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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > probe methodに関連した英語例文

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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3948



例文

MANUFACTURING METHOD OF ULTRASONIC WAVE PROBE AND REAR MEMBER例文帳に追加

超音波探触子及び背面部材の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND CHIP REGION SORTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたチップ領域ソート方法 - 特許庁

PROBE ASSEMBLY, DEVICE AND METHOD FOR POLISHING BAR例文帳に追加

プローブ組立体、バーの研磨装置、およびバーの研磨方法 - 特許庁

DYNAMIC PRESSURE PROBE HOLDER, AND METHOD OF COLLECTING DYNAMIC PRESSURE SIGNAL例文帳に追加

動圧プローブホルダ及び動圧信号を収集する方法 - 特許庁

例文

PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡による測定方法 - 特許庁


例文

SEMICONDUCTOR PROBE AND RECORDING AND REPRODUCING METHOD例文帳に追加

半導体プローブ及びこれを用いた記録再生方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE IMMOBILIZING CARRIER HAVING FINE PATTERN例文帳に追加

微細パターンを有するプローブ固定担体の製造方法 - 特許庁

INSPECTION STAGE AND INSPECTION METHOD FOR VACUUM PROBE APPARATUS例文帳に追加

真空プローブ装置のための検査ステージと検査方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, TESTER, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体チップの検査方法、検査装置、及びプローブカード - 特許庁

例文

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁

例文

PROBE CARD ASSEMBLY AND KIT, AND METHOD FOR USING THEM例文帳に追加

プロ—ブカ—ド・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法 - 特許庁

WIRING STRUCTURE, PROBE FOR INSPECTION, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

配線構造体、検査用プローブ、およびその製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法 - 特許庁

DRIVING METHOD OF SECTOR PROBE AND ULTRASONIC DIAGNOSIS APPARATUS例文帳に追加

セクタープローブの駆動方法および超音波診断装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE AND ELECTRON SOURCE例文帳に追加

プローブ及び電子源の製造装置及び製造方法 - 特許庁

PROBE APPARATUS FOR IP NETWORK AND TRAFFIC STATISTIC METHOD例文帳に追加

IPネットワーク用プローブ装置及びトラフィック統計方法 - 特許庁

SAMPLE BASE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台及び観察方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR PROBE WITH RESISTIVE CHIP例文帳に追加

抵抗性チップを備える半導体探針の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブの製造方法およびコンタクトプローブ製造装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND DEFECT EVALUATION METHOD USING IT例文帳に追加

超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法 - 特許庁

PROBE AND METHOD FOR DETECTING BASE POLYMORPHISM例文帳に追加

塩基多型検出プローブと塩基多型検出方法 - 特許庁

NEAR-FIELD PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

近接場プローブおよび近接場プローブの製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF AIR BUBBLE WITH OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加

光ファイバープローブによる気泡計測方法及び装置 - 特許庁

REPAIR METHOD AND REPAIR DEVICE FOR INTEGRATED PROBE CARD例文帳に追加

集積化プローブカードの修復方法及び修復装置 - 特許庁

ONBOARD PROBE INFORMATION COLLECTION UNIT, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

プローブ情報収集車載装置、方法及びプログラム - 特許庁

POS PROBE DEVICE, AND MONITORING METHOD FOR POS LINES例文帳に追加

POSプローブ装置及びPOS回線の監視方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a ceramic probe card.例文帳に追加

本発明はセラミックプローブカードの製造方法に関する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NUCLEIC ACID WITH NUCLEIC ACID PROBE例文帳に追加

核酸プローブを用いた核酸の変異検出方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

超音波探触子及び超音波探触子の製造方法 - 特許庁

PROBE AND MATERIAL EVALUATION TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

探触子及びこれを用いた材料評価試験方法 - 特許庁

BASE SEQUENCE FOR CONTROL PROBE AND METHOD FOR DESIGNING THE SAME例文帳に追加

コントロールブローブ用塩基配列及びその設計方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR INSPECTING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカードおよび半導体装置の特性検査方法 - 特許庁

MATRIX TYPE ULTRASONIC WAVE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

マトリクス型の超音波探触子及びその製造方法 - 特許庁

PROBE UNIT, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND ENERGIZATION INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブユニットおよびその製造方法、通電検査装置 - 特許庁

NANOTUBE CUTTING METHOD AND PROBE FOR SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブ切断方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁

NUCLEIC ACID PROBE, AND METHOD FOR DETECTING HAPLOTYPE OF NUCLEIC ACID例文帳に追加

核酸プローブ及び核酸のハプロタイプの検出方法 - 特許庁

METHOD OF JOINTING NANOTUBE TO SPM PROBE TIP END PART例文帳に追加

SPM探針尖端部へのナノチューブの接合方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路の製造方法及びプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波探触子を制御するための装置及び方法 - 特許庁

SURFACE SHAPE DATA CORRECTION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の表面形状データ補正方法 - 特許庁

METHOD OF ESTIMATING SURFACE TEMPERATURE OF ULTRASOUND DIAGNOSTIC PROBE例文帳に追加

超音波診断用プローブの表面温度予測方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACTING ELECTRODE FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスのプローブ接触用電極の製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR CLEANING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそのプローブの洗浄方法 - 特許庁

PROBE FOR ULTRASOUND SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

超音波診断装置用プローブ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

DNA PROBE CHIP AND DNA HYBRIDIZATION CONTROL METHOD例文帳に追加

DNAプローブチップおよびDNAハイブリダイゼーション制御法 - 特許庁

例文

PROBE CARD ASSEMBLY AND KIT, AND METHOD USING THEM例文帳に追加

プローブカード・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法 - 特許庁




  
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