「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND NOISE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体集積装置およびそれを用いたノイズ試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路装置および集積回路のテスト方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING AS WELL AS COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR TESTING AND PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

半導体テスト装置、半導体テスト方法、および半導体テスト処理プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

SEQUENCE CONTROL CIRCUIT, PATTERN GENERATING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

シーケンス制御回路、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造方法およびテスト方法 - 特許庁

VOLTAGE GENERATING CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

電圧発生回路および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

To enhance the reliability of electrical testing of semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の電気的検査の信頼性を向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for easy testing.例文帳に追加

容易にテストを行い得る半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置、その製造方法およびその検査方法 - 特許庁

CALIBRATION BOARD SET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

キャリブレーションボードセット、半導体試験装置およびキャリブレーション方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus with an improved electrostatic resistance.例文帳に追加

静電気耐量を高めた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

CLEANING METHOD FOR PROBE PIN, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

プローブピンのクリーニング方法及び半導体チップの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND INFORMATION STORAGE MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び情報記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

DATA TRANSFER UNIT, DATA TRANSFER METHOD, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

データ転送装置、データ転送方法および半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING BUILT-IN ANALOGUE CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および内蔵アナログ回路テスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びシステム並びに記録媒体 - 特許庁

ADDRESS PATTERN GENERATING DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

アドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置 - 特許庁

PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THEM例文帳に追加

パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加

半導体モジュールの電気的特性試験方法及びその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND TESTING METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、および強誘電体メモリ装置の試験方法 - 特許庁

PLL SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＰＬＬ半導体装置並びにその試験の方法及び装置 - 特許庁

To achieve a semiconductor testing apparatus which can absorb self-heating, produced in an IC under testing by the semiconductor test apparatus itself.例文帳に追加

試験状態のＩＣに発生する自己発熱を、試験装置自体で吸熱することができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, CONVEYER, AND TEST BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの自動試験装置、搬送装置、及びテストボード - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、その試験装置、及びその試験方法 - 特許庁

OPTIONAL WAVEFORM GENERATING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

任意波形発生装置とそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

OPTIMIZATION METHOD AND PROGRAM FOR OPTIMIZING TIMING SET OF SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置のタイミングセットの最適化方法、半導体試験装置のタイミングセットの最適化プログラム、半導体試験装置 - 特許庁

To provide a testing method for semiconductor device suitable and more efficient for testing a mass-produced semiconductor device.例文帳に追加

大量生産された半導体装置を試験するときに好適な、より効率的な半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL MOSFET RELAY DRIVING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

光ＭＯＳＦＥＴリレー駆動回路および半導体試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus that prevents the breakage of a connector.例文帳に追加

コネクタの破損を防止した半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路および製造方法並びにテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CHIP, PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, PROBE CARD AND PACKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体チップおよび半導体装置用パッケ—ジ、並びに、プロ—ブカ—ドおよびパッケ—ジのテスト方法 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法 - 特許庁

GRINDING TOOL OF CONTACT PIN FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR IC例文帳に追加

半導体ＩＣのテスト用コンタクトピンの研磨治具及び半導体ＩＣのテスト方法 - 特許庁

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

MULTIPLE LINE GRID FOR TESTING, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TEST ELEMENT FOR CHECKING PERFORMANCE OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

テスト用マルティプルライングリッド、半導体チップ、並びに、半導体チップの性能チェック用テスト素子 - 特許庁

To provide a testing system and a testing method, capable of testing a plurality of semiconductor devices stably in parallel, without causing the circuit size of the semiconductor devices to increase.例文帳に追加

半導体装置の回路規模を増大させることなく、複数の半導体装置を並行して安定に試験することが可能なテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device having a built-in testing circuit, capable of simultaneous switching noise testing, and to provide a noise testing method that uses it.例文帳に追加

同時スイッチングノイズ試験が可能な組み込みテスト回路を有する半導体集積装置およびノイズ試験方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1 in an integral manner, and a redundancy system 20 which performs redundancy operations using the result of testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing the footprint of the semiconductor testing apparatus inside a semiconductor clean area, and thereby, reducing installation cost and device testing cost and time that accompany installation.例文帳に追加

半導体クリーンエリア内の半導体試験装置の占有面積を低減して、設置コストやそれに伴うデバイスのテストコスト及びテスト時間を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To enhance the accuracy of semiconductor testing by calibration without substantially affecting the length of time required for testing.例文帳に追加

試験時間に大きな影響を与えることなく、校正により半導体試験の精度を向上させる。 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造 - 特許庁