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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
MANUFACTURING METHOD OF ULTRASONIC WAVE PROBE AND REAR MEMBER例文帳に追加
超音波探触子及び背面部材の製造方法 - 特許庁
DYNAMIC PRESSURE PROBE HOLDER, AND METHOD OF COLLECTING DYNAMIC PRESSURE SIGNAL例文帳に追加
動圧プローブホルダ及び動圧信号を収集する方法 - 特許庁
PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加
プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡による測定方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR PROBE AND RECORDING AND REPRODUCING METHOD例文帳に追加
半導体プローブ及びこれを用いた記録再生方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF PROBE IMMOBILIZING CARRIER HAVING FINE PATTERN例文帳に追加
微細パターンを有するプローブ固定担体の製造方法 - 特許庁
INSPECTION STAGE AND INSPECTION METHOD FOR VACUUM PROBE APPARATUS例文帳に追加
真空プローブ装置のための検査ステージと検査方法 - 特許庁
POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁
PROBE CARD ASSEMBLY AND KIT, AND METHOD FOR USING THEM例文帳に追加
プロ—ブカ—ド・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法 - 特許庁
WIRING STRUCTURE, PROBE FOR INSPECTION, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
配線構造体、検査用プローブ、およびその製造方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法 - 特許庁
DRIVING METHOD OF SECTOR PROBE AND ULTRASONIC DIAGNOSIS APPARATUS例文帳に追加
セクタープローブの駆動方法および超音波診断装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE AND ELECTRON SOURCE例文帳に追加
プローブ及び電子源の製造装置及び製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR PROBE WITH RESISTIVE CHIP例文帳に追加
抵抗性チップを備える半導体探針の製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE例文帳に追加
コンタクトプローブの製造方法およびコンタクトプローブ製造装置 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE AND DEFECT EVALUATION METHOD USING IT例文帳に追加
超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法 - 特許庁
PROBE AND METHOD FOR DETECTING BASE POLYMORPHISM例文帳に追加
塩基多型検出プローブと塩基多型検出方法 - 特許庁
NEAR-FIELD PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
近接場プローブおよび近接場プローブの製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF AIR BUBBLE WITH OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加
光ファイバープローブによる気泡計測方法及び装置 - 特許庁
ONBOARD PROBE INFORMATION COLLECTION UNIT, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
プローブ情報収集車載装置、方法及びプログラム - 特許庁
METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NUCLEIC ACID WITH NUCLEIC ACID PROBE例文帳に追加
核酸プローブを用いた核酸の変異検出方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
超音波探触子及び超音波探触子の製造方法 - 特許庁
BASE SEQUENCE FOR CONTROL PROBE AND METHOD FOR DESIGNING THE SAME例文帳に追加
コントロールブローブ用塩基配列及びその設計方法 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD FOR INSPECTING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカードおよび半導体装置の特性検査方法 - 特許庁
MATRIX TYPE ULTRASONIC WAVE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
マトリクス型の超音波探触子及びその製造方法 - 特許庁
PROBE UNIT, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND ENERGIZATION INSPECTION DEVICE例文帳に追加
プローブユニットおよびその製造方法、通電検査装置 - 特許庁
FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁
NUCLEIC ACID PROBE, AND METHOD FOR DETECTING HAPLOTYPE OF NUCLEIC ACID例文帳に追加
核酸プローブ及び核酸のハプロタイプの検出方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体集積回路の製造方法及びプローブカード - 特許庁
PROBE CARD AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
プローブカードおよび半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING ULTRASOUND PROBE例文帳に追加
超音波探触子を制御するための装置及び方法 - 特許庁
SURFACE SHAPE DATA CORRECTION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡の表面形状データ補正方法 - 特許庁
METHOD OF ESTIMATING SURFACE TEMPERATURE OF ULTRASOUND DIAGNOSTIC PROBE例文帳に追加
超音波診断用プローブの表面温度予測方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACTING ELECTRODE FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電子デバイスのプローブ接触用電極の製造方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR CLEANING THE SAME例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡及びそのプローブの洗浄方法 - 特許庁
PROBE FOR ULTRASOUND SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
超音波診断装置用プローブ及びその製造方法 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
DNA PROBE CHIP AND DNA HYBRIDIZATION CONTROL METHOD例文帳に追加
DNAプローブチップおよびDNAハイブリダイゼーション制御法 - 特許庁
PROBE CARD ASSEMBLY AND KIT, AND METHOD USING THEM例文帳に追加
プローブカード・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法 - 特許庁
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