「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

CERAMIC HEATER AND SUPPOTING PIN FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体製造・検査装置用セラミックヒータおよび支持ピン - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DELAYED FAULT TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置、及び、遅延故障試験方法 - 特許庁

TEST CORRESPONDING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テスト対応型半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE AND METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体装置及びその試験装置、並びに試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SYSTEM FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路及びその試験を行う試験システム - 特許庁

DICING SUBSTRATE FOR TEST, PROBE, AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING APPARATUS例文帳に追加

試験用個片基板、プローブ、及び半導体ウェハ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MAXIMUM DELAY TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びその最大遅延試験定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND A/D CONVERTER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路およびＡ／Ｄ変換器テスト方法 - 特許庁

VOLTAGE APPLICATION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING IT例文帳に追加

電圧印加回路およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体試験システム及びプローブの接触方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験回路およびその試験方法 - 特許庁

To shorten the testing time, reduce the size of a semiconductor and reduce the number of terminals required for testing the semiconductor.例文帳に追加

試験時間の短縮化と、半導体のサイズを低減させると共に半導体の試験に必要な端子数を削減する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路、そのテスト回路、及びテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS MAINTENANCE METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置及びその管理方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT TESTING例文帳に追加

半導体部品検査方法および半導体部品検査装置 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CHANGE POINT OF SIGNAL OUTPUTTED BY SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TIME MEASURING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスが出力する信号の変化点検出方法、半導体デバイス試験方法、半導体デバイス試験装置、時間測定装置 - 特許庁

CIRCUIT FOR GENERATING PULSE, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パルス発生回路およびパルス発生回路を用いた半導体試験装置、および半導体試験方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

To reduce testing time for testing a semiconductor integrated circuit using an actual operation frequency.例文帳に追加

実動作周波数を用いて半導体集積回路をテストする際のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁

TESTING PROBER, TESTER, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの検査用プローブ装置、半導体デバイスの検査装置および半導体デバイスの検査方法 - 特許庁

TEMPLATE TESTING METHOD, TEMPLATE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING THE TEMPLATE AND TESTING SYSTEM FOR THE TEMPLATE例文帳に追加

検査方法、テンプレート製造方法、半導体集積回路製造方法および検査システム - 特許庁

To obtain a semiconductor testing device capable of testing a system LSI in a short time.例文帳に追加

本発明は、システムＬＳＩの試験が短時間でできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING SELF-TESTING CIRCUIT, AND METHOD FOR DIAGNOSING FAULT IN THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己テスト回路内蔵の半導体集積回路およびその故障診断方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND TYPE-SWITCHING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び該装置における半導体デバイスの品種切替方法 - 特許庁

INSPECTION PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE TESTING PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

WIRING PATTERN, PATTERN FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

配線パターン、半導体装置のテスト用パターンおよび半導体装置の製造方法 - 特許庁

SHOCK-RESISTANCE TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体ウェハの耐衝撃性試験方法および半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DELAY TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、ディレイテスト回路、及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER例文帳に追加

半導体集積回路ウエハ、半導体集積回路チップ及び半導体集積回路ウエハのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING METHOD AND EQUIPMENT THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体結晶欠陥検査方法、半導体結晶欠陥検査装置、及びその半導体結晶欠陥検査装置を用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing substrate capable of detecting defective contact with a semiconductor device, without providing a circuit additionally to the semiconductor device of a testing object.例文帳に追加

試験対象の半導体装置に回路を付加することなく、当該半導体装置との接触不良を検出可能な半導体試験基板を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and a method of testing a semiconductor device reliably finding a failure caused by a measurement system before testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを試験する前に測定系起因の故障を確実に発見する半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法と半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の試験装置および試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH MIXED MEMORY AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

メモリ混載半導体集積回路装置及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING TIMING PHASE FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のタイミング位相校正方法・装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING BUILT-IN TERMINAL FOR TEST AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

試験用端子内蔵半導体装置およびその試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can reduce the testing cost, and a method of testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

試験コストを低減することが可能な半導体記憶装置および半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

CIRCUIT FOR MEASURING VOLTAGE-CURRENT CHARACTERISTICS AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

電圧電流特性測定回路および半導体試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置 - 特許庁