「sample mass」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PRETREATING DEVICE OF SAMPLE FOR MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

質量分析用試料の前処理装置 - 特許庁

SAMPLE IONIZATION EQUIPMENT AND MASS ANALYTICAL INSTRUMENT例文帳に追加

試料イオン化装置及び質量分析計 - 特許庁

SAMPLE CLEAN-UP DEVICE FOR MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析機のための試料クリーンアップ装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR MALDI MASS SPECTROMETRY, AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

ＭＡＬＤＩ質量分析用の試料ホルダおよび質量分析方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYSIS OF SAMPLE BY MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

質量分析を用いた試料の分析方法 - 特許庁

SAMPLE PLATE FOR LASER DESORPTION IONIZATION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

レーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレート - 特許庁

GASEOUS SAMPLE INTRODUCING DEVICE OF MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

質量分析装置の気体試料導入装置 - 特許庁

Here, (m) is the mass of the sample (g) under the standard state, and (m') is the absolute dry mass of the sample (g).例文帳に追加

ここで、ｍは試料の標準状態の質量（ｇ）、ｍ’は試料の絶乾質量（ｇ）である。 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR GLOW-DISCHARGE MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

グロー放電質量分析法の試料調整法 - 特許庁

METHOD FOR HOLDING SOLID SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS例文帳に追加

二次イオン質量分析の固形試料保持方法 - 特許庁

MASS ANALYSIS METHOD, AND METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR MASS ANALYSIS例文帳に追加

質量分析法、質量分析用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁

The sample block (36) is of thermal mass and is constructed of silver.例文帳に追加

サンプルブロック（３６）は、低熱質量であり、銀からなる。 - 特許庁

SECTOR-TYPE SECONDARY ION MASS ANALYZING METHOD AND SAMPLE HOLDER例文帳に追加

セクタ型二次イオン質量分析方法及び試料ホルダ - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD AND GAS CHROMATOGRAPH-MASS SPECTROMETER例文帳に追加

試料分析方法及びガスクロマトグラフ質量分析装置 - 特許庁

METHOD FOR IONIZING SAMPLE, ION SOURCE AND MASS ANALYZING DEVICE例文帳に追加

試料イオン化方法、イオン源および質量分析装置 - 特許庁

R(%)=[(m-m')/m']×100 (m: mass of a sample in a standard state (g), m': bone dry mass of a sample (g))例文帳に追加

Ｒ（％）＝［（ｍ−ｍ’）／ｍ’］×１００（ｍ：試料の標準状態の質量（ｇ）、ｍ’：試料の絶乾質量（ｇ）） - 特許庁

The sample block (36) is of low thermal mass and is constructed of silver.例文帳に追加

サンプルブロック（３６）は、低熱質量であり、銀からなる。 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, ITS SAMPLE HOLDER AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

２次イオン質量分析装置、該装置の試料ホルダ及び２次イオン質量分析方法 - 特許庁

SAMPLE TARGET USED IN MASS ANALYZING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD AND MASS ANALYZER USING SAMPLE TARGET例文帳に追加

質量分析法に用いられる試料ターゲットおよびその製造方法、並びに当該試料ターゲットを用いた質量分析装置 - 特許庁

A concentration sensor for sample is provided on the downstream side of a mass sensor.例文帳に追加

質量センサの下流側にサンプルの濃度センサを備える。 - 特許庁

MEASUREMENT SAMPLE PREPARATION METHOD FOR MALDI MASS ANALYSIS METHOD例文帳に追加

ＭＡＬＤＩ質量分析法用測定試料調製方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR MALDI, AND MASS SPECTROMETER例文帳に追加

ＭＡＬＤＩ用サンプル調製方法及び質量分析装置 - 特許庁

MASS ANALYSIS-USE MEASUREMENT SAMPLE AND PREPARING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

質量分析法用測定試料及びその調製方法 - 特許庁

LIQUID SAMPLE IONIZATION METHOD, MASS SPECTROMETRY, AND DEVICES THEREOF例文帳に追加

液体試料イオン化法、質量分析法及びそれらの装置 - 特許庁

MASS SPECTROMETRY AND DEVICE FOR ANALYZING SAMPLE IN SOLUTION例文帳に追加

溶液中のサンプルを分析する質量分析法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MASS ANALYZING SAMPLE AND MASS ANALYTIC METHOD FOR ANALYZING WATER QUALITY例文帳に追加

試料の質量分析方法および装置、並びに水質の分析を行う質量分析方法 - 特許庁

METHOD FOR LASER IONIZATION MASS SPECTROMETRY AND SAMPLE-SUPPORTING SUBSTRATE FOR USE IN LASER IONIZATION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

レーザーイオン化質量分析法及びレーザーイオン化質量分析に使用される試料支持用基板 - 特許庁

SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SECONDARY ION MASS ANALYZING METHOD例文帳に追加

二次イオン質量分析用試料及びその作製方法、並びに二次イオン質量分析方法。 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD IN LASER DESORPSION AND IONIZING MASS SPECTROMETRY AND SAMPLE PLATE USED FOR THE SAME例文帳に追加

レーザー脱離イオン化質量分析における試料作成方法とそれに用いるサンプルプレート - 特許庁

This mass spectroscope includes: an opening for introducing a sample gas 58; an ion source for generating ions of the sample gas; and a mass spectrometer for analyzing mass of the generated ions.例文帳に追加

試料ガス５８が導入される開口部と、試料ガスのイオンを生成するイオン源と、生成されたイオンを質量分析する質量分析計とを有する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

質量分析用の試料の調製装置及びその調製方法 - 特許庁

A sample plate for mass spectrometry includes the membrane filter and a substrate.例文帳に追加

前記膜フィルターと基板とを含む質量分析用サンプルプレート。 - 特許庁

ION SOURCE FOR TIME-OF-FLICHT MASS SPECTROMETER FOR GAS SAMPLE ANALYSIS例文帳に追加

ガスサンプル分析用の飛行時間型質量分析計用のイオン源 - 特許庁

As a result of this, the concentration of a sample liquid at the detection of mass by the mass sensor can be known by the concentration sensor.例文帳に追加

これにより質量センサで質量が検出された際のサンプル液の濃度を知ることができる。 - 特許庁

Then, the gas sample in the mixing chamber 14 is ionized and mass-analyzed by a mass analyzer 22.例文帳に追加

次いで、混合チャンバ１４内のサンプリングガスを質量分析計２２によりイオン化し質量分析する。 - 特許庁

To disclose a method for exhibiting the sample of a liquid sample as an object of MS analysis to a mass spectrometer.例文帳に追加

液体試料の被検体をＭＳ被検体として質量分析計に提示する方法を開示する。 - 特許庁

METHOD OF PRODUCING SAMPLE FOR MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

マトリックス支援レーザー脱離質量分析用試料の製造方法 - 特許庁

LASER DESORPSION AND IONIZING MASS SPECTROMETRY METHOD AND SAMPLE PLATE USED FOR THE SAME例文帳に追加

レーザー脱離イオン化質量分析方法とそれに用いるサンプルプレート - 特許庁

The sample and the marker are analyzed by Raman spectroscopy and mass spectroscopy.例文帳に追加

試料とマーカについて、ラマン分光分析および質量分析をする。 - 特許庁

The mass spectrometer 10 conducts analysis of a sample, by relating the connection of the sample segments A-D to the corresponding sample compound.例文帳に追加

質量分析計４０は、サンプルセグメントＡ〜Ｄの接続を、対応するサンプル化合物に関連づけることにより、サンプルの分析を行う。 - 特許庁

A high mass sample ion is removed which is generated when a sample gas is ionized by electronic ionization, or a low mass sample ion is removed when an electronic ionization experiment is carried out in the presence of the sample gas.例文帳に追加

試料ガスが電子衝突イオン化によりイオン化されるとき形成される高い質量のサンプルイオンを、あるいは試料ガスの存在下で電子衝突イオン化実験を行うとき低い質量の試料イオンを除去する。 - 特許庁

A mass spectrum of a patient as a measured sample is obtained, and a mass spectrum where a new ion other than the precursor ion of the reference sample selected from the former mass spectrum is set as a precursor ion is obtained ((g) to (k)).例文帳に追加

測定対象試料である患者のマススペクトルを得てこのマススペクトルから基準試料の前駆イオン以外の新たなイオンを前駆イオンとしてそのマススペクトルを取得する（（g）〜（k））。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR LASER DESORPTION/IONIZATION MASS SPECTROMETRY AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

レーザー脱離／イオン化質量分析用試料ホルダーおよびその製造方法 - 特許庁

PREPARATION OF STANDARD SAMPLE FOR DETERMINATION FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析のための定量用標準試料の作製方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPE AND METHOD FOR REGULATING ITS POSITION例文帳に追加

２次イオン質量分析装置用試料ホルダ及びその位置調整方法 - 特許庁