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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
CONDUCTION INSPECTION PROBE CARD AND CONDUCTION INSPECTION METHOD例文帳に追加
導通検査プローブカード及び導通検査方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURE EQUIPMENT FOR PROBE CARRIER例文帳に追加
プローブ担体の製造方法および製造装置 - 特許庁
CANTILEVER TYPE PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
カンチレバー式プローブカード、およびその製造方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁
PLASMA MEASURING DEVICE AND METHOD, AND SENSOR PROBE例文帳に追加
プラズマ測定装置、測定方法及びセンサプローブ - 特許庁
CALIBRATION PROGRAM AND METHOD FOR COPYING PROBE例文帳に追加
倣いプローブの校正プログラムおよび校正方法 - 特許庁
METHOD OF ADJUSTING INCLINATION OF PROBE CARD, METHOD OF DETECTING INCLINATION OF PROBE CARD, AND PROGRAM RECORDING MEDIUM FOR RECORDING METHOD OF DETECTING INCLINATION OF PROBE CARD例文帳に追加
プローブカードの傾き調整方法、プローブカードの傾き検出方法及びプローブカードの傾き検出方法を記録したプログラム記録媒体 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
プローブカードおよび半導体チップの検査方法 - 特許庁
LIQUID DISCHARGE DEVICE USED IN MANUFACTURING PROBE CARRIER, METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARRIER, AND DEVICE OF MANUFACTURING PROBE CARRIER例文帳に追加
プローブ担体の製造に用いられる液体吐出装置、プローブ担体の製造方法、およびプローブ担体製造装置 - 特許庁
PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加
近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
To provide a probe and a probe card capable of performing stable inspection repeatedly, and a manufacturing method of the probe.例文帳に追加
安定した検査を繰り返し行うことができるプローブ、プローブカード、及びプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a processing method of probe card applicable to a probe card having a plurality of probe needles.例文帳に追加
複数のプローブニードルを備えるプローブカードに応用可能なプローブカード処理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
PROBE FOR MOLTEN METAL AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
溶融金属用プローブおよびその製作方法 - 特許庁
CONTACT PROBE STRUCTURE AND ITS METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加
コンタクトプローブ構造体およびその製造方法 - 特許庁
PROBE AND METHOD FOR DETECTION OF NUCLEIC ACID例文帳に追加
核酸を検出するためのプローブおよび方法 - 特許庁
The manufacturing method of the ceramic probe cards is disclosed.例文帳に追加
セラミックプローブカードの製造方法が開示される。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING TWO-DIMENSIONAL ARRAY ULTRASONIC PROBE例文帳に追加
二次元アレイ超音波探触子の製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ASSEMBLING CONTACT PROBE例文帳に追加
コンタクトプローブの組立方法および組立用装置 - 特許庁
OPTICAL UNIT FOR PROBE AND ITS ASSEMBLING METHOD例文帳に追加
プローブ用光学ユニット及びその組み立て方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND PROBE CONTROL METHOD例文帳に追加
荷電粒子線装置およびプローブ制御方法 - 特許庁
ARRAY TYPE ULTRASONIC PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
アレイ型超音波プローブ及びその製造方法 - 特許庁
METHOD FOR DESIGNING FLUORESCENT RESONANCE ENERGY-TRANSFER PROBE例文帳に追加
蛍光共鳴エネルギー移動プローブの設計方法 - 特許庁
CANTILEVER TYPE PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加
片持ち梁型のプローブおよびその製造方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SHEETLIKE PROBE AND ITS APPLICATION例文帳に追加
シート状プローブの製造方法およびその応用 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカードおよび半導体装置の製造方法 - 特許庁
HYBRIDIZATION DATA PROCESSING METHOD USING PROBE ARRAY例文帳に追加
プローブアレイを用いたハイブリダイゼーションデータ処理方法 - 特許庁
SHAPING TOOL FOR SMALL DIAMETER PROBE AND ITS METHOD OF USE例文帳に追加
細径プローブ用成形具及びその使用方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE SYSTEM AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡システム及び観察方法 - 特許庁
MICRO MACHINING METHOD USING A PROBE AND ITS IMPLEMENTATION EQUIPMENT例文帳に追加
プローブを用いた微細加工方法とその装置 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
超音波プローブ及び超音波プローブ製造方法 - 特許庁
PROBE FOR CONVEYING CONTACT LENS AND METHOD FOR CONVEYING CONTACT LENS例文帳に追加
コンタクトレンズの移送用プローブ及び移送方法 - 特許庁
OPTICAL PROBE INSTRUMENT AND METHOD FOR CONTROLLING BALLOON OF THE SAME例文帳に追加
光プローブ装置及びそのバルーン制御方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC HEAD SLIDER AND PROBE DEVICE例文帳に追加
磁気ヘッドスライダの製造方法及びプローブ装置 - 特許庁
CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION PROGRAM FOR PROFILING PROBE例文帳に追加
倣いプローブの校正方法および校正プログラム - 特許庁
FCD INFORMATION COLLECTING METHOD AND PROBE CAR SYSTEM例文帳に追加
FCD情報収集方法とプローブカーシステム - 特許庁
METHOD FOR PROBE CARRIER PRODUCTION AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
プローブ担体の製造方法及びそのための装置 - 特許庁
PROBER AND MEASUREMENT METHOD FOR DISPLACEMENT QUANTITY OF PROBE CARD例文帳に追加
プローバ及びプローブカードの変位量測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS USING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁
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