「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING THEREOF例文帳に追加

半導体メモリおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁

INTERFACE, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

インターフェース、及びそれを用いた半導体テスト装置 - 特許庁

CONNECTOR, SEMICONDUCTOR PART INSTALLATION SYSTEM, AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

コネクタ、半導体部品取付装置、及び試験装置 - 特許庁

COOLING WATER TANK FOR WATER-COOLED SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

水冷式半導体試験装置の冷却水タンク - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

SYSTEM AND CASSETTE FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップを試験するためのシステム及びカセット - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND METHOD OF PREVENTIVE MAINTENANCE THEREFOR例文帳に追加

半導体試験装置及びその予防保守方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SAME例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING DEVICE THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE AND ITS CALIBRATION METHOD例文帳に追加

半導体試験装置およびそのキャリブレーション方法 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY HAVING TESTING FUNCTION例文帳に追加

テスト機能を有する不揮発性半導体メモリ装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置および方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONTACT FAILURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TO WHICH THE SAME TESTING METHOD IS APPLIED例文帳に追加

半導体装置のコンタクト不良検査方法及びその検査方法が適用される半導体装置 - 特許庁

ADDRESS CONVERSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

アドレス変換回路および半導体メモリ試験装置 - 特許庁

PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカード - 特許庁

WAFER PROBER DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

ウエハプローバ装置及び半導体ウエハのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS AC SPECIFICATION TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのＡＣスペック検査方法 - 特許庁

VARIABLE DELAY CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路及び半導体回路試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS HAVING TIMING CALIBRATION FUNCTION例文帳に追加

タイミング校正機能を具備した半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING TOOL AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路検査治具及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR USE IN TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハ上のチップの検査に用いるプローブカードおよび半導体ウエハ上のチップの検査方法 - 特許庁

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、半導体製造方法、ならびに半導体メモリ - 特許庁

SEMICONDUCTOR SYSTEM, METHOD OF TESTING CONNECTION OF SEMICONDUCTOR SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SYSTEM例文帳に追加

半導体システム、半導体システムの接続テスト方法及び半導体システムの製造方法 - 特許庁

WAFER PROBER AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHODS AND ASSOCIATED SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

ウェハプローバ及び半導体装置の製造方法、半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法および半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置及びその方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method and a semiconductor test system where pin resources in a semiconductor testing apparatus can be efficiently used.例文帳に追加

半導体試験装置のピンリソースを効率的に使用できる半導体試験方法および半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

ELECTRIC CONTACT DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SOCKET USING IT, SEMICONDUCTOR MODULE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

電気的接触装置とそれを用いた半導体デバイスのテストソケットおよび半導体モジュールならびに半導体デバイスのテスト方法 - 特許庁

To shorten a testing period in case of testing a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体デバイスの検査を行う場合に、検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

POWER SUPPLY AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電源装置とこれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

半導体試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体の検査方法及び半導体の検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR POWER CONVERSION EQUIPMENT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体電力変換装置及びその試験方法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING PROCEDURE OF EXECUTION IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の実行手順制御方式 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加

半導体装置を試験するための装置及び方法 - 特許庁