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法 - 特許庁

DETECTING METHOD OF ATTACHMENT POSITION DISPLACEMENT OF PROBE CARD, AND PROBER DEVICE例文帳に追加

プローブカードの取り付け位置ずれの検出方法及びプローバ装置 - 特許庁

BACKING MATERIAL, AND PRODUCTION METHOD OF BACKING MATERIAL, AND ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

バッキング材、およびバッキング材の製造方法、並びに超音波プローブ - 特許庁